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GD-MS法測定太陽能級(jí)多晶硅中痕量雜質(zhì)元素含量

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時(shí)間:2024-08-18 13:57:09
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GD-MS法測定太陽能級(jí)多晶硅中痕量雜質(zhì)元素含量【摘要】:采用輝光放電質(zhì)譜法(GD-MS)測定太陽能級(jí)多晶硅中B、Na、Mg、Al、K、Ca、Ti等20個(gè)痕量雜質(zhì)元素。研究了GD-

【摘要】:采用輝光放電質(zhì)譜法(GD-MS)測定太陽能級(jí)多晶硅中B、Na、Mg、Al、K、Ca、Ti等20個(gè)痕量雜質(zhì)元素。研究了GD-MS測定多晶硅的預(yù)濺射時(shí)間,優(yōu)化和選擇了儀器的工作參數(shù)、分辨率和用于分析的待測元素同位素。并將分析結(jié)果與電感耦合等離子體質(zhì)譜法(ICP-MS)的分析結(jié)果進(jìn)行對照以驗(yàn)證GD-MS無標(biāo)分析的準(zhǔn)確程度。實(shí)驗(yàn)結(jié)果表明,GD-MS法對B、Na、Mg、Al、K、Ca、Ti等元素測定結(jié)果的相對標(biāo)準(zhǔn)偏差(RSD)都小于25%,二者測定結(jié)果基本一致。 【作者單位】: 昆明冶金研究院;
【關(guān)鍵詞】太陽能級(jí)多晶硅 輝光放電質(zhì)譜法 準(zhǔn)確度 精密度
【分類號(hào)】:O657.63;TQ127.2
【正文快照】: 太陽能級(jí)多晶硅是重要的半導(dǎo)體材料,廣泛用于光伏、電子行業(yè)[1]。對多晶硅的整個(gè)生產(chǎn)制備流程和其產(chǎn)品應(yīng)用性能來說,掌握多晶硅中微量元素的實(shí)際含量是非常重要的,對是否能生產(chǎn)出合格的、性能穩(wěn)定的產(chǎn)品是至關(guān)重要的,多晶硅中微量元素對多晶硅的品質(zhì)起決定性的作用[2]。電感耦

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