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攝像式引伸計(jì)及太陽(yáng)能面板質(zhì)量檢測(cè)關(guān)鍵問題研究

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時(shí)間:2024-08-19 00:28:25
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攝像式引伸計(jì)及太陽(yáng)能面板質(zhì)量檢測(cè)關(guān)鍵問題研究【摘要】:計(jì)算機(jī)技術(shù)的高速發(fā)展及各種高分辨率影像設(shè)備的出現(xiàn),為機(jī)器視覺技術(shù)在工業(yè)自動(dòng)化,在線檢測(cè)和精密測(cè)量等領(lǐng)域的應(yīng)用提供了軟硬件的基礎(chǔ)

【摘要】: 計(jì)算機(jī)技術(shù)的高速發(fā)展及各種高分辨率影像設(shè)備的出現(xiàn),為機(jī)器視覺技術(shù)在工業(yè)自動(dòng)化,在線檢測(cè)和精密測(cè)量等領(lǐng)域的應(yīng)用提供了軟硬件的基礎(chǔ)。 機(jī)器視覺的應(yīng)用比較廣泛,在工業(yè)應(yīng)用上主要體現(xiàn)在非接觸測(cè)量和表面檢測(cè)兩方面。 本文首先闡述了一個(gè)機(jī)器視覺非接觸測(cè)量的實(shí)例,即材料試驗(yàn)機(jī)的設(shè)計(jì)與實(shí)現(xiàn)。文中論述了非接觸測(cè)量的大體步驟以及儀器、照明設(shè)備和算法的選擇,最后對(duì)使用各種算法得到的數(shù)據(jù)的進(jìn)行比較,得到最后結(jié)果,達(dá)到了預(yù)期的目標(biāo)。 接下來論述了機(jī)器視覺在太陽(yáng)能面板檢測(cè)中的應(yīng)用。詳細(xì)論述了通過面陣CCD來檢測(cè)太陽(yáng)能電池板表面裂紋的過程及各環(huán)節(jié)的算法選擇以及改進(jìn),最后給出了流程圖和運(yùn)行結(jié)果。 軟件都是基于VC++6.0平臺(tái)開發(fā),運(yùn)行結(jié)果比較令人滿意,達(dá)到了預(yù)期的目的。 【關(guān)鍵詞】:機(jī)器視覺 直線擬合 CCD Hough變換 非接觸測(cè)量
【學(xué)位授予單位】:吉林大學(xué)
【學(xué)位級(jí)別】:碩士
【學(xué)位授予年份】:2007
【分類號(hào)】:TP274.4
【目錄】:
  • 提要4-7
  • 第一章 緒論7-11
  • 1.1 引言7-8
  • 1.2 基于機(jī)器視覺的應(yīng)用發(fā)展現(xiàn)狀8
  • 1.3 本文選題的意義8-9
  • 1.4 本文的主要內(nèi)容和結(jié)構(gòu)安排9-11
  • 第二章 基于機(jī)器視覺應(yīng)用的系統(tǒng)構(gòu)成11-20
  • 2.1 機(jī)器視覺的概念11-15
  • 2.1.1 機(jī)器視覺的系統(tǒng)構(gòu)成13
  • 2.1.2 機(jī)器視覺與CCD 的關(guān)系13-15
  • 2.2 CCD 的相關(guān)介紹介紹15-16
  • 2.2.1 CCD 的發(fā)展15-16
  • 2.2.2 CCD 的工作原理16
  • 2.3 光源選擇16-18
  • 2.4 圖像采集卡18-20
  • 第三章 機(jī)器視覺在非接觸測(cè)量中的應(yīng)用20-39
  • 3.1 研發(fā)非接觸測(cè)量?jī)x器的意義20-23
  • 3.1.1 材料試驗(yàn)機(jī)的研制背景20-22
  • 3.1.2 總體設(shè)計(jì)要求22-23
  • 3.2 測(cè)量原理及器材選擇23-27
  • 3.2.1 材料試驗(yàn)機(jī)測(cè)量原理23-25
  • 3.2.2 材料試驗(yàn)機(jī)器材選擇25-27
  • 3.3 線陣CCD 輸出信號(hào)的采集、獲取27-30
  • 3.4 邊緣檢測(cè)常用的算法30-34
  • 3.4.1 概率法30-31
  • 3.4.2 插值法31-32
  • 3.4.3 空間擬合函數(shù)法32-34
  • 3.5 運(yùn)行效果及精度分析34-39
  • 3.5.1 程序流程圖及運(yùn)行效果34-35
  • 3.5.2 數(shù)據(jù)處理及精度分析35-39
  • 第四章 機(jī)器視覺在表面檢測(cè)的應(yīng)用39-56
  • 4.1 利用機(jī)器視覺進(jìn)行面板檢測(cè)的意義39-40
  • 4.1.1 利用機(jī)器視覺進(jìn)行表面檢測(cè)的背景39
  • 4.1.2 太陽(yáng)能面板檢測(cè)的總體設(shè)計(jì)39-40
  • 4.2 可行性分析40-42
  • 4.3 去除噪聲42-45
  • 4.4 白色條紋的處理45-53
  • 4.4.1 直線擬合方法45-48
  • 4.4.2 Hough 變換檢測(cè)直線48-53
  • 4.5 處理流程及運(yùn)行結(jié)果53-55
  • 4.6 遺留問題55-56
  • 第五章 總結(jié)與展望56-57
  • 參考文獻(xiàn)57-59
  • 摘要59-62
  • Abstract62-65
  • 致謝65-66
  • 導(dǎo)師及作者簡(jiǎn)介66


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