太陽能光譜內(nèi)薄膜光學(xué)常數(shù)的測定

【摘要】：本文討論了運用分光光度計一臺階儀與Hadley方程確定太陽能光譜范圍內(nèi)均勻薄膜復(fù)折射率n_c=n-ik的方法。提出了應(yīng)用Hadley方程測量薄膜反射率與透射率的修正。通過10個反應(yīng)濺射沉積的薄膜樣品的測定,表明對于低n與k的薄膜,修正后確定的光學(xué)常數(shù)才是準(zhǔn)確的。 【作者單位】： 清華大學(xué)
【關(guān)鍵詞】： 薄膜光學(xué)常數(shù) Hadley 玻璃基片 反射率測量 透射率T 太陽能學(xué)報 光譜 消光系數(shù) 折射率 直流反應(yīng)濺射
【正文快照】： 一、引言 光譜選擇性反射或吸收表面,通常由一個膜系組成。當(dāng)計算與優(yōu)化設(shè)計這個表面對太陽光的透射與反射等性能時,先要知道膜系中各層均勻薄膜的光學(xué)常數(shù)與太陽光波長的關(guān)系,即復(fù)折射率?！?n一i人,其中。為折射率,代為消光系數(shù)對波長的譜值。確定薄膜的光學(xué)常數(shù)方法較多,

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