甲烷濃度對CVD金剛石薄膜晶體學生長過程的影響
甲烷濃度對CVD金剛石薄膜晶體學生長過程的影響【摘要】:采用X射線衍射技術(shù)、電子背散射衍射技術(shù)和掃描電鏡分別觀察了不同甲烷濃度條件下沉積的CVD自支撐金剛石薄膜的宏觀織構(gòu)、微區(qū)晶界
【關(guān)鍵詞】: 金剛石薄膜 織構(gòu) 晶體生長 表面形貌組織
【基金】:國家自然科學基金(50372007)
【分類號】:TB383.2
【正文快照】: 1引言化學氣相沉積(CVD)金剛石薄膜具有優(yōu)越的光學、力學、電學和熱學等性能因而成為一種重要的功能材料【‘一5}.金剛石晶體的{100}和{111}面是表面能最低的晶面[el,因此金剛石薄膜晶體外表面通常由{100}和{111}面構(gòu)成l“一5].薄膜沉積過程中,金剛石晶體只沿著垂直于{100}
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甲烷濃度對CVD金剛石薄膜晶體學生長過程的影響 朱宏喜;毛衛(wèi)民;馮惠平;呂反修;Vlasov I I;Ralchenko V G;Khomich A V;
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