多晶硅鑄錠對太陽能電池EL測試邊緣陰影響的研究

【摘要】：太陽能電池的質(zhì)量決定著光伏組件的質(zhì)量以及整個光伏發(fā)電系統(tǒng)長期運行的穩(wěn)定性、可靠性。因此,提高光伏電池效率及質(zhì)量成為整個行業(yè)研究的重點,也是行業(yè)競爭力的體現(xiàn)。本文重點對光伏電池EL測試邊緣陰影與多晶硅鑄錠的關(guān)系進行研究,以便質(zhì)量控制。 【作者單位】： 英利綠色能源控股有限公司;
【關(guān)鍵詞】： 少子壽命 電池邊緣缺陷 無損測試
【分類號】：TM914.4
【正文快照】： 1 EL、PL測試對于電池、硅片微缺陷檢測EL(Electroluminescence)成像技術(shù)已經(jīng)發(fā)展成為一種無損、快捷方便的光伏器件檢驗工具。EL檢測技術(shù)提供了一種安全、有效的研究光伏器件由于內(nèi)在因素和外部影響因素導(dǎo)致電性能缺陷的方法。EL光的強度直接反映了被測試樣品中少數(shù)載流子的

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