地面用薄膜光伏組件設(shè)計鑒定和定型（GB/T 18911-2002）

　　1范圍和目的

　　本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了地面用薄膜光伏組件設(shè)計鑒定和定型的要求，該組件是在GB/T 4797.1-1984和IEC 60721-2-1第1修正案：1987中所定義的一般室外氣候條件下長期使用。本標(biāo)準(zhǔn)制定時是以非晶硅薄膜組件技術(shù)為主，但同樣適用于其他薄膜光伏組件。鑒于其他新技術(shù)的特殊性能，有可能需要對該試驗程序做修訂。

　　本試驗程序主要依據(jù)GB/T 9535-1998《地面用晶體硅光伏組件設(shè)計鑒定和定型》而制定，針對非晶硅薄膜組件的特殊性能作了一些必要的修改。光老煉用于區(qū)別光致衰減與其他衰減機制，并將試驗程序后期的最大功率作為薄膜組件長期工作性能估計。為區(qū)別熱循環(huán)和濕一熱試驗中可能產(chǎn)生的退火效應(yīng)，組件在這些試驗之前需進行退火。對于不采用非晶硅的其他薄膜形成技術(shù)，諸如光老煉和退火的預(yù)處理可能不同或可能證明是不需要。因為所有類型的薄膜組件易受潮引起侵蝕，故須增加一個濕漏電流試驗。

　　本試驗程序的目的是在盡可能合理的經(jīng)費和時間內(nèi)確定組件的電性能和熱性能，表明組件能夠在規(guī)定的氣候條件下長期使用。通過此試驗的組件的實際使用壽命期望值將取決于組件的設(shè)計以及它們使用的環(huán)境和條件。

　　本標(biāo)準(zhǔn)不適用于帶聚光器的組件。

　　2規(guī)范性引用文件

　　下列文件中的條款通過本標(biāo)準(zhǔn)的引用而成為本標(biāo)準(zhǔn)的條款。凡是注日期的引用文件，其隨后所有的修改單（不包括勘誤的內(nèi)容）或修訂版均不適用于本標(biāo)準(zhǔn)，然而，鼓勵根據(jù)本標(biāo)準(zhǔn)達成協(xié)議的各方研究是否可使用這些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本適用于本標(biāo)準(zhǔn)。

　　GB/T 2421-1999電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第1部分：總則（idt IEC 60068-1：1988、第1修正案：1992)

　　GB/T 2423.3-1993電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Ca：恒定濕熱試驗方法（eqv IEC 60068-2-3：1984）

　　GB/T 2423.29-1999電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗U：引出端及整體安裝件強度（idt IEC 60068-2-21：1992)

　　GB/T 2829-2002周期檢驗計數(shù)抽樣程序及表（適用于對過程穩(wěn)定性的檢驗）

　　GB/T 4797.1-1984電工電子產(chǎn)品自然環(huán)境條件溫度與濕度（neq IEC 60721-2-1：1982)

　　GB/T 6495.1-1996光伏器件 第1部分：光伏電流一電壓特性的測量(idt IEC 60904-1：1987)

　　GB/T 6495.3-1996光伏器件 第3部分：地面用光伏器件的測試原理及標(biāo)準(zhǔn)光譜輻照度數(shù)據(jù)(idt IEC 60904-3：1989)

　　GB/T 6495.4-1996晶體硅光伏器件I-V實測特性的溫度和輻照度修正方法（idt IEC 60891：1987、第1修正案：1992)

　　GB/T 9535-1998地面用晶體硅光伏組件設(shè)計鑒定和定型(eqv IEC 61215：1993)

　　GB/T 2423.2-2001電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗B：高溫(idt IEC 60068-2-2：1974、第1修正案：1993、第2修正案：1994)

　　IEC 60721-2-1第1修正案：1987環(huán)境條件類別 第2部分：自然環(huán)境條件一溫度與濕度

　　IEC 60904-9：1995光伏器件 第9部分：太陽模擬器性能要求

　　IEC 61345：1998光伏組件的紫外試驗

　　IECQC 001002：1986IEC電子元器件質(zhì)量評定體系（IECQ）程序規(guī)則 第2修正案：1994

　　3抽樣

　　從同一批或幾批產(chǎn)品中，按GB/T 2829-2002規(guī)定的方法隨機地抽八個（如需要可增加備份）組件用于鑒定試驗。這些組件應(yīng)由符合相應(yīng)圖紙和工藝要求規(guī)定的材料和元器件所制造，并經(jīng)過制造廠常規(guī)檢測、質(zhì)量控制與產(chǎn)品驗收程序。組件應(yīng)該是完整的，并附有制造廠的搬運、安裝和連接說明書，包括系統(tǒng)最大許可電壓。

　　如果被試驗的組件是一種新設(shè)計的樣品而不是來自于生產(chǎn)線上，應(yīng)在試驗報告中加以說明（見第8章）。

　　4標(biāo)志

　　每個組件都應(yīng)有下列清晰而且擦不掉的標(biāo)志：

　　a)制造廠的名稱、標(biāo)志或代號；

　　b)產(chǎn)品型號；

　　C)產(chǎn)品序號；

　　d)引出端或引線的極性（可用色碼標(biāo)識）；

　　e)組件允許的最大系統(tǒng)電壓；

　　f)在標(biāo)準(zhǔn)測試條件下，該型號產(chǎn)品最大輸出功率的標(biāo)稱值和最小值。

　　制造的日期和地點應(yīng)注明在組件上，或可由產(chǎn)品序號查到。

　　5試驗

　　6合格判據(jù)

　　如果德一個試驗樣品達到下列各項判據(jù)，則認為該組件設(shè)計通過了鑒定試驗，也通過了定型。

　　a)在標(biāo)準(zhǔn)測試條件下，組件的最大輸出功率衰減在每個單項試驗后不超過規(guī)定的極限；

　　b)在最后光老煉之后，標(biāo)準(zhǔn)測試條件下的最大輸出功率不小于第4章制造廠給定最小值的90％；

　　c）在試驗過程中，無組件呈現(xiàn)斷路或漏電現(xiàn)象；

　　d)無第7章中定義的任何嚴(yán)重外觀缺陷；

　　e）滿足10.3、10.20的試驗要求。

　　如果兩個或兩個以上組件達不到上述判據(jù)，該設(shè)計將視為達不到鑒定要求。如果一個組件未通過任一項試驗，取另外兩個滿足第3章要求的組件從頭進行全部相關(guān)試驗程序的試驗。假如其中的一個或兩個組件都未通過試驗，該設(shè)計被判定達不到鑒定要求。如果兩個組件都通過了試驗，則該設(shè)計被認為達到鑒定要求。

　　7嚴(yán)重外觀缺陷

　　對設(shè)計鑒定和定型來說，下列缺陷是嚴(yán)重的外觀缺陷：

　　a)破碎、開裂、彎曲、不規(guī)整或損傷的外表面；

　　b)組件有效工作區(qū)域的任何薄膜層有超過一個電池面積10％以上的空隙、看得見的腐蝕；

　　c）在組件的邊緣和任何一部分電路之間形成連續(xù)的氣泡或剝層；

　　d)喪失機械完整性，導(dǎo)致組件的安裝和／或工作都受到影響。

　　8報告

　　定型批準(zhǔn)后，試驗機構(gòu)應(yīng)根據(jù)國際電工委員會電子元器件質(zhì)量評定體系程序規(guī)則IECQC 001002：1986給出鑒定試驗驗證報告，該證書應(yīng)包括測定的性能參數(shù)，以及失效、重新試驗或省略試驗的詳細情況。制造廠應(yīng)保存一份報告供參考。

　　9重新鑒定

　　在組件的設(shè)計、材料、元器件或工藝作任何改變時，可能需要重新進行部分或全部鑒定試驗來確保產(chǎn)品定型的有效性。

　　10試驗程序

　　10.1外觀檢查

　　10.1.1目的

　　檢查組件中的任何外觀缺陷。

　　10.1.2程序

　　在不低于1000lx的照度下，對每一個組件仔細檢查下列情況：

　　a)開裂、彎曲、不規(guī)整或損傷的外表面；

　　b)互聯(lián)線或接頭的缺陷；

　　c）組件有效工作區(qū)域的任何薄膜層有空隙和可見的腐蝕；

　　d)輸出連接、互聯(lián)線及主匯流線有可見的腐蝕；

　　e)粘合連接失效；

　　f)在塑料材料表面有粘污物；

　　g）引出端失效，帶電部件外露；

　　h)可能影響組件性能的其他任何情況；

　　i)在組件的邊框和電池之間形成連續(xù)通道的氣泡或剝層。

　　對任何裂紋、氣泡或脫層等的狀態(tài)和位置應(yīng)作記錄和／或照相記錄。這些缺陷在后續(xù)的試驗中可能會加劇并對組件的性能產(chǎn)生不良影響。

　　10.1.3要求

　　對定型來說，除第7章中規(guī)定的嚴(yán)重外觀缺陷外，其他的外觀情況是允許的。

　　10.2標(biāo)準(zhǔn)測試條件下的性能

　　10.2.1目的

　　用自然光或符合IEC 60904-9：1995的A級模擬器，在標(biāo)準(zhǔn)測試條件下（電池溫度：25℃±2℃，輻照度：1000W·M-2，標(biāo)準(zhǔn)太陽光譜輻照度分布符合GB/T 6495.1-1996規(guī)定），測試組件隨負荷變化的電性能。

　　10.2.2程序

　　按照GB/T 6495.1-1996的方法，測試組件在標(biāo)準(zhǔn)測試條件下的電流一電壓特性，必要時可根據(jù)GB/T 6495.4-1996規(guī)定作溫度和輻照度的修正。

　　10.3絕緣試驗

　　10.3.1目的

　　測定組件中的載流部分與組件邊框之間的絕緣是否良好。

　　10.3.2試驗條件

　　對組件試驗的條件：溫度為周圍環(huán)境溫度（見GB/T 2421-1999)，相對濕度不超過75％。

　　10.3.3程序

　　a）將組件引出線短路后接到有限流裝置的直流絕緣測試儀的正極。電流極限設(shè)為50μA。

　　b）將組件暴露的金屬部分接到絕緣測試儀的負極。如果組件無邊框，或邊框是不良導(dǎo)體，可為組件安裝金屬試驗支架，再將其連接到絕緣測試儀的負極。

　　c)以不大于500V·s-1的速率增加絕緣測試儀的電壓，直到等于1000v加上兩倍的系統(tǒng)最大電壓（即標(biāo)準(zhǔn)測試條件下系統(tǒng)的開路電壓）。維持此電壓1min。如果系統(tǒng)的最大電壓不超過50V，所施加的電壓應(yīng)為500V。

　　d)在不拆卸組件連接線的情況下，降低電壓到零，將絕緣測試儀的正負極短路5min。

　　e)拆去絕緣測試儀正負極的短路。

　　f）按照步驟a)和b)的方式連線，對組件加不小于500V的直流電壓，測量絕緣電阻。

　　10.3.4試驗要求

　　a）在10.3.3步驟c）中，無絕緣擊穿（小于50KA)，或表面無破裂現(xiàn)象。

　　b)絕緣電阻不小于50MΩ。

　　10.4溫度系數(shù)的測里

　　10.4.1目的

　　從組件試驗中測量其電流溫度系數(shù)（α)和電壓溫度系數(shù)(β)。如此測定的溫度系數(shù)，僅在測試中所用的輻照度下有效；對于線性組件，在此輻照度±30％內(nèi)是有效的。GB/T 6495.4-1996規(guī)定了從具有代表性一批中的單體電池測量這些系數(shù)，本方法是對這一標(biāo)準(zhǔn)的補充。薄膜電池組件的溫度系數(shù)依賴于輻照及組件所經(jīng)歷的熱處理過程。當(dāng)涉及溫度系數(shù)時，熱試驗時的條件及輻照結(jié)果等過程情況均應(yīng)標(biāo)明。

　　10.4.2裝置

　　a）符合IEC 60904-9：1995的太陽模擬器(B類或更好）。滿足GB/T 6495.1-1996第2章測量輻照度、短路電流和開路電壓的設(shè)備。

　　注：優(yōu)先選用脈沖太陽模擬器，因為它在測贊過程中產(chǎn)生的對組件有影響的額外熱量很少。如用穩(wěn)態(tài)太陽模擬器，應(yīng)安裝一擋板或類似的裝置，使輻照時間小于或等于55。

　　b）測量組件表面或電池溫度的設(shè)備，準(zhǔn)確度為±0.5℃。

　　c）一個能容納組件的試驗室，安裝有透明1和溫度調(diào)節(jié)裝置，能在需要的溫度范圍內(nèi)進行均勻加熱和冷卻。

　　10.4.3程序

　　a)在室溫和需要的輻照度下，用GB/T 6495.1-1996的方法測量組件的短路電流。

　　b)將組件安裝在試驗室中，在試驗室外但仍在模擬器光照中安裝一適當(dāng)?shù)妮椪斩缺O(jiān)測儀。連接好儀器。

　　c）關(guān)閉試驗室，設(shè)定好輻照度，使試驗組件的短路電流達步驟a)的值，并用輻照度監(jiān)測儀使其在整個試驗過程維持同一水平。

　　d)將組件加熱至所考核的最高溫度，關(guān)掉加熱器，讓其平穩(wěn)地冷卻。

　　e)在組件冷卻過程中，在至少30℃所考核的溫度范圍內(nèi)，每隔5℃測量一次短路電流和開路電壓。

　　注：用GB/T 6495.4-1996第5章的方法測定曲線校正因子K，對每一個溫度均應(yīng)測量完整的電流一電壓特性。

　　f)畫出Isc和Voc隨溫度變化的曲線，對每一組數(shù)據(jù)用最小二乘法擬合出一條曲線。

　　g）在所關(guān)心的最高和最低溫度中間的一點上，取電流和電壓曲線的斜率，計算出組件的溫度系數(shù)α和β。

　　10.5電池標(biāo)稱工作溫度的測盤

　　10.5.1目的

　　測定組件的標(biāo)稱工作溫度（NOCT)。

　　10.5.2導(dǎo)言

　　標(biāo)稱工作溫度定義為在下列標(biāo)準(zhǔn)參考環(huán)境（SRE)，敞開式支架安裝情況下，太陽電池的平均平衡結(jié)溫：

　　a)傾角：在當(dāng)?shù)靥栒鐣r，使陽光垂直照射組件；

　　b)總輻照度：800W·M-2；

　　c)環(huán)境溫度：20℃；

　　d）風(fēng)速：1m·s-1；

　　e)電負荷：零（開路）。

　　系統(tǒng)設(shè)計者可用標(biāo)稱工作溫度作為組件在現(xiàn)場工作的參考溫度，因此在比較不同組件設(shè)計的性能時該參數(shù)是一個很有價值的參數(shù)。然而組件在任何特定時間的真實1作溫度取決于安裝的方式、輻照度、風(fēng)速、環(huán)境溫度、天空溫度、地面和周圍物體的反射輻射與發(fā)射輻射。為準(zhǔn)確預(yù)測組件的性能，上述因素的影響應(yīng)該考慮進去。

　　測定標(biāo)稱工作溫度兩種方法的說明：

　　第一種稱為“基本方法”，能普遍用于所有光伏組件。在組件未設(shè)計為敞開式支架安裝時，基本方法可測定在標(biāo)準(zhǔn)參考環(huán)境中，用制造廠所推薦的方法安裝時的平衡平均太陽電池結(jié)溫。

　　第二種稱為“間接方法（參考平板法）”，比第一種方法更快，但僅能應(yīng)用于與試驗時所用的參考平板有同樣環(huán)境（在一定的風(fēng)速和輻照度范圍內(nèi)）溫度響應(yīng)的光伏組件。帶有前玻璃和后塑料的組件屬于此類。參考平板的校準(zhǔn)采用與基本方法相同的程序。

　　10.5.3基本方法

　　10.5.3.1原理

　　10.5.3.2裝置

　　需要下列裝置：

　　a)敞開式支架，它以特定方式（見10.5.3.3)支撐被試驗組件和輻射強度計。該支架應(yīng)該設(shè)計為對組件的熱傳導(dǎo)最小，并且盡可能小地干擾組件前后表面的熱輻射。

　　注：如組件不是設(shè)計為敞開式支架安裝，應(yīng)按制造廠推薦的方式安裝。

　　b)輻射強度計，安裝在距試驗方陣0.3m內(nèi)組件的平面上。

　　c）能測量至0.25m·s-1風(fēng)速和風(fēng)向的設(shè)備，安裝在組件上方約0.7m,靠東或西1.2m處。

　　d)一個環(huán)境溫度傳感器，具有與組件相近的時間常數(shù)，安裝在遮光通風(fēng)良好且靠近風(fēng)速傳感器之處。

　　e)電池溫度傳感器，或國家標(biāo)準(zhǔn)認可的測量電池溫度的其他設(shè)備，焊在或用有良好導(dǎo)熱性能的膠粘在每一個試驗組件中部兩片電池的背面。

　　1)數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)，以不大于60s的間隔，記錄下列參數(shù)：

　　1)輻照度；

　　2)環(huán)境溫度；

　　3)電池溫度；

　　4）風(fēng)速；

　　5）風(fēng)向；

　　6)準(zhǔn)確度：標(biāo)稱工作溫度的總準(zhǔn)確度為±1K。

　　10.5.3.3試驗組件的安裝

　　傾角：使組件在當(dāng)?shù)靥栒鐣r，太陽光線垂直（±5°內(nèi)）照射組件。

　　高度：試驗組件的底邊應(yīng)高于當(dāng)?shù)厮矫婊虻仄矫?.6m以上。

　　排列：為了模擬組件安裝在一個方陣中的熱邊界條件，試驗組件應(yīng)安裝在一個平面陣列內(nèi)，該平面陣列在試驗組件平面的各個方向上延伸至少0.6m。對于隨意固定敞開式安裝的組件，應(yīng)該用黑色鋁板或其他同樣設(shè)計的組件來填充平面陣列的剩余表面。

　　周圍區(qū)域：在當(dāng)?shù)靥栒缜昂?h內(nèi)，組件周圍沒有遮擋物，可以得到充分的太陽輻照。安裝組件的周圍地面應(yīng)是平坦的，或是背向試驗架而傾斜的，并且對陽光無特殊的高反射率。在試驗現(xiàn)場周圍有草、其他植物、黑色的瀝青或臟跡等是允許的。

　　10.5.3.4程序

　　10.5.4間接方法（參考平板法）

　　10.5.4.1原理

　　本方法的原理是在相同的輻照度、環(huán)境溫度和風(fēng)速條件下比較標(biāo)準(zhǔn)參考平板和試驗組件的溫度。

　　在標(biāo)準(zhǔn)參考環(huán)境下參考平板的穩(wěn)態(tài)溫度由10.5.3所描述的基本方法測定。

　　先把試驗組件和參考平板的溫度差修正到標(biāo)準(zhǔn)參考環(huán)境，再將此值加上標(biāo)準(zhǔn)參考環(huán)境下參考平板的平均穩(wěn)態(tài)溫度，即得到試驗組件的標(biāo)稱工作溫度。實驗已證明，溫度差對輻照度的漲落、環(huán)境溫度和風(fēng)速的小的變化不敏感。

　　10.5.4.2參考平板

　　參考平板由硬質(zhì)鋁合金制成，尺寸見圖3，前表面應(yīng)涂刷亞光黑漆，背面應(yīng)涂刷亮光白漆。應(yīng)有達到準(zhǔn)確度要求的儀器測量參考平板的溫度。采用兩組熱電偶進行測量的方法見圖3，將距熱電偶結(jié)點25mm內(nèi)的絕緣材料去除后，用導(dǎo)熱性能好的電絕緣膠粘劑將熱電偶分別粘人刻出的槽內(nèi)，最后將兩個熱電偶剩余的線用鋁粉膩子粘入一個槽內(nèi)。

　　至少應(yīng)制備三塊參考平板，并用10.5.3所描述基本方法進行校準(zhǔn)。所測定的穩(wěn)態(tài)溫度應(yīng)在46℃-50℃范圍內(nèi)，三個平板溫度相差不大于1℃。一個參考平板應(yīng)該不用而作為控制參考。在進行標(biāo)稱工作溫度測量之前，應(yīng)將參考平板在10.5.3.4c）所規(guī)定的條件下的穩(wěn)態(tài)溫度和控制平板進行對比，以檢測兩者之間熱性能是否有變化。如果測得參考平板的溫度相差超過1℃，在試驗標(biāo)稱工作溫度之前，應(yīng)查明原因，并作相應(yīng)的修正。

　　10.5.4.3試驗地點

　　選擇一周圍建筑、樹木和地形地貌對風(fēng)幾乎不干擾的平整的地點，應(yīng)避免試驗平板背后地面或物體的不均勻反射。

　　10.5.4.4裝置

　　需要下列裝置（見圖4)：

　　a)參考平板的數(shù)量按10.5.4.2規(guī)定（比同時試驗的組件數(shù)目多一個）。

　　b)一個輻射強度計或標(biāo)準(zhǔn)太陽電池。

　　c）一個敞開式支架，支承試驗組件、參考平板和輻射強度計，并使它們在當(dāng)?shù)卣鐣r太陽光垂直照射（±5°內(nèi)）。每個組件的兩側(cè)緊挨著參考平板，組件的底邊距地面約為1m。該支架應(yīng)該設(shè)計為對組件和參考平板的熱傳導(dǎo)最小，并且盡可能少地影響組件前后表面的熱輻射。

　　d)能測量至0.25m·s-1風(fēng)速和風(fēng)向的設(shè)備，安裝在組件上方約0.7m，靠東或西1.2m處，如圖4所示。

　　e）一個環(huán)境溫度傳感器，具有與組件相近的時間常數(shù)，安裝在遮光、通風(fēng)良好的盒內(nèi)，靠近風(fēng)速傳感器之處。

　　f)電池溫度傳感器，或國家標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的測量電池溫度的其他設(shè)備，焊在或用有良好導(dǎo)熱性能的膠粘在每一個試驗組件中部兩片電池的背面。

　　9）數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)，以不大于60s的間隔，記錄下列參數(shù)：

　　1)輻照度；

　　2)環(huán)境溫度；

　　3）電池溫度；

　　4）風(fēng)速；

　　5）風(fēng)向；

　　6)參考平板溫度；

　　7)準(zhǔn)確度：標(biāo)稱工作溫度的總準(zhǔn)確度為±1K。

　　10.5.4.5程序

　　10.7低輻照度下的性能

　　10.7.1目的

　　依據(jù)GB/T 6495.1-1996的規(guī)定，在25℃和輻照度為200W·m-2（用適當(dāng)?shù)臉?biāo)準(zhǔn)裝置測定）的自然光或符合IEC 60904-9：1995要求的A類模擬器下，確定組件隨負荷變化的電性能。

　　10.7.2程序

　　依據(jù)GB/T 6495.1-1996，在25℃和輻照度為200W·m-2（用適當(dāng)?shù)臉?biāo)準(zhǔn)裝置測定）的自然光或符合IEC 60904-9：1995要求的A類模擬器下，測量組件的電流一電壓特性。用中性濾光器或其他不影響光譜輻照度分布的方法將輻照度降低至特定值。

　　必要時，作溫度和輻照度的修正。

　　10.8室外曝礴試驗

　　10.8.1目的

　　初步評價組件經(jīng)受室外條件曝露的能力，以揭示在實驗室試驗中可能測不出來的綜合衰減效應(yīng)。

　　注：由于試驗的短時性和試驗條件隨環(huán)境而變化，在以通過本試驗為基礎(chǔ)對組件的壽命做出絕對判斷時應(yīng)特別小心，這個試驗僅只能作為揭示可能存在問題的導(dǎo)則或指示。

　　10.8.2裝里

　　a)太陽輻照度監(jiān)測儀，準(zhǔn)確度為±10％；

　　b)用制造廠推薦的組件安裝的方法，使組件與輻照度監(jiān)測儀共平面安裝。

　　10.8.3程序

　　a)將組件開路，用制造廠所推薦的方式安裝在室外，與輻照度監(jiān)測儀共平面。在試驗前應(yīng)安裝制造廠所推薦的熱斑保護設(shè)備。

　　b)在GB/T 4797.1-1984和IEC 60721-2-1第1修正案：1987所規(guī)定的一般室外氣候條件下，用監(jiān)測儀測量，使組件受到的總輻射量為60kWh·m-2。

　　10.8.4最后試驗

　　重復(fù)10.1,10.2和10.3的試驗。

　　10.8.5要求

　　a)無第7章規(guī)定的嚴(yán)重外觀缺陷；

　　b)標(biāo)準(zhǔn)測試條件下的最大輸出功率應(yīng)大于制造廠規(guī)定的最小額定值；

　　c）絕緣電阻應(yīng)滿足初始試驗的同樣要求。

　　10.9熱斑耐久試驗

　　10.9.1目的

　　確定組件承受熱斑加熱效應(yīng)的能力，如這種效應(yīng)可能導(dǎo)致封裝退化。電池不匹配或裂紋、內(nèi)部連接失效、局部被遮光或弄臟均會引起這種缺陷。

　　10.9.2熱斑效應(yīng)

　　當(dāng)組件中的一個電池或一組電池被遮光或損壞時，工作電流超過了該電池或電池組降低了的短路電流，在組件中會發(fā)生熱斑加熱。此時受影響的電池或電池組被置于反向偏置狀態(tài)，消耗功率，從而引起過熱。

　　圖6描述了由一組串聯(lián)電池所構(gòu)成組件的熱斑效應(yīng)，該組件中電池Y被部分遮光。Y消耗的功率等于組件電流與Y兩端形成的反向電壓的乘積。對任意輻照度水平，在短路時消耗的功率最大，此時

　　加于Y的反向電壓等于組件中其余（s-1)個電池產(chǎn)生的電壓，在圖6中用Y的反向I-V曲線和（s-1)個電池的正向I-V曲線的鏡像的交點構(gòu)成的陰影矩形來表示最大消耗功率。

　　由于不同電池的反向特性差別很大，有必要根據(jù)其反向特性曲線與圖7所示的“試驗界限區(qū)”的交點，把電池分成電壓限制型(A類）或電流限制型(B類）兩類。

　　圖6所示的損壞或遮光電池的最大功率消耗的情況屬A類，這種情況發(fā)生在反向曲線和（s-1)個電池的正向I-V曲線的鏡像在最大功率點相交。

　　作為對比，圖8表示B類電池在完全遮光時的最大功率消耗。應(yīng)該注意，此時消耗的功率可能僅是組件總有效功率的一部分。

　　10.9.3電池內(nèi)部連接的分類

　　光伏組件中的太陽電池用下列方式之一進行連接：

　　串聯(lián)方式：、個電池呈單串串聯(lián)連接（圖6)；

　　串聯(lián)一并聯(lián)連接方式：即將p個組并聯(lián)，每組：個電池串聯(lián)（圖9)；

　　串聯(lián)一并聯(lián)一串聯(lián)連接方式：即b個塊串聯(lián)，每個塊有p個組并聯(lián)，每組，個電池串聯(lián)（圖10)。

　　如果有旁路二極管，由于限制了其所連接電池的反向電壓，因此也算做被試驗電路的一部分。每一種結(jié)構(gòu)需要一種特殊的熱斑試驗程序。組件短路時其內(nèi)部功率消耗最大。

　　10.9.4裝置

　　a)輻射源I，符合IEC 60904-9：1995的C類（或更好）穩(wěn)態(tài)太陽模擬器或自然光，輻照度不低于700W·m-2，不均勻度不超過±2%，瞬時不穩(wěn)定度在±5％以內(nèi)。

　　b)輻射源2，符合IEC 60904-9：1995的C類（或更好）的穩(wěn)態(tài)太陽模擬器或自然光，其輻照度為1000W·m-2，偏差±10%。

　　C)組件I-V曲線測試儀。

　　d)一組對試驗太陽電池遮光增量為5％的不透明蓋板。

　　e)如需要，加一個適當(dāng)?shù)臏囟忍綔y器。

　　10.9.5程序

　　10.9.5.3串聯(lián)一并聯(lián)一串聯(lián)連接方式

　　a）將不遮光的組件短路，并在不低于700W·m-2的穩(wěn)定輻射源1下照射。隨機取組件中至少30％的單個電池，依次完全擋住每一個電池，用熱成像儀或其他適當(dāng)?shù)膬x器測量該電池的穩(wěn)定溫度。

　　b>將按步驟a)所發(fā)現(xiàn)的溫度為最高的電池完全遮光。

　　c）在連續(xù)監(jiān)測電池溫度時，逐漸減少對該電池的遮光面積，并確定該電池達到最高溫度的條件。

　　d）保持步驟c）時的遮光狀態(tài)，用輻射源2照射組件。

　　e)1h后，將組件遮光。

　　f)30min后，恢復(fù)輻照度到1000W·M-2。

　　g）重復(fù)步驟d)、e）和f）五次。

　　10.9.6要求

　　a)無第7章中規(guī)定的嚴(yán)重外觀缺陷；

　　b）絕緣電阻應(yīng)滿足初始試驗同樣的要求；

　　c）標(biāo)準(zhǔn)測試條件下最大輸出功率的衰減不超過試驗前測試值的5%。

　　10.10紫外試驗

　　10.10.1目的

　　確定組件承受紫外（UV）輻照的能力。

　　紫外試驗在IEC 61345：1998中規(guī)定。

　　如有必要，在進行該試驗之前，組件應(yīng)進行光老煉。

　　10.10.2要求

　　a)無第7章規(guī)定的嚴(yán)重外觀缺陷；

　　b）標(biāo)準(zhǔn)測試條件下的最大輸出功率應(yīng)大于制造廠規(guī)定的最小額定值；

　　c）絕緣電阻應(yīng)滿足初始試驗的同樣要求。

　　10.11熱循環(huán)試驗

　　10.11.1目的

　　確定組件承受由于溫度反復(fù)變化而引起的熱失配、疲勞和其他應(yīng)力的能力。

　　在接受該試驗之前，組件應(yīng)按圖1所示退火。“I-V測試前”是指退火后的測試，注意在進行最后I-V測試前，不要將組件暴露于光照下。

　　10.11.2裝置

　　a)自動溫度控制試驗箱，使內(nèi)部空氣循環(huán)和避免在試驗過程中水分凝結(jié)在組件表面的裝置，而且能容納一個或多個組件進行如圖11所示的熱循環(huán)試驗。

　　b)在試驗箱中有安裝或支承組件的裝置，并保證周圍的空氣能自由循環(huán)。安裝或支承裝置的熱傳導(dǎo)應(yīng)小，因此實際上，應(yīng)使組件處于絕熱狀態(tài)。

　　c）測量和記錄組件溫度的儀器，準(zhǔn)確度為±1℃。溫度傳感器應(yīng)置于組件中部的前或后表面。如多個組件同時試驗，只需監(jiān)測一個代表組件的溫度。

　　d)在整個試驗過程中，監(jiān)測每一個組件內(nèi)部電連續(xù)性的儀器。

　　e)監(jiān)測每一個組件的一個引出端和邊框或支承架之間絕緣完整性的儀器。

　　10.11.3程序

　　a)在室溫下將組件裝人試驗箱。如組件的邊框?qū)щ姴缓?，將其安裝在一金屬框架上來模擬敞開式支承架。

　　b)將溫度傳感器接到溫度監(jiān)測儀，將組件的兩個引出端接到電連續(xù)性測試儀：將組件的一個引出端和框架或支承架連接到絕緣監(jiān)測儀。

　　c)關(guān)閉試驗箱，使組件周圍空氣的循環(huán)速度不低于2m·s-1，按圖1所示將使組件的溫度在-40℃±2℃和＋85℃±2℃之間循環(huán)。最高和最低溫度之間溫度變化的速率不超過1000C/h。在每個極端溫度下，應(yīng)保持穩(wěn)定至少10min。一次循環(huán)時間不超過6h，循環(huán)的次數(shù)見圖1相應(yīng)的方框。

　　d)在整個試驗過程中，記錄組件的溫度，并監(jiān)測可能產(chǎn)生的任何斷路或漏電現(xiàn)象。

　　10.11.4最后試驗

　　在至少1h的恢復(fù)時間后，重復(fù)10.1，10.2和10.3的試驗。

　　10.11.5要求

　　a)在試驗過程中無間歇斷路或漏電現(xiàn)象；

　　b)無第7章中規(guī)定的嚴(yán)重外觀缺陷；

　　c)絕緣電阻應(yīng)滿足初始試驗的同樣要求；

　　d)標(biāo)準(zhǔn)測試條件下最大輸出功率的衰減不超過試驗前測試值的5％。

　　10.12濕一凍試驗

　　10.12.1目的

　　確定組件承受高溫、高濕之后以及隨后的零下低溫影響的能力。本試驗不是熱沖擊試驗。

　　在接受該試驗之前，組件應(yīng)退火，并經(jīng)受如圖1的熱循環(huán)實驗。“I-V測試前”指的是熱循環(huán)后的測試，注意在最后I-V測試前，不要將組件暴露于光照下。

　　有兩種方法可供選擇：單箱法和雙箱法。

　　10.12.2單箱法

　　10.12.2.1裝置

　　a)一個試驗箱，有自動溫度和濕度控制，能容納一個或多個組件進行如圖12所規(guī)定的濕一凍循環(huán)試驗。在零下的溫度，試驗箱內(nèi)空氣的露點為該室的溫度。

　　b)測量和記錄組件溫度的儀器，準(zhǔn)確度為±1℃。如多個組件同時試驗，只需監(jiān)測一個代表組件的溫度。

　　c）在整個試驗過程中，監(jiān)測每一個組件內(nèi)部電連續(xù)性的儀器。

　　d)監(jiān)測每一個組件的一個引出端和邊框或支承架之間絕緣性完好的儀器。

　　10.12.2.2程序

　　a)將溫度傳感器置于組件中部的前或后表面。

　　b)在室溫下將組件裝人試驗箱，使其與水平面的傾角不小于50°如組件的邊框?qū)щ姴缓?，將其安裝在一模擬敞開式支承架的金屬框架上。

　　c）將溫度傳感器接到溫度監(jiān)測儀，將組件的兩個引出端接到電連續(xù)性測試儀，將組件的一個引出端和框架或支承架連接到絕緣監(jiān)測儀。

　　d）關(guān)閉試驗箱，使組件完成如圖12所示的10次循環(huán)。最高和最低溫度應(yīng)在所設(shè)定值的+2℃以內(nèi)，室溫以上各溫度下，相對濕度應(yīng)保持在所設(shè)定值的±5％以內(nèi)。

　　e)在整個試驗過程中，記錄組件的溫度，并監(jiān)測在試驗中可能產(chǎn)生的任何斷路或漏電現(xiàn)象。

　　10.12.3雙箱法

　　10.12.3.1裝置

　　a)第一個試驗箱（試驗箱A)，有自動溫度和濕度控制，在相對濕度達到85％時，能將一個或多個組件從室溫加熱到85℃的能力。

　　b)第二個試驗箱（試驗箱B)，有自動溫度控制，能將組件從室溫冷卻到一40℃的能力。該室露點的確定與單箱法相同。

　　c）檢測組件溫度、內(nèi)部電連續(xù)性和絕緣完好性的儀器要求同單箱法。

　　10.12.3.2程序

　　a)將溫度傳感器置于組件中部的前或后表面。

　　b)確保試驗箱A和B內(nèi)空氣的溫度為室溫，相對濕度為85％±5%。

　　c）在室溫下將組件裝人試驗箱A，使其與水平面的傾角不小于5°。如組件的邊框?qū)щ姴缓?，將其安裝在一模擬敞開式支承架的金屬框架上。

　　d)將溫度傳感器接到溫度監(jiān)測儀，將組件的兩個引出端接到電連續(xù)性測試儀，將組件的一個引出端和框架或支承架連接到絕緣監(jiān)測儀。

　　e)關(guān)閉試驗箱，使組件經(jīng)受如圖12的所示的一個循環(huán)的第一部分，從室溫起升溫，又降至室溫。最高溫度應(yīng)在所設(shè)定值的±2℃以內(nèi)，此循環(huán)期間，相對濕度應(yīng)保持在85％±5%。

　　f)把處于室溫的組件盡可能快的移到試驗箱B，用如前所述的方法安裝，使其與水平面的傾角不小于50，重新連接溫度監(jiān)測儀、連續(xù)性測試儀和絕緣監(jiān)測儀。

　　g）關(guān)閉試驗箱，使組件經(jīng)受如圖12的所示的一個循環(huán)的第二部分，從室溫起降溫，又升至室溫。

　　最低溫度應(yīng)在所設(shè)定值的±2℃以內(nèi)。

　　h)重復(fù)步驟b)到g)，完成10次循環(huán)。在整個試驗過程中，記錄組件的溫度，并監(jiān)測在試驗中可能產(chǎn)生的任何斷路或漏電現(xiàn)象。

　　10.12.4最后試驗

　　在2h到4h的恢復(fù)時間后，重復(fù)10.1，10.2和10.3的試驗。

　　10.12.5要求

　　a)在試驗過程中無間歇斷路或漏電現(xiàn)象；

　　b）無第7章中規(guī)定的嚴(yán)重外觀缺陷；

　　c）絕緣電阻應(yīng)滿足初始試驗同樣的要求；

　　d)標(biāo)準(zhǔn)測試條件下最大輸出功率的衰減不超過試驗前測試值的5％。

　　10.13濕一熱試驗

　　10.13.1目的

　　確定組件承受長期濕氣滲透的能力。

　　10.13.2程序

　　試驗應(yīng)根據(jù)GB/T 2423.3-1993并滿足以下規(guī)定：

　　a)預(yù)處理

　　組件在本試驗前應(yīng)退火。“I-V測試前”是指該測試應(yīng)在退火后進行。注意在最后I-V測試前不要暴露組件于光照下。

　　將處于室溫下的組件放人試驗箱中。

　　b）嚴(yán)酷條件

　　在下列嚴(yán)酷條件進行試驗：

　　試驗溫度：85℃±20C；

　　相對濕度：85％±5％；

　　試驗時間：1000h。

　　C)恢復(fù)

　　組件經(jīng)受時間為2h至4h恢復(fù)期。

　　10.13.3最后試驗

　　恢復(fù)期結(jié)束后，重復(fù)10.1，10.2和10.3的試驗。

　　10.13.4要求

　　a)無第7章中規(guī)定的嚴(yán)重外觀缺陷；

　　b)絕緣電阻應(yīng)滿足初始試驗的同樣要求；

　　C）標(biāo)準(zhǔn)測試條件下最大輸出功率的衰減不超過試驗前的5％。

　　10.14引出端強度試驗

　　10.14.1目的

　　確定引出端及其與組件體的附著是否能承受正常安裝和操作過程中所受的力。

　　10.14.2引出端類型

　　考慮二種類型的組件引出端：

　　a)A型：直接自電池板引出的導(dǎo)線；

　　b）B型：接線片、接線螺栓、螺釘?shù)龋?/p>

　　C)C型：連接器。

　　10.14.3程序

　　預(yù)處理：在標(biāo)準(zhǔn)大氣條件下進行1h的測量和試驗。

　　10.14.3.1 A型引出端

　　拉力試驗：按GB/T 2423.29-1999中方法Ua規(guī)定，滿足下列條件：

　　a)所有引出端均應(yīng)試驗；

　　b)拉力不應(yīng)超過組件重量。

　　彎曲試驗：按GB/T 2423.29-1999中方法Ub規(guī)定，滿足下列條件：

　　a)所有引出端均應(yīng)試驗；

　　b)用方法1實施10次循環(huán)（每次循環(huán)為相反方向各彎曲一次）。

　　10.14.3.2 B型引出端

　　拉力和彎曲試驗：

　　a)對于引出端曝露在外的組件應(yīng)與A型引出端的試驗一樣，試驗所有引出端；

　　b）如果引出端封閉于保護盒內(nèi)，則應(yīng)采取如下程序：

　　1)將組件制造廠所推薦型號和尺寸的電纜切為合適的長度，依其推薦方法與盒內(nèi)引出端相接，利用所提供的電纜夾小心將電纜自密封套的小孔中穿出。盒蓋應(yīng)牢固放置原處，再按A型引出端的試驗方法進行試驗。

　　轉(zhuǎn)矩試驗：按GB/T 2423.29-1999中方法Ud規(guī)定，滿足下列條件：

　　2)所有引出端均應(yīng)試驗；

　　3）嚴(yán)酷度1。

　　除永久固定的指定設(shè)計外，螺帽、螺絲均應(yīng)能松啟。

　　10.14.3.3 C型引出端

　　將組件制造廠推薦型號和尺寸的電纜切為合適的長度與接插件線盒輸出端相接，然后按與A型引出端相同的試驗方法進行試驗。

　　10.14.4最后試驗

　　重復(fù)試驗10.1和10.2。

　　10.14.5要求

　　——無機械損壞跡象；

　　——在標(biāo)準(zhǔn)測試條件下，最大輸出功率的衰減不超過試驗前測試值的5％。

　　10.15扭曲試驗

　　10.15.1目的

　　檢查組件安裝于非理想結(jié)構(gòu)上可能造成的隱患。

　　10.15.2程序

　　a)裝備好組件以便于試驗過程中連續(xù)監(jiān)測其內(nèi)部電路的電連續(xù)性及絕緣電阻。絕緣電阻試驗法如10.3所述，此時只要組件某一引出端與絕緣測試儀相連。

　　b)保持組件的三個角在同一平面上。

　　c)自上述平面，移動第四個角如下距離：

　　10.15.3最后試驗

　　重復(fù)試驗10.1和10.2。

　　10.15.4要求

　　a)在試驗過程中無間歇斷路或漏電現(xiàn)象；

　　b)無第7章中規(guī)定的嚴(yán)重外觀缺陷；

　　c）標(biāo)準(zhǔn)測試條件下最大輸出功率的衰減不超過初始測試值的5%.

　　10.16機械載荷試驗

　　10.16.1目的

　　確定組件經(jīng)受風(fēng)、雪或覆冰等靜態(tài)載荷的能力。

　　10.16.2程序

　　a)裝備好組件以便于試驗過程中連續(xù)監(jiān)測其內(nèi)部電路的電連續(xù)性。

　　b)用制造廠所述的方法將組件安裝于一堅固支架上（如果有幾種方法，采用固定性最差的一種方式，即其固定點間距離是最大的）。

　　c)在前表面上，逐步均勻地將負荷加到2400Pa(負荷可采用氣動加壓，或充水的袋子覆蓋在整個表面上，對于后一種情況，組件應(yīng)水平放置），保持此負荷1h。

　　d)將組件仍置于同一支架上，在背面重復(fù)上述步驟。

　　e）重復(fù)步驟c)和步驟d).

　　陣風(fēng)安全系數(shù)為3時，2400Pa對應(yīng)于130km·h-1風(fēng)速的壓力（約±800Pa)。若要試驗組件承受冰和雪重壓的能力，則試驗過程中，加于組件前表面的負荷應(yīng)從2400P。增至5400Pa。

　　10.16.3最后試驗

　　重復(fù)10.1，10.2和10.3的試驗。

　　10.16.4要求

　　a)在試驗過程中無間歇斷路或漏電現(xiàn)象；

　　b)無第7章中規(guī)定的嚴(yán)重外觀缺陷；

　　c）絕緣電阻應(yīng)滿足初始試驗的同樣要求；

　　d)標(biāo)準(zhǔn)測試條件下最大輸出功率的衰減不超過初始測試值的5％。

　　10.17冰漁試驗

　　10.17.1目的

　　驗證組件能經(jīng)受住冰雹的撞擊。

　　10.17.2裝里

　　a)用于澆鑄所需尺寸冰球的合適材料的模具。標(biāo)準(zhǔn)直徑為25mm，對特殊環(huán)境可用表2所列其他尺寸。

　　b)一臺低溫箱，控制在-10℃±5℃范圍內(nèi)。

　　c)一臺溫度在-4℃±2℃范圍內(nèi)的儲存冰球的存儲容器。

　　d)一臺發(fā)射器，驅(qū)動冰球以所限定速度（可在±5％范圍內(nèi)）撞擊在組件指定的位置范圍內(nèi)。只要滿足試驗要求，冰球從發(fā)射器到組件的路徑可以是水平、豎直或其他角度。

　　e)一堅固支架以支撐試驗組件，按制造廠所描述的方法安裝，使碰撞表面與所發(fā)射冰球的路徑相垂直。

　　f)一臺天平來測定冰球質(zhì)量，準(zhǔn)確度為±2%。

　　9）一臺測量冰球速度的設(shè)備，準(zhǔn)確度為12%，速度傳感器距試驗組件表面1m以內(nèi)。

　　作為一個例子，圖13示出一組適合的裝置，包括：水平氣動發(fā)射器、垂直支承組件的安裝和測速器（用電子技術(shù)測量冰球穿過兩光束間距離所用時間來測量其速度）。

　　10.17.3程序

　　a）利用模具和低溫箱制備足夠試驗所需尺寸的冰球，包括初調(diào)發(fā)射器所需數(shù)量。

　　b)檢查每個冰球的尺寸、質(zhì)量及是否碎裂，可用冰球應(yīng)滿足如下要求：

　　1)肉眼看不到裂紋；

　　2)直徑在要求值±5％范圍內(nèi)；

　　3）質(zhì)量在表2中相應(yīng)標(biāo)稱值±5％范圍內(nèi)。

　　c)使用前，置冰球于儲存容器中至少1h。

　　d)確保所有與冰球接觸的發(fā)射器表面溫度均接近室溫。

　　e)用下述步驟9）的方法對模擬靶試驗發(fā)射幾次，調(diào)節(jié)發(fā)射器，使前述位置上的速度傳感器所測定的冰球速度在表2中冰雹相應(yīng)試驗速度的±5％范圍內(nèi)。

　　f)室溫下安裝組件于前述的支架上，使其碰撞面與冰球的路徑相垂直。

　　g）將冰球從儲存容器內(nèi)取出放人發(fā)射器中，瞄準(zhǔn)表3指定的第一個撞擊位置并發(fā)射。冰球從容器內(nèi)移出到撞擊在組件上的時間間隔不應(yīng)超過60s。

　　h)檢查組件的碰撞區(qū)域，標(biāo)出損壞情況，記錄下所有看得見的撞擊影響。與指定位置偏差應(yīng)不大于10mm。

　　i)如果組件未損壞，則對表3中其他撞擊位置重復(fù)步驟b）和h)，如圖14所示。

　　10.17.4最后試驗

　　重復(fù)10.1，10.2和10.3的試驗。

　　10,17.5要求

　　a）無第7章中規(guī)定的嚴(yán)重外觀缺陷；

　　b)絕緣電阻應(yīng)滿足初始試驗的同樣要求；

　　c)標(biāo)準(zhǔn)測試條件下最大輸出功率的衰減不超過初始測試值的5％。

　　10.18光老煉試驗

　　10.18.1目的

　　通過模擬太陽輻射的方法，穩(wěn)定薄膜組件的電性能。

　　10.18.2裝置

　　a）符合IEC 60904-9：1995的C類太陽模擬器。

　　b)帶積分器的標(biāo)準(zhǔn)裝置，以監(jiān)測輻射量。

　　c）用制造廠推薦的安裝方法安裝組件，與標(biāo)準(zhǔn)裝置共平面安裝。

　　d)兩只準(zhǔn)確度為±0.5℃的熱電偶連接到每個組件背面，一只接于中部，另一只接于邊緣，應(yīng)確保連接具有良好的導(dǎo)熱性能。

　　e)保持組件溫度在確定溫度±2℃以內(nèi)的裝置，該溫度由兩只熱電偶的平均溫度確定。

　　10.18.3程序

　　a)使組件開路，用制造廠推薦的方法將其與標(biāo)準(zhǔn)器件安裝在模擬器測試平面上。

　　b)將輻照度設(shè)置在800W·m-2和1000W·m-2間，用標(biāo)準(zhǔn)裝置記錄輻照度。

　　c）確認組件溫度在40℃-50℃范圍內(nèi)，其溫度變化小于±2℃，記錄溫度。

　　d)輻照各組件，直到最大功率值在連續(xù)二個以上時段（每個時段至少48h)的變化在2％以內(nèi)。

　　進行最大功率值的測量時，組件的溫度可根據(jù)試驗方便選取，但各次間的變化應(yīng)在±2℃。

　　e)記錄達到穩(wěn)定時的輻射量。

　　10.18.4最后試驗

　　重復(fù)10.1，10.2及10.3的試驗。

　　10.18.5要求

　　a)無第7章中規(guī)定的嚴(yán)重外觀缺陷；

　　b）絕緣電阻應(yīng)滿足初始試驗的同樣要求。

　　c）最終的光老煉之后，標(biāo)準(zhǔn)測試條件下的最大輸出功率應(yīng)不低于第4章所述制造廠規(guī)定的最小值的90％。

　　10.18.6試驗報告

　　下列試驗條件及結(jié)果應(yīng)報告：

　　a)試驗期間的平均輻照度；

　　b)試驗結(jié)束時的輻射量；

　　c)試驗期間組件的溫度；

　　d)試驗前后組件的最大功率。

　　10.19退火試驗

　　10.19.1目的

　　在鑒定試驗前，將薄膜組件退火。如不退火，在后續(xù)程序試驗過程中的加熱可能掩蓋其他原因引起的衰減。

　　10.19.2裝置

　　可保持85℃±2℃試驗溫度的高溫室。

　　10.19.3程序

　　試驗應(yīng)遵循IEC 60068-2-2：1988規(guī)定的試驗Ba或Bb、干熱試驗，并滿足以下條件：

　　a)預(yù)處理

　　室溫下的組件未經(jīng)預(yù)處理放人高溫室內(nèi)。

　　b)嚴(yán)酷條件

　　1)試驗溫度：85℃±2℃

　　2)試驗周期：退火處理各組件，直到最大功率值在連續(xù)三個以上時段（每個時段至少20h)的變化在2％以內(nèi)。進行最大功率值的測量時，組件的溫度可根據(jù)試驗方便選取，但各次間的變化應(yīng)在±2℃。

　　c)恢復(fù)

　　組件應(yīng)經(jīng)過足夠恢復(fù)時間，使其溫度穩(wěn)定至室溫。

　　10.19.4最后試驗

　　重復(fù)10.1，10.2及10.3的試驗。

　　10.19.5要求

　　a)無第7章中規(guī)定的嚴(yán)重外觀缺陷；

　　b)絕緣電阻應(yīng)滿足初始試驗的同樣要求；

　　c）標(biāo)準(zhǔn)測試條件下的最大輸出功率應(yīng)不低于第4章所述制造廠規(guī)定的最小值。

　　10.19.6試驗報告

　　下列試驗條件及結(jié)果應(yīng)報告：

　　a）退火時間；

　　b)試驗前后組件的最大輸出功率。

　　10.20濕漏電流試驗

　　10.20.1目的

　　評價組件在潮濕工作條件下的絕緣性能，驗證雨、霧、露水或溶雪的濕氣不能進人組件內(nèi)部電路的工作部分，如果濕氣進人到該處可能會引起腐蝕、漏電或安全事故。

　　該試驗可采用兩種方法：

　　a)邊緣浸泡法；

　　b）淹沒法。

　　10.20.2裝置

　　a）盛有符合以下要求的水或溶液的槽或容器：

　　電阻率：不大于35000Ω·cm；

　　表面張力：不大于3N·M-2；

　　溫度：22℃±3℃。

　　)邊緣浸泡法：容器應(yīng)足夠大，溶液應(yīng)足夠深，以依次浸泡組件的每個邊緣，溶液面應(yīng)高于組件芯板與邊框的結(jié)合處。容器應(yīng)有安全支撐組件的裝置。

　　2)淹沒法：容器尺寸應(yīng)可以將組件水平放置于溶液內(nèi)，溶液深度應(yīng)完全覆蓋所有表面（除不適宜浸泡的接線盒人口之外）。

　　b)盛有相同溶液的噴淋裝置。

　　c)能限流的500V直流電源。

　　d)測量漏電流的裝置。

　　e)如果組件沒有導(dǎo)電邊框，則需一個導(dǎo)電網(wǎng)、金屬薄片或支架。

　　10.20.3程序一邊緣浸泡法

　　所有連接必須代表推薦的各種現(xiàn)場安裝接線方式，并小心確保連接于組件的儀器設(shè)備不產(chǎn)生漏電流。

　　a）如需要，使組件的外表面均連接導(dǎo)電網(wǎng)、金屬薄片或支架。

　　b)在容器內(nèi)浸泡組件某一邊緣30s，不要泡到引出端或引線盒。用噴淋裝置，徹底澆濕引線盒及引線引出點。在整個30s的浸泡時間內(nèi)，連續(xù)噴淋以保持該濕潤狀態(tài)。

　　c）將組件輸出端短路，連接到測試設(shè)備的正極，將組件的任何暴露的金屬部分、導(dǎo)電邊框、導(dǎo)電網(wǎng)、金屬薄片或支架接地，并連接到測試設(shè)備的負極。

　　d)以不超過500V·s-1的速度增加測試設(shè)備所施加的電壓直到500V，保持該電壓2min，測試漏電流。

　　e)減低電壓到零，將測試設(shè)備的引出端短路2min，同時保持與組件的所有連接。

　　f)對該組件的其他邊緣重復(fù)步驟b)到e)。

　　10.20.4程序一淹沒法

　　所有連接應(yīng)代表推薦現(xiàn)場安裝接線情況，并小心確保連接于組件的儀器設(shè)備不產(chǎn)生漏電流。

　　a)在盛有要求溶液的容器內(nèi)淹沒組件，其深度應(yīng)有效覆蓋所有表面，不要泡到?jīng)]有為浸泡而設(shè)計的引線盒人口。引線人口應(yīng)用溶液徹底噴淋。

　　b)將組件輸出端短路，連接到測試設(shè)備的正極，使用適當(dāng)?shù)慕饘賹?dǎo)體將測試液體連接到測試設(shè)備的負極。

　　c)以不超過500V·s-1的速度增加測試設(shè)備所施加的電壓直到500V，保持該電壓2min，測試漏電流。

　　d)減低電壓到零，將測試設(shè)備的引出端短路2min，同時保持與組件的所有連接。

　　10.20.5要求

　　a）在執(zhí)行步驟10.20.3d)和10.20.4c）過程中，沒有介質(zhì)擊穿或表面開裂。

　　b)漏電流小于10μA，每增加1m2組件面積可增加5μA。對于邊緣浸泡法，所有邊緣測得的漏電流的總和不應(yīng)超出該要求。