光譜響應(yīng)測(cè)試在多結(jié)型太陽能電池中的應(yīng)用

【摘要】：針對(duì)目前在高效率多結(jié)型硅薄膜元件結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)中各層短路電流無法測(cè)出的困難,該文探討了光譜響應(yīng)/量子效率光譜測(cè)試技術(shù)在這方面的應(yīng)用。該項(xiàng)技術(shù)使電池各層在短路電流密度上達(dá)到最佳匹配從而改進(jìn)制程,提高電池的效率。 【作者單位】： 上海市質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)技術(shù)研究院;
【關(guān)鍵詞】： 光譜響應(yīng) 量子效率 多結(jié)型硅薄膜太陽能電池 短路電流密度 電流匹配
【分類號(hào)】：TM914.4;O433.1
【正文快照】： 0引言硅晶材料價(jià)格昂貴,而硅薄膜材料用料少(硅晶片200μm,硅薄膜5μm,材料用料不到硅晶片的5%)。因此,自2006年起硅薄膜太陽能電池[1-2]吸引了許多研究人員與廠家的關(guān)注。在轉(zhuǎn)換效率上,商用非晶硅薄膜模組的極限約為7%,而多結(jié)型硅薄膜太陽能電池模組[3-4]能夠超過10%,使得

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