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多晶硅太陽(yáng)能電池預(yù)處理及退火工藝研究

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多晶硅太陽(yáng)能電池預(yù)處理及退火工藝研究【摘要】:¨前太陽(yáng)能電池行業(yè)多用管式PECVD法沉積氮化硅減反射鈍化膜,然而管式設(shè)備對(duì)于實(shí)現(xiàn)薄膜沉積的均勻性有一定的局限,其原因在于反應(yīng)腔室內(nèi)部

【摘要】:¨前太陽(yáng)能電池行業(yè)多用管式PECVD法沉積氮化硅減反射鈍化膜,然而管式設(shè)備對(duì)于實(shí)現(xiàn)薄膜沉積的均勻性有一定的局限,其原因在于反應(yīng)腔室內(nèi)部反應(yīng)氣體分布不均勻。這會(huì)對(duì)薄膜的表觀(guān)質(zhì)量造成很大的影響,形成色差片。不斷出現(xiàn)返工片,將會(huì)阻礙產(chǎn)品生產(chǎn)效率的提高。 本論文通過(guò)大量的產(chǎn)線(xiàn)實(shí)驗(yàn)發(fā)現(xiàn),通過(guò)總的氣體流量、反應(yīng)時(shí)腔室壓強(qiáng)以及射頻功率的調(diào)節(jié),會(huì)對(duì)成膜的均勻性有很大幫助。研究表明,對(duì)于管徑380mm,.管長(zhǎng)2075mm的常用反應(yīng)腔室,氣體總流量在5000sccm,反應(yīng)時(shí)腔室內(nèi)壓強(qiáng)在220pa,射頻功率4500w左右時(shí),僅就成膜的均勻性來(lái)講是最佳的,幾乎沒(méi)有返工片,而且也不會(huì)對(duì)薄膜的其它參量造成很大的影響。研究還發(fā)現(xiàn),除了以上三個(gè)工藝參量能較大的影響薄膜的表觀(guān)質(zhì)量外,石墨舟的間距大小,也會(huì)對(duì)薄膜均勻性造成影響,對(duì)比發(fā)現(xiàn)13mm間距石墨舟的成膜質(zhì)量要明顯優(yōu)于11mm間距石墨舟。 另外,鈍化工藝在晶體硅太陽(yáng)電池上的應(yīng)用已經(jīng)十分廣泛。我們?cè)诔练e氮化硅薄膜之前采用氨氣電離出氫等離子體,先對(duì)硅片進(jìn)行氫等離子體預(yù)處理,通過(guò)數(shù)值分析和實(shí)驗(yàn)的方法分別研究了預(yù)處理時(shí)間,功率,溫度,壓力各參數(shù)對(duì)鈍化效果以及電學(xué)性能的影響。在預(yù)處理溫度450℃,時(shí)間200s,射頻功率4000w,氣體壓強(qiáng)200Pa,氨氣流量為4000sccm時(shí),表現(xiàn)出短路電流提高較為明顯。然后采用等離子體增強(qiáng)型的化學(xué)氣象沉積(PECVD)法,在電池表面鍍上一層氮化硅膜,實(shí)驗(yàn)證實(shí)氫等離子體會(huì)透過(guò)氮化硅膜進(jìn)入到硅基體內(nèi),具體表現(xiàn)為少子壽命提高7μs左右。之后的低溫退火實(shí)驗(yàn)表明,430-440℃左右為最優(yōu)溫度,隨著時(shí)間的增加,短路電流會(huì)有明顯提升,光電轉(zhuǎn)換效率也有提高。 【關(guān)鍵詞】:PECVD 氮化硅薄膜 晶體硅太陽(yáng)能電池 氫鈍化 少數(shù)載流子壽命 退火
【學(xué)位授予單位】:北京交通大學(xué)
【學(xué)位級(jí)別】:碩士
【學(xué)位授予年份】:2012
【分類(lèi)號(hào)】:TM914.4
【目錄】:
  • 致謝5-6
  • 中文摘要6-7
  • ABSTRACT7-8
  • 8-9
  • 目錄9-11
  • 1 引言11-19
  • 1.1 能源危機(jī)和環(huán)境污染11
  • 1.2 太陽(yáng)能光伏發(fā)電的研究和應(yīng)用歷史11-13
  • 1.3 太陽(yáng)能電池的研究和發(fā)展13-18
  • 1.3.1 單晶硅太陽(yáng)能電池13-14
  • 1.3.2 多晶硅太陽(yáng)能電池14-15
  • 1.3.3 非晶硅薄膜太陽(yáng)能電池15
  • 1.3.4 化合物半導(dǎo)體太陽(yáng)能電池15-18
  • 1.4 本篇論文主要研究?jī)?nèi)容18-19
  • 2 晶體硅太陽(yáng)能電池的基本原理19-53
  • 2.1 太陽(yáng)能光電轉(zhuǎn)換原理19-23
  • 2.1.1 半導(dǎo)體材料的光吸收19
  • 2.1.2 光生伏特效應(yīng)19-20
  • 2.1.3 太陽(yáng)能發(fā)電的優(yōu)點(diǎn)20
  • 2.1.4 太陽(yáng)能電池的特性20-23
  • 2.2 晶體硅太陽(yáng)能電池制備工藝23-53
  • 2.2.1 制絨24-30
  • 2.2.2 擴(kuò)散-pn結(jié)制備30-35
  • 2.2.3 刻蝕35-37
  • 2.2.4 去磷硅玻璃37-39
  • 2.2.5 制備減反射鈍化膜39-44
  • 2.2.6 絲網(wǎng)印刷44-48
  • 2.2.7 燒結(jié)48-50
  • 2.2.8 測(cè)試分選50-53
  • 3 PECVD鍍膜工藝中影響成膜質(zhì)量的幾個(gè)關(guān)鍵因素53-71
  • 3.1 PECVD設(shè)備53-56
  • 3.1.1 管式PECVD設(shè)備53-54
  • 3.1.2 板式PECVD設(shè)備54-55
  • 3.1.3 管式PECVD設(shè)備的主要性能參數(shù)以及結(jié)構(gòu)組成55-56
  • 3.2 石墨舟設(shè)備56-57
  • 3.3 測(cè)試設(shè)備57-61
  • 3.3.1 橢偏儀58-59
  • 3.3.2 D8反射儀59-60
  • 3.3.3 WT-2000少子壽命測(cè)試儀60-61
  • 3.4 管式PECVD總氣體流量、壓強(qiáng)、射頻功率對(duì)成膜質(zhì)量的影響61-67
  • 3.4.1 反應(yīng)腔室內(nèi)氣體的運(yùn)動(dòng)61-62
  • 3.4.2 實(shí)驗(yàn)方法及實(shí)驗(yàn)結(jié)果分析62-67
  • 3.5 石墨舟間距對(duì)成膜均勻性的影響67-70
  • 3.6 本章總結(jié)70-71
  • 4 多晶硅太陽(yáng)能電池氫等離子體預(yù)處理及退火工藝研究71-85
  • 4.1 鈍化機(jī)理介紹71-75
  • 4.1.1 半導(dǎo)體內(nèi)的復(fù)合機(jī)制71-72
  • 4.1.2 鈍化機(jī)理72-73
  • 4.1.3 幾種鈍化技術(shù)簡(jiǎn)介73-75
  • 4.2 氫等離子體預(yù)處理對(duì)多晶硅電池電性能以及少子壽命的影響75-81
  • 4.2.1 預(yù)處理時(shí)間對(duì)電池電性能以及少子壽命的影響76-77
  • 4.2.2 預(yù)處理功率對(duì)電池電性能以及少子壽命的影響77-78
  • 4.2.3 預(yù)處理溫度對(duì)電池電性能以及少子壽命的影響78-79
  • 4.2.4 預(yù)處理壓強(qiáng)對(duì)電池電性能以及少子壽命的影響79-81
  • 4.3 退火工藝對(duì)氮化硅膜鈍化效果、電池電性能以及效率的影響81-83
  • 4.3.1 最佳氫鈍化方式的研究81-82
  • 4.3.2 退火工藝對(duì)少子壽命和電學(xué)性能的影響82-83
  • 4.4 本章總結(jié)83-85
  • 5 總結(jié)85-87
  • 參考文獻(xiàn)87-89
  • 作者簡(jiǎn)歷89-93
  • 學(xué)位論文數(shù)據(jù)集93


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