輝光放電質(zhì)譜分析用太陽(yáng)能級(jí)多晶硅標(biāo)準(zhǔn)樣品的研制
輝光放電質(zhì)譜分析用太陽(yáng)能級(jí)多晶硅標(biāo)準(zhǔn)樣品的研制【摘要】:太陽(yáng)能級(jí)多晶硅作為太陽(yáng)能電池的基礎(chǔ)材料,主要含有施主雜質(zhì)P,As,Sb,Bi和受主雜質(zhì)B,Al,Ga,In,Tl還有C,O,
【學(xué)位授予單位】:北京有色金屬研究總院
【學(xué)位級(jí)別】:碩士
【學(xué)位授予年份】:2013
【分類號(hào)】:TM914.4
【目錄】:
- 摘要5-6
- Abstract6-10
- 1 文獻(xiàn)綜述10-29
- 1.1 引言10-11
- 1.2 太陽(yáng)能級(jí)多晶硅的分析檢測(cè)方法11-22
- 1.2.1 電感耦合等離子體質(zhì)譜法(ICP-MS)11-13
- 1.2.2 二次離子質(zhì)譜法13-16
- 1.2.3 激光電離質(zhì)譜法(LIMS)16-17
- 1.2.4 輝光放電質(zhì)譜(GDMS)法17-22
- 1.3 太陽(yáng)能級(jí)多晶硅的標(biāo)準(zhǔn)22-28
- 1.3.1 國(guó)外太陽(yáng)能級(jí)多晶硅的規(guī)格23-26
- 1.3.2 國(guó)內(nèi)太陽(yáng)能級(jí)多晶硅的發(fā)展及標(biāo)準(zhǔn)制定26-28
- 1.4 文獻(xiàn)小結(jié)28-29
- 2 太陽(yáng)能級(jí)多晶硅標(biāo)準(zhǔn)樣品的研制29-69
- 2.1 成分設(shè)計(jì)29
- 2.2 選料29-31
- 2.3 標(biāo)準(zhǔn)樣品的制備31-34
- 2.4 輝光放電質(zhì)譜測(cè)定太陽(yáng)能級(jí)多晶硅的方法研究及應(yīng)用于標(biāo)準(zhǔn)樣品的均勻性檢驗(yàn)34-63
- 2.4.1 實(shí)驗(yàn)儀器及試劑34
- 2.4.2 制樣過(guò)程34-35
- 2.4.3 樣品的預(yù)處理35
- 2.4.4 工作參數(shù)的選擇35-47
- 2.4.5 各元素同位素、干擾情況及GDMS分辨率的選擇47-50
- 2.4.6 樣品的測(cè)試過(guò)程50-51
- 2.4.7 實(shí)驗(yàn)結(jié)果51-52
- 2.4.8 GDMS法對(duì)太陽(yáng)能級(jí)多晶硅樣品均勻性初檢的實(shí)驗(yàn)設(shè)計(jì)52-53
- 2.4.9 均勻性檢驗(yàn)的實(shí)驗(yàn)結(jié)果53-57
- 2.4.10 均勻性復(fù)檢的實(shí)驗(yàn)結(jié)果57-63
- 2.5 定值63
- 2.6 電感耦合等離子體質(zhì)譜法對(duì)太陽(yáng)能級(jí)多晶硅中雜質(zhì)的測(cè)定63-69
- 2.6.1 主要儀器和試劑63-64
- 2.6.2 實(shí)驗(yàn)方法64-65
- 2.6.3 工作參數(shù)的選擇65-66
- 2.6.4 實(shí)驗(yàn)結(jié)果及討論66-68
- 2.6.5 實(shí)驗(yàn)小結(jié)68-69
- 結(jié)論69-70
- 參考文獻(xiàn)70-78
- 攻讀碩士學(xué)位期間取得的學(xué)術(shù)成果78-79
- 致謝79
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