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銅銦硒太陽能電池緩沖層及窗口層的制備

來源:論文學(xué)術(shù)網(wǎng)
時間:2024-08-18 21:43:18
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銅銦硒太陽能電池緩沖層及窗口層的制備【摘要】:進入21世紀首先最為關(guān)注的就是能源與環(huán)境的問題,全球能源的不斷消耗和環(huán)境的日益污染,使得人們都極力尋找一種新型材料以減少對環(huán)境造成的污

【摘要】:進入21世紀首先最為關(guān)注的就是能源與環(huán)境的問題,全球能源的不斷消耗和環(huán)境的日益污染,使得人們都極力尋找一種新型材料以減少對環(huán)境造成的污染,因此太陽能電池這一清潔能源受到了人們的高度關(guān)注,銅銦硒(CIS)太陽能電池具有不可替代的優(yōu)點被廣泛認可。ZnS由于穩(wěn)定性好、無毒無害,藍光響應(yīng)速度快,與CdS相比有極大的優(yōu)越性,被用于CIS電池的緩沖層;ZnO薄膜禁帶寬度大、易于摻雜,在可見光范圍透過率大用于CIS太陽能電池的窗口層。兩種薄膜的制備方法有很多,其中電沉積法工藝簡單,有較高的生產(chǎn)率,而且成本低廉,適合大面積沉積,引起高度重視。 本論文采用電沉積法制備ZnO和ZnS薄膜。首先對導(dǎo)電玻璃(FTO)基體進行前處理,然后配制電解液,ZnO選擇硝酸鋅與硝酸鈉的混合液作為電解液,ZnS選擇硫酸鋅、硫代硫酸鈉及檸檬酸鈉的混合液作為電解液。在此基礎(chǔ)上分別沉積兩種薄膜,通過正交試驗對ZnO薄膜的制備工藝條件進行了優(yōu)化,通過單因素實驗對ZnS薄膜的制備工藝條件進行了優(yōu)化,最終得到了制備兩種薄膜的最佳工藝條件。 在實驗中,采用線性掃描伏安曲線測試探究ZnO薄膜的反應(yīng)機理;采用X射線衍射(XRD)對ZnO和ZnS薄膜結(jié)構(gòu)進行定性分析;采用冷熱探針實驗對ZnO及ZnS薄膜半導(dǎo)體類型進行分析;采用掃描電子顯微鏡(SEM)和原子力顯微鏡(AFM)對ZnO及ZnS薄膜的表面形貌進行分析;采用能譜分析(EDS)及X射線光電子光譜(XPS)對薄膜的表面元素含量及成分進行了分析;采用紫外-可見分光光度計對兩種薄膜的光學(xué)透過率進行測試。測試結(jié)果表明,Zn2+濃度越大,ZnO薄膜的沉積速率就越快;所制備的兩種薄膜均為六方纖鋅礦結(jié)構(gòu);均為n型半導(dǎo)體。制備的ZnO薄膜結(jié)構(gòu)致密,分布均勻,孔隙率較小,雜質(zhì)含量少;制備的ZnS薄膜結(jié)構(gòu)致密,與基體結(jié)合良好;ZnO薄膜透過率在可見光范圍內(nèi)達到80%以上,ZnS達到40%以上,ZnS薄膜禁帶寬度為3.68eV。 【關(guān)鍵詞】:氧化鋅 硫化鋅 電沉積 透過率
【學(xué)位授予單位】:哈爾濱理工大學(xué)
【學(xué)位級別】:碩士
【學(xué)位授予年份】:2013
【分類號】:TM914.4
【目錄】:
  • 摘要5-6
  • Abstract6-10
  • 第1章 緒論10-17
  • 1.1 銅銦硒太陽能電池緩沖層及窗口層的結(jié)構(gòu)和特點10-12
  • 1.2 ZnS 及 ZnO 薄膜工藝研究進展及發(fā)展前景12-15
  • 1.2.1 ZnO 及 ZnS 薄膜的研究進展12-14
  • 1.2.2 ZnO 及 ZnS 薄膜的發(fā)展前景14-15
  • 1.3 本課題的研究目的及主要內(nèi)容15-17
  • 1.3.1 本課題的研究目的15
  • 1.3.2 本課題的主要研究內(nèi)容15-17
  • 第2章 實驗方法及測試手段17-28
  • 2.1 實驗設(shè)計17-21
  • 2.1.1 實驗所需原料及設(shè)備17-18
  • 2.1.2 實驗方案18-19
  • 2.1.3 實驗工藝流程19-21
  • 2.2 實驗原理21-25
  • 2.2.1 電沉積 ZnO 機理21-23
  • 2.2.2 電沉積 ZnS 機理23
  • 2.2.3 薄膜禁帶寬度的計算23-25
  • 2.3 測試方法25-27
  • 2.3.1 X 射線衍射(XRD)分析25
  • 2.3.2 掃描電子顯微鏡(SEM)及能譜(EDS)分析25
  • 2.3.3 原子力顯微鏡(AFM)分析25-26
  • 2.3.4 X 射線光電子光譜(XPS)分析26
  • 2.3.5 紫外-可見分光光度測試26
  • 2.3.6 電學(xué)性能測試26
  • 2.3.7 冷熱探針實驗26-27
  • 2.4 本章小結(jié)27-28
  • 第3章 電沉積 ZnO 薄膜及其性能分析28-34
  • 3.1 電沉積 ZnO 薄膜最優(yōu)工藝的確定28-30
  • 3.2 ZnO 薄膜性能測試分析30-33
  • 3.2.1 X 射線衍射(XRD)分析30-31
  • 3.2.2 薄膜半導(dǎo)體類型分析31
  • 3.2.3 薄膜表面形貌分析31-33
  • 3.2.4 紫外-可見分光光度測試分析33
  • 3.3 本章小結(jié)33-34
  • 第4章 電沉積 ZnS 薄膜及其性能分析34-44
  • 4.1 電沉積法制備 ZnS 薄膜的單因素實驗34-40
  • 4.1.1 單因素實驗設(shè)計34-36
  • 4.1.2 單因素實驗結(jié)果分析36-40
  • 4.2 電沉積法制備 ZnS 薄膜性能分析40-42
  • 4.2.1 X 射線衍射(XRD)分析40
  • 4.2.2 薄膜半導(dǎo)體類型分析40-41
  • 4.2.3 薄膜表面形貌分析41
  • 4.2.4 薄膜表面成分與結(jié)構(gòu)分析41-42
  • 4.2.5 紫外-可見分光光度分析42
  • 4.3 本章小結(jié)42-44
  • 結(jié)論44-46
  • 參考文獻46-49
  • 附錄49-55
  • 攻讀碩士學(xué)位期間發(fā)表的學(xué)術(shù)論文55-56
  • 致謝56


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