基于SDD與DPP的X熒光分析及其在光伏硅雜質元素分析中的應用

【摘要】：采用硅漂移探測器(SDD)和DPP數字脈沖處理器(DPP)相結合,以及雙靶X光管激發(fā)系統的X熒光分析方法,測定了光伏硅中雜質元素的含量,并采用不同含量的國家標準物質元素,對其最低檢測限、精密度、準確度、穩(wěn)定性等進行了實驗,以檢驗所研制設備及所建立方法的可行性和實用性。研究結果表明,運用該設備及方法所測得的數據,可滿足歐盟ARTIST計劃和美國太陽能工業(yè)協會對光伏硅中雜質元素的限制要求。 【作者單位】： 煙臺大學;電子科技大學;中科院近代物理研究所;
【關鍵詞】： X熒光分析 SDD硅漂移探測器 DPP數字脈沖處理器 光伏硅 雜質 元素分析
【分類號】：TN304.12
【正文快照】： 光伏產業(yè)是綠色產業(yè)的重要部分。光伏電池中多晶硅電池占據了主導地位。而光伏硅中往往含有一定雜質。據分析,光伏硅中的雜質主要有硼、磷、砷、硫等非金屬元素和鋁、鈣、鈦、釩、鉻、錳、鐵、鈷、鎳、銅等金屬元素。雜質元素對光伏硅電池的性能具有重要影響:(1)可改變硅片的

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