同軸水電極介質(zhì)阻擋放電等離子體參數(shù)研究

【摘要】： 本工作利用同軸電極介質(zhì)阻擋放電裝置,采用發(fā)射光譜以及電學(xué)方法對(duì)氬氣、氬氣/水蒸汽放電系統(tǒng)中等離子體參數(shù)進(jìn)行了診斷。測(cè)量了放電時(shí)刻的電子溫度、電子密度、氣隙電壓、放電功率等參量。 在氬氣/水蒸汽放電系統(tǒng)中,利用H。(656.27nm)和ArI(696.54nm)譜線的Stark展寬計(jì)算了同軸電極介質(zhì)阻擋放電的電子密度,結(jié)果相差不大,從而證明了利用氬原子ArI(696.54nm)譜線計(jì)算電子密度的方法在介質(zhì)阻擋放電系統(tǒng)中的可行性。 研究了水蒸氣對(duì)介質(zhì)阻擋放電特性的影響。當(dāng)向反應(yīng)發(fā)生器中通入少量水蒸氣時(shí),擊穿電壓明顯升高,并且放電電流略有增加；離子與原子譜線強(qiáng)度明顯增強(qiáng),電子激發(fā)溫度高；放電功率也有顯著增加。 利用譜線的相對(duì)強(qiáng)度比,研究了電場(chǎng)強(qiáng)度在放電空間的徑向分布,結(jié)果表明：電場(chǎng)強(qiáng)度由陰極向陽(yáng)極逐漸降低,但當(dāng)內(nèi)電極做陽(yáng)極時(shí),在其附近,電場(chǎng)強(qiáng)度仍較高。 另外本工作還使用雙水電極介質(zhì)阻擋放電裝置,通過(guò)對(duì)低氣壓空氣介質(zhì)阻擋放電中白眼斑圖的點(diǎn)和背景進(jìn)行光譜診斷,測(cè)量了電子密度和分子振動(dòng)溫度。結(jié)果表明：點(diǎn)和背景都屬于微放電模式。 【關(guān)鍵詞】：同軸介質(zhì)阻擋放電 電子密度 電子溫度
【學(xué)位授予單位】：河北大學(xué)
【學(xué)位級(jí)別】：碩士
【學(xué)位授予年份】：2008
【分類號(hào)】：O531
【目錄】：

• 摘要5-6
• Abstract6-9
• 第1章 引言9-12
• 第2章 介質(zhì)阻擋放電基本原理12-14
• 第3章 實(shí)驗(yàn)裝置與實(shí)驗(yàn)方法14-24
• 3.1 實(shí)驗(yàn)裝置14
• 3.2 實(shí)驗(yàn)方法14-24
• 3.2.1 電子激發(fā)溫度15-16
• 3.2.2 電子密度16-21
• 3.2.3 分子振動(dòng)溫度21-22
• 3.2.4 介質(zhì)阻擋放電中放電功率的計(jì)算方法22-24
• 第4章 同軸電極介質(zhì)阻擋放電中電子溫度、電子密度診斷24-29
• 4.1 大氣壓Ar/H_2O介質(zhì)阻擋放電發(fā)射光譜24-25
• 4.2 大氣壓Ar/H_2O介質(zhì)阻擋放電電子激發(fā)溫度25-27
• 4.3 大氣壓Ar/H_2O介質(zhì)阻擋放電電子密度27-29
• 第5章 水蒸氣對(duì)介質(zhì)阻擋放電特性的影響29-36
• 5.1 大氣壓Ar和Ar/H_2O介質(zhì)阻擋放電中電流波形與光譜29-31
• 5.2 大氣壓Ar和Ar/H_2O介質(zhì)阻擋放電中電子激發(fā)溫度31-32
• 5.3 大氣壓Ar和Ar/H_2O介質(zhì)阻擋放電中的放電功率32-36
• 第6章 同軸電極介質(zhì)阻擋放電中電場(chǎng)的徑向分布36-43
• 6.1 同軸電極介質(zhì)阻擋放電裝置與試驗(yàn)方法36-37
• 6.2 同軸介質(zhì)阻擋放電中電場(chǎng)的不均勻性37
• 6.3 光譜法研究同軸電極介質(zhì)阻擋放電中電場(chǎng)的徑向分布37-39
• 6.4 同軸電極介質(zhì)阻擋放電中半周期內(nèi)電場(chǎng)徑向分布的研究39-43
• 第7章 介質(zhì)阻擋放電中白眼斑圖的光譜診斷43-47
• 7.1 白眼斑圖分子振動(dòng)溫度光譜診斷44-45
• 7.2 白眼斑圖的電子密度光譜診斷45-47
• 第8章 結(jié)論47-48
• 參考文獻(xiàn)48-52
• 致謝52-53

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