測試時組件EL出現(xiàn)亮斑的原因有哪些？

　　組件EL測試出現(xiàn)亮斑是什么原因？最初，組件亮斑較輕，但組件在安裝運行一段時間后，亮斑加重，并且功率衰減嚴(yán)重。

　　亮斑導(dǎo)致原因可能有以下幾點：

　　1，電池片虛焊，EL電池片主柵線位置會發(fā)亮；

　　2，電池片本身結(jié)構(gòu)損壞導(dǎo)致漏電，漏電位置會發(fā)亮；

　　亮斑會越來越亮，組件本身運行是個過程，電流運行肯定是哪里電阻小就從哪里流出，運行初期沒找到電阻低的地方，就不是很亮，發(fā)亮區(qū)域既然漏電，那相對電阻低，電流都會向這一區(qū)域集中，就會出現(xiàn)時間長，這一地方自然就會越來越亮了，發(fā)亮，會遮光，也會發(fā)熱，自然衰減就大了。

　　從圖來看，第一張圖有幾個片子屬于高效片，有幾片為虛焊。第二張圖中發(fā)亮的片子，首先確認(rèn)為高效片混串到低效片里（相對），當(dāng)然貌似有一根主柵線虛焊的（上面的那根）。

　　此外，在組件生產(chǎn)過程中進(jìn)行分選、單焊、串焊等工序都可能會導(dǎo)致漏電。