核科學技術術語 第6部分：核儀器儀表（GB/T 4960.6-2008）

1范圍 　　GB/T 4960的本部分規(guī)定了核輻射探測器、通用核儀器、核設施儀表和控制、輻射防護儀器及核輻射應用儀器等核儀器的基本術語和定義。 　　本部分適用于有關核儀器標準、合同、報告和技術規(guī)格書等技術文件的編寫，文獻翻譯以及技術交流等。 　　2核輻射探測器 　　2.1核輻射探測器通用術語 　　2.1.1 　　核輻射探測器radiation detector 　　用于將人射(致)電離輻射(以下簡稱電離輻射)能量轉換為適合于指示和(或)測量信號的器件或材料。 　　[IEV 394-24-01] 　　2.1.2 　　線性探測器linear detector 　　輸出信號與入射粒子能量呈線性關系的核輻射探測器。 　　注：輸出信號是-個與在探測器靈敏體積中所損失能量有關的量。 　　[IEV 394-24-02] 　　2.1.3 　　非線性探測器non-linear detector 　　輸出信號與入射粒子能量呈非線性關系的核輻射探測器。 　　[IEV 394-24-03] 　　2.1.4 　　模擬探測器analogue detector 　　以模擬量形式提供輻射信息的探測器。 　　2.1.5 　　脈沖探測器pulse detector 　　以脈沖信號形式提供輻射信息的探測器。 　　2.1.6 　　活化探測器activation detector 　　利用在核輻射輻照下產生的感生放射性來測定輻射粒子注量(率)的探測器。 　　2.1.7 　　自給能探測器self-powered detector 　　無需外加電源，通過中子或γ射線的活化和(或)激發(fā)作用產生弱電信號的中子或γ射線探測器。 　　[IEV 394-24-04] 　　2.1.8 　　中子熱電偶neutron thermopile 　　通過吸收中子誘發(fā)反應產生的粒子而使材料變熱，使用熱電偶測量的中子探測器。 　　[IEV 394-24-05] 　　2.1.9 　　電荷發(fā)射探測器charge emi$ion detector 　　在電離輻射作用下所產生的帶電粒子從-個極板轉移到另-個極板而改變極板間電位差的電容器式探測器。 　　2.1.10 　　2π核輻射探測器2π radiation detector 　　在立體角為2”球面度的范圍內，用于探測核輻射的探測器。 　　[IEV 394-24-06] 　　2.1.11 　　4π核輻射探測器4π radiation detector 　　在立體角為4π球面度的范圍內，用于探測核輻射的探測器。 　　[IEV 394-24-06] 　　2.1.12 　　井型探測器well-type detector 　　其靈敏體積中具有井型結構的核輻射探測器。將被測核素置于井型結構中，可在立體角接近4π球面度的范圍內用于α、β、γ或x發(fā)射體的高效探測。 　　[IEV 394-24-11] 　　2.1.13 　　化學探測器chemical detector 　　利用電離輻射在其靈敏體積材料中誘發(fā)的化學反應產物來探測電離輻射的探測器。 　　2.1.14 　　輻射損傷探測器radiodefect detector 　　利用電離輻射在其靈敏體積材料中產生的缺陷來探測輻射的探測器。 　　2.1.15 　　浸入式探測器dip detector 　　浸入或淹沒在待測活度液體中的核輻射探測器。 　　[IEV 394-24-13] 　　2.1.16 　　核乳膠nuclear emulsion 　　用于記錄單個電離粒子徑跡的照相乳膠。 　　注：使用反沖質子的方法，核乳膠也可用于探測快中子。 　　[IEV 394-24-13] 　　2.1.17 　　輻射發(fā)光探測器radioluminescence detector 　　利用探測器中的靈敏體積材料在輻射作用下的發(fā)光效應的探測器。 　　2.1.18 　　閾探測器threshold detector 　　利用閾反應原理制成的探測器。 　　2.1.19 　　次級發(fā)射探測器secondary emi∞ion detector 　　由限定容積的真空腔體構成的核輻射探測器。由腔壁上射出的二次電子在適當外加電壓作用下收集而形成探測器電流。 　　2.1.20 　　量熱探測器calorimetric detector 　　其信號是在探測器靈敏體積材料中吸收電離輻射所產生的熱能度量值的核輻射探測器。 　　[IEV 394-24-08] 　　2.1.21 　　總電離total ionization 　　直接電離粒子以任何方式所產生的離子對總數。 　　2.1.22 　　探測效率detection efficiency 　　在規(guī)定的幾何條件下，單位時間探測到的某類型粒子數與輻射源同類型粒子的表面發(fā)射率之比。 　　[IEV 394-38-18] 　　2.1.23 　　探測器效率detector efficiency 　　探測器測到的光子數或粒子數與同-時間間隔內入射到探測器上的同類型的光子數或粒子數之比。 　　[IEv 394-38-17] 　　2.1.24 　　(探測器的)選擇性sel∞tivity(of a detector) 　　探測器對被測電離輻射的靈敏度與同-探測器對總的入射輻射靈敏度之比。 　　[IEv 394-38-21] 　　2.1.25 　　感應度 innuenceability 　　當所有其他的影響量均保持不變時，探測器對某種伴生輻射的感應度為輸出量的變化(探測器響應)與輸入量的變化(伴生輻射引起的)之比。 　　當探測器的工作受某種伴生輻射干擾而有反應時，即稱該探測器對這種輻射是有感應的.這種伴生輻射就成為-種影響量。 　　2.1.26 　　(探測器的)窗window(of u detector) 　　探測器中用于保護靈敏體積不受外部影響并允許被測輻射穿透的部分。 　　[IEV 394-30-16] 　　2.1.27 　　(探測器的)靈敏體積sensitive volume(of a detector) 　　探測器中對輻射靈敏并能提供信號的那部分體積。 　　2.1.28 　　中子靈敏材料neutron sensitive material 　　利用中子探測器的襯里或所充氣體以直接產生電離粒子(包括核反應的裂變碎片)的材料。 　　[IEV 394-30-07] 　　2.1.29 　　(探測器的)使用壽命useful life(of a detector) 　　在限定的輻射和環(huán)境條件下，探測器的特性能保持在規(guī)定的容差范圍內的最長使用時間或最大累計計數。 　　2.1.30 　　(中子探測器的)燃耗壽命burn-uplife(of a neutron detector) 　　中子探測器對給定能量分布的中子注量所能承受的估計值。超過此值后，探測器的靈敏材料將消耗到使探測器的性能指標超出規(guī)定的容差。 　　2.1.31 　　電離電流ionization current 　　在被電離的介質中所產生的離子和電子在電場的作用下移動并被電極收集而形成的電流。 　　[IEV 394-38-24] 　　2.1.32 　　(探測器的)剩余電流residual current(of a detector) 　　在探測器不再承受外輻射以后繼續(xù)產生的電流。 　　注：剩余電流是由于探測器組成材料的活化、污染及其絕緣質量不好而產生的電流。 　　[IEV 394-38-25] 　　2.1.33 　　漏電流leakage current 　　探測器在工作電壓下，無輻照時產生的電流。 　　[IEV 394-38-26] 　　2.1.34 　　電子收集時間electron collection time 　　由電離輻射在給定點產生的離子對到收集電極收集相應的電子之間的時間間隔。 　　[IEV 394-38-28] 　　2.1.35 　　離子收集時間ion collection time 　　由電離輻射在給定點產生的離子對到收集電極收集相應的離子之間的時間間隔。 　　[IEV 394-38-27] 　　2.1.36 　　壁效應wall effect 　　壁材料的組分和厚度對測量結果產生的影響。 　　[IEV 394-38-23] 　　2.1.37 　　(探測系統(tǒng)的)等效窗厚度equivalent window thickness(of a detector system) 　　垂直入射到探測器的-個粒子穿過-定厚度到達該探測器靈敏體積的表面，此厚度用單位面積的質量(mg/cm2)表示。 　　[IEV 394-39-44] 　　2.1.38 　　康普頓連續(xù)譜Compton continuum 　　探測器中釋放的康普頓電子形成的連續(xù)脈沖幅度譜。 　　[IEV 394-38-55] 　　2.1.39 　　蝕刻斑痕etch pit 　　在某些塑料表面因蝕刻可察覺的斑痕，系由質子和其他原子核的徑跡造成的。 　　注：這些徑跡實際上是由塑料中較輕原子核被置換而造成的。 　　[IEV 394-24-14] 　　2.1.40 　　收集電極collecting electrode 　　電離室或計數管的電極，用于收集電離輻射產生的電子或離子。 　　[IEV 394-30-04] 　　2.1.41 　　(探測器的)最大可接受輻照率maximum acceptable irradiation rate(of a detector) 　　探測器能在規(guī)定條件下工作的最高劑量率或粒子注量率。 　　[IEV 394-38-58] 　　2.1.42 　　磷光phosphorescence 　　撤去激勵輻照后繼續(xù)保持相當長時間的發(fā)光現象。 　　[IEV 394-38-59] 　　2.1.43 　　熒光 fluorescence 　　僅在輻照期間可觀測的發(fā)光現象。 　　[IEV 394-38-60] 　　2.1.44 　　熱釋光 (radio)thermoluminescence 　　當某些晶體物質受到電離輻照或紫外線輻照后受熱時出現的發(fā)光現象。 　　[IEV 394-38-61] 　　2.1.45 　　能譜峰spectral peak 　　能譜中包含-個局部最大值的那部分。 　　注：通常是-次單能輻射的全部能量。 　　[IEV 394-38-66] 　　2.1.46 　　(核輻射探測器的)偏置bias(of a radiation detector) 　　為了探測器能產生收集信號電荷所需的電場而施加的電壓。 　　[IEv 394 38-67] 　　2.1.47 　　(核輻射探測器的)甄別閾discrimination threshold(of a radiation detector) 　　在其以下脈沖不能被收集的限值。 　　[IEV 394-38-68] 　　2.1.48 　　譜(脈沖高度分布)spectrum(of apulse height distribution) 　　脈沖的數量作為脈沖高度的函數。 　　[IEV 394-38-69] 　　2.1.49 　　能量窗energy window 　　在能量上、下限之內的那部分能譜。 　　[IEV 394-38-70] 　　2.1.50 　　劑量反射率dose albedo 　　在給定的表面上，反射輻射產生的劑量與入射輻射產生的劑量之比。 　　[IEV 394-38-71] 　　2.1.51 　　微分劑量反射率differential dose albedo 　　從表面向某-方向反射輻射產生的劑量與入射輻射產生的劑量之比。 　　[IEV 394-38-72] 　　2.2氣體電離探測器 　　2.2.1 　　電離探測器ionization detector 　　利用探測器靈敏體積中的電離效應而獲得信號的核輻射探測器。 　　[IEv 394-25-01] 　　2.2.2 　　脈沖電離探測器pulse ionization detector 　　能探測單個電離事件的電離探測器。 　　注1：脈沖電離探測器通常分為三種工作模式： 　　——電離模式．對應的工作電壓范圍是未發(fā)生氣體中的放大的區(qū)域．脈沖幅度是一次電離事件在靈敏體積中產生的離子總數的直接度量，例如電離室； 　　——正比模式，對應的工作電壓范圍是氣體中放大系數與初始電離無關的區(qū)域件在靈敏體積中產生的離子總數，例如正比計數管； 　　——蓋革米勒模式，對應的工作電壓范圍是每次電離事件都給出一個輸出脈沖敏體積中初次產生的離子數無關，例如蓋革米勒計數管。 　　注2：脈沖電離探測器內充一種適當氣體或氣體混合物，并加有工作電壓以產生電場測器靈敏體積中產生的離子和電子收集在電極上。 　　[IEV 394 25-03] 　　2.2.3 　　流氣式探測器gas-flow detector 　　借助于氣體在探測器中的低速流動，以保持其中充有適當的氣體介質的核輻射探測器。 　　注：例如： 　　——流氣式電離室； 　　——流氣式計數管。 　　[IEv 394-25-30] 　　2.2.4 　　內充氣體探測器internal gas detector 　　測量充在探測器內的全部或部分氣體的放射性活度的核輻射探測器，例如內充氣體放射源的電離室。 　　2.2.5 　　電離室ionization chamber 　　充有合適的氣體或混合氣體或保持真空并加有電場的電離探測器，所加電場不足以產生氣體放大作用，卻能將電離輻射在探測器靈敏體積中產生的離子和電子收集到電極上。 　　注1：例如： 　　——脈沖電離室； 　　——積分電離室； 　　——電流電離室。 　　注2：真空電離室靠室壁效應及所加電場探測射線。 　　[IEV 394-25-02] 　　2.2.6 　　電子收集脈沖電離室electron collection pulse ionization chamber 　　利用電子遷移率比離子遷移率高很多，主要收集電子而獲得輸出信號的脈沖電離室。 　　[IEV 394-25-05] 　　2.2.7 　　離子收集脈沖電離室ion collection pulse ionization chamber 　　由全部收集離子和電子而獲得輸出信號的脈沖電離室。 　　[IEV 394-25-06] 　　2.2.8 　　屏柵電離室grid ionization chamber 　　由-對平板電極和處于其問的-個稱為Frisch柵極的附加電極組成的電離室。 　　注：屏柵電離室是-種脈沖電離室，通常用于測量α粒子或裂變碎片的能量，其附加電極保持在中間電位以減少重離子的影響。 　　[IEV 394-25-07] 　　2.2.9 　　三氟化硼電離室boron trifluoride ionization chamber 　　使用三氟化硼氣體來探測熱中子的電離室。 　　注：電離是由中子與硼進行核反應所產生的α粒子和鋰核引起的。 　　[IEV 394-25-08] 　　2.2.10 　　涂硼電離室boron-lined ionization chamber 　　使用電離室壁上或在形狀適宜的電極上的硼靈敏層來探測熱中子的電離室。 　　注：電離是由中子與涂層中的硼進行核反應所產生的α粒子和鋰核引起的。 　　[IEV 394-25-09] 　　2.2.11 　　裂變電離室fission ionization chamber 　　使用裂變物質作靈敏層來探測中子的電離室。 　　注1：電離是由中子和可裂變物質進行核反應所產生的裂變碎片引起的。 　　注2二根據所使用的可裂變物質，探測熱中子、快中子或各種能量的中子都是可能的。 　　注3：見裂變[IEV 393-11-26]和可裂變[IEV 393-11-28]的定義。 　　[IEV 394-25-10] 　　2.2.12 　　反沖核電離室recoil nuclei ionization chamber 　　利用快中子與低原子序數核碰撞形成的反沖核產生的電離來探測快中子的電離室。 　　注：當所充氣體是氫氣時，反沖核電離室稱為反沖質子電離室。 　　[IEV 394-25-22] 　　2.2.13 　　反沖質子電離室recoil proton ionization chamber 　　利用快中子與氫核碰撞產生質子來探測快中子的含氫電離室。 　　[IEV 394-25-31] 　　2.2.14 　　自由空氣電離室free air ionization chamber 　　靈敏體與大氣相通.以空氣作為介質的，主要用于照射量絕對測量的電離室。 　　注1：電離室的設計要準確規(guī)定計算照射量所依據的空氣體積，并且輻射柬及其產生的大部分次級電子都不會打到電極上。 　　注2：電離室的設計要保證：可以準確規(guī)定計算照射量所依據的空氣體積，并且輻射束及其產生的可觀數量的次級電子都不會打到電極上。 　　[IEV 394-25-13] 　　2.2.15 　　空氣等效電離室air-equivalent ionization chamber 　　室壁和電極材料以及所充氣體與空氣具有相同有效原子序數的電離室。 　　注：當空氣等效電離室是以自由空氣電離室校準時，可用它確定空氣中的吸收劑量或空氣比釋動能。在該電離室內產生的電離與沒有電離室的情況下在同-點的空氣中產生的電離實質上是-樣的。 　　[IEV 394-25-15] 　　2.2.16 　　布拉格-戈瑞空腔電離室Bragg-Gray cavity ionization chamber 　　用于確定介質中X或7輻射或中子的吸收劑量或空氣比釋動能的電離室。 　　注：該電離室的特性(例如：靈敏體積、氣體壓力、室壁的性質和厚度)滿足布拉格-戈瑞空腔規(guī)定的條件，即其體積應小于電離粒子的路徑。 　　[IEv 394-25-14] 　　2.2.17 　　液體壁電離窒liquid-wall ionization chamber 　　使液體的表面構成室壁，用于測量該液體的a或p放射性活度的電離室。 　　[IEV 394-25-16] 　　2.2.18 　　無壁電離室wall-less ionization chamber 　　靈敏體積不是由電離室壁限定.而是由電場的電力線所限定的電離室，該電場取決于電極的形狀、排列方式和電極間的電位差。 　　[IEV 394-25-l 7] 　　2.2.19 　　組織等效電離室tissue equivalent ionization chamber 　　用于測量組織中吸收劑量的電離室，其中電離室壁的材料、電極和所充氣體與軟組織具有相同的有效原子序數。 　　[IEV 394-25-18] 　　2.2.20 　　差分電離室difference ionization chamber 　　結構上分為兩部分的電離室，其輸出電流為兩部分電離電流的差。 　　[IEv 394-25-19] 　　2.2.21 　　補償電離室compensated ionization chamber 　　其設計實際上可消除疊加在被測輻射上的其他輻射影響的差分電離室。 　　注：通常，設計補償是為了有效降低中子-γ混合場中γ輻射的影響。 　　[IEV 394-25-20] 　　2.2.22 　　外推電離室extrapolation ionization chamber 　　為了外推出電離室對靈敏質量為零時的響應，可改變某個特性(通常是電極間的距離)的電離室。 　　[IEV 394-25-21] 　　2.2.23 　　內充氣體放射源電離室ionization chamber with internal gas source 　　全部或部分充有待測活度的放射性氣體的電離室。 　　[IEV 394-25-25] 　　2.2.24 　　電容器電離室capacitor ionization chamber 　　測量因輻射誘發(fā)的電容放電引起構成電容器的電極間電位差變化的電離室。 　　[IEV 394-25-26] 　　2.2.25 　　2π電離室2π ionization chamber 　　用于在立體角為2π球面度的范圍內探測放射源輻射的電離室。 　　[IEv 394-25-27] 　　2.2.26 　　4π電離室4π ionization chamber 　　用于在立體角為4π球面度的范圍內探測放射源輻射的電離室。 　　[IEV 394-25-27] 　　2.2.27 　　井型電離室well-type ionization chamber 　　用于在立體角接近4π的范圍內測量輻射體放射性活度的電離室。在電離室內有一中心圓柱形的井，被測源就放置于井中。 　　[IEV 394-25-24] 　　2.2.28 　　駐極體電離室electret ionization chamber 　　永久極化電介質電離室electret ionization chamber 　　-種電離室，其中高壓電極用具有永久性表面電位的駐極體或永久極化電介質代替.由于所充氣體的電離.駐極體的表面電位降低，可用來測量待測的輻射劑量。 　　[IEV 394-25-28] 　　2.2.29 　　脈沖電離室pulse ionization chamber 　　對每次探測到的電離事件都產生-個輸出脈沖的電離室。 　　[IEV 394-25-04] 　　2.2.30 　　積分電離室integrating ionization chamber 　　用于測量在預定時間間隔內出現的多次獨立電離事件產生的累積電荷的電離室。 　　[IEv 394-25-11] 　　2.2.31 　　電流電離室current ionization chamber 　　由于電離輻射而產生電離電流的電離室。 　　[IEV 394-25-12] 　　2.2.32 　　指形電離室thimble ionization chamber 　　外部電極的形狀和尺寸類似于指套簡的電離室。 　　[IEV 394-25-23] 　　2.2.33 　　流氣式電離室gas-flow ionization chamber 　　其內部有氣體連續(xù)流過的電離室。 　　[IEV 394-25-29] 　　2.2.34 　　漂移室drift chamber 　　利用測量電離電子在電場中的漂移時間來確定入射粒子的氣體探測器，例如多絲漂移室、均勻電場漂移室和可調電場漂移室等。 　　2.2.35 　　多絲正比窒 multi-wire proportional chamber 　　由-系列平行且等間距的陽極絲構成的平面，置于上下對稱的兩個陰極絲平面之間所構成的正比型氣體探測器。室內充有氣壓略高于大氣壓的氣體，陰、陽極之間加有一定電壓，當入射帶電粒子在室內氣體中產生的初始電離電子漂移到陽極附近時產生氣體放大.從而在絲上產生脈沖信號，它可提供入射粒子能量損失和兩維位置信息。 　　2.2.36 　　計數管counter tube 　　工作在正比區(qū)或蓋革-米勒區(qū)的脈沖電離探測器。 　　[IEV 394-29-01] 　　2.2.37 　　正比計數管proportional counter tube 　　工作在正比區(qū)的計數管。 　　[IEV 394-29-02] 　　2.2.38 　　浸入式計數管dip counter tube 　　可浸人或淹沒在液體中測量其活度的計數管。 　　[IEV 394-29-12] 　　2.2.39 　　火花計數管spark counter 　　當強電離粒子通過時，能在電極間產生火花的核輻射探測器。 　　[IEV 394-29-16] 　　2.2.40 　　強流計數管strong current counter tube 　　在-定范圍內，其輸出平均電流與入射的γ射線強度的對數成正比，用于探測高強度γ射線的鹵素計數管。 　　2.2.41 　　三氟化硼正比計數管boron trifluoride proportional counter tube 　　充有三氟化硼氣體，利用中子和硼的核反應所產生的α粒子和鋰引起的初始電離來探測熱中子的正比計數管。 　　[IEV 394-29-08] 　　2.2.42 　　涂硼正比計數管boron-lined proportional counter tube 　　在壁上或適當形狀的電極上涂有硼靈敏層，利用中子和硼的核反應所產生的α粒子和鋰核引起的初始電離來探測熱中子的正比計數管。 　　2.2.43 　　氧計數管helium counter tube 　　充有氦-3、用于探測中子的正比計數管。 　　注：初始電離是由中子與氦-3進行核反應所產生的質子和氚核目i起的。 　　[IEV 394-29-05] 　　2.2.44 　　反沖質子計數管recoil proton counter tube 　　含有氫或含氫物質，利用快中子和氫核碰撞產生的反沖質子引起的電離來探測快中子的計數管。 　　2.2.45 　　反沖核計數管recoil nuclei counter tube 　　利用快中子和低原子序數的原子核碰撞產生的反沖核引起電離來探測快中子的計數管。 　　注：如果初始電離是由反沖質子引起的，這種計數管稱為反沖質子計數管。 　　[IEV 394-29-06] 　　2.2.46 　　薄壁計數管thin wall counter tube 　　管壁的吸收低到足以能探測低能輻射的計數管。 　　[IEV 394-29-09] 　　2.2.47 　　窗計數管window counter tube 　　外壁上被稱為“窗”的部分吸收低到足以能探測低能輻射的計數管。 　　注：例如： 　　——側窗計數管； 　　——鐘罩計數管。 　　[IEV 394-29-10] 　　2.2.48 　　裂變計數管fission counter tube 　　含有可裂變物質的靈敏襯里、用于探測熱中子和快中子的計數管。 　　注：初始電離主要由中子和靈敏襯里進行核反應所產生的裂變碎片引起。 　　[IEV 394-29-11] 　　2.2.49 　　液體計數管liquid counter tube 　　用于測量液體放射性活度的計數管.其典型結構為圓柱形管，外面套有-個同軸固定式的或可移動的圓柱形杯。 　　注：被測放射性液體置于杯與計數管之間的環(huán)狀空間內。 　　[IEv 394-29-13] 　　2.2.50 　　外陰極計數管external cathode counter tube 　　管殼-般為玻璃、其外表面涂覆碳或金屬構成陰極的計數管。 　　[IEV 394-29-14] 　　2.2.51 　　平面計數管flat counter tube 　　由兩塊金屬平行板陰極及在平行板間懸掛著若干條互相平行且與平板相平行的金屬絲陽極構成的正比計數管。 　　2.2.52 　　電暈計數管corona counter tube 　　由電離粒子引起電流急劇變化，并能維持電暈放電的計數管。 　　[IEV 394-29-15] 　　2.2.53 　　蓋革·米勒計數管Geiger-Mfiller counter tube 　　工作在雪崩區(qū)(蓋革-米勒區(qū))的計數管。 　　[IEV 394-29-07] 　　2.2.54 　　自猝滅計數管self-quenched counter tube 　　僅靠所充氣體而不采取其他措施就能猝滅的蓋革米勒計數管。 　　注：例如： 　　——鹵紊猝滅計數管； 　　——有機蒸汽猝滅計數管。 　　[IEV 394-29-08] 　　2.2.55 　　保護環(huán)guard ring 　　用于降低電離室或計數管的收集電極與其他電極問的漏電流和(或)限定電位梯度及靈敏體積的一種輔助電極。 　　[IEv 394-30-05] 　　2.2.56 　　收集極collecting electrode 　　在電離室或計數管中，用于收集由電離輻射產生的電子或離子的電極。 　　2.2.57 　　猝滅quenching 　　在蓋革-米勒計數管中，單次電離事件后，為阻止其后的連續(xù)或多次放電，而終止電離雪崩的過程。 　　[IEV 394-38-49] 　　2.2.58 　　猝滅電路quenching circuit 　　在單次電離事件發(fā)生后，通過降低、抑制或反向加在蓋革米勒計數管電極上的電位來實現猝滅的電路。 　　[IEv 394-30-08] 　　2.2.59 　　猝滅氣體quenching gas 　　為確保放電的自猝滅，充人蓋革米勒計數管內的混合氣體的組分。 　　[IEV 394-30-09] 　　2.2.60 　　氣體放大gas multiplication 　　由入射電離輻射在氣體中產生的離子對，在足夠強的電場作用下生成更多離子對的過程。 　　[IEV 394-38-36] 　　2.2.61 　　氣體放大因子gas multiplication factor 　　經氣體放大后的最終離子對數與初始離子對數之比。 　　[IEV 394-38-39] 　　2.2.62 　　湯森雪崩Townsend avalanche 　　-個帶電粒子由于碰撞而迅速產生大量次級帶電粒子的氣體放大過程。 　　[IEV 394-38-37] 　　2.2.63 　　正比區(qū)proportional region 　　計數管所加的工作電壓范圍，在此電壓范圍內氣體放大因子大于l，且實際上與單次電離事件在計數管靈敏體積內最初生成的離子對總數無關，其脈沖幅度正比于最初的離子對總數。 　　[IEV 394-38-41] 　　2.2.64 　　有限正比區(qū)region of limited proportionality 　　處于正比區(qū)與蓋革-米勒區(qū)之間的計數管的工作電壓范圍內.在此電壓范圍內氣體放大因子與計數管靈敏體積內最初生成的離子對總數有關。 　　[IEV 394-38-42] 　　2.2.65 　　蓋革-米勒區(qū)Geiger-Mfiiler region 　　在計數管的工作電壓范圍內，且氣體放大因子足夠大.脈沖幅度基本上與計數管靈敏體積內最初生成的離子對總數無關。 　　[IEV 394-38-43] 　　2.2.66 　　蓋革-米勒閾Geiger-Miiller threshold 　　計數管工作于蓋革-米勒區(qū)所需加的最低電壓。 　　[IEV 394-38-44] 　　2.2.67 　　(計數管的)臨界電場critical field(of a counter tube) 　　引起氣體放大所需的最小電場強度。 　　[IEV 394-38-38] 　　2.2.68 　　(計數管的)邊緣效應end effect(of a counter tube) 　　由于靠近計數管收集極邊緣電場的畸變，而對測量結果產生影響的效應。 　　[IEV 394-38-40] 　　2.2.69 　　(蓋革-米勒計數管的)過電壓overvoltage(of a Geiger-Miiller counter tube) 　　工作電壓與蓋革-米勒闞之間的差。 　　[IEV 394-38-45] 　　2.2.70 　　(探測器脈沖模式下的)死時間dead time(in a detector operating in pulse mode) 　　探測器在脈沖模式下工作時，單次電離事件產生-個脈沖之后，不能響應后繼的電離事件的時間問隔。 　　[IEV 394-38-50] 　　2.2.71 　　坪plateau 　　核輻射探測器特性曲線的-部分，在此區(qū)間測得的電流或計數率與外加電壓基本無關。 　　[IEV 394-38-47] 　　2.2.72 　　坪斜plateau relative slope 　　坪區(qū)的斜率，表示外加電壓每變化100V時電流或計數率變化的百分數。 　　[IEV 394-38-48] 　　2.2.73 　　(核輻射探測器的)特性曲線characteristic curve(of radiation detector) 　　所有其他參數都不變的情況下，表示計數率或電流作為核輻射探測器工作電壓函數的關系曲線。 　　注1：這條曲線是所有探測器在脈沖模式下工作的-種特性。 　　注2：對于在電流模式下工作的探測器，此特性曲線是飽和曲線。 　　[IEV 394-38-46] 　　2.2.74 　　(光暈計數管的)放電噪聲discharge noise(of a corona counter tube) 　　當不存在電離輻射時，由電暈效應引起的-次穩(wěn)定放電的電流或電壓的波動。 　　[IEV 394-38-65] 　　2.2.75 　　(電離室中的)弊發(fā)burst(in an ionization chamber) 　　由于-個或多個高能粒子入射到電離室內的氣體中或室壁上而引起的，在短時聞內突然生成大量離子對的過程。 　　2.2.76 　　(電離室的)飽和電流saturation current(of an ionization chamber) 　　在給定的輻照下，當所加的電壓高到基本上足以收集全部離子對.但尚未到達氣體放大區(qū)時所得到的電離電流。 　　2.2.77 　　(電離室的)飽和電壓saturation voltage(of an ionization chamber) 　　在給定的輻照下.電離室內為得到飽和電流所需加的最小電壓。 　　注：引伸之，實際上所用的“95％(或90％)飽和電壓”這類術語是為得到“95％(或90％)飽和電流”所必須的設計電壓。 　　[IEV 394 38-31] 　　2.2.78 　　(補償電離室的)補償因子compensation factor(of a compensated ionization chamber) 　　補償電離室對伴生輻射的靈敏度與它在無補償情況下對同-伴生輻射的靈敏度之比。 　　[IEV 394-38-34] 　　2.2.79 　　(補償電離室的)補償比compensation ratio(of a compensated ionization chamber) 　　補償因子的倒數。 　　注：用它表示補償電離室的-個性能指標。 　　[IEV 394-38-35] 　　2.2.80 　　(電流電離宣的)飽和曲線saturation carve(of a currentionization chamber) 　　在給定的輻照下，電流電離室輸出電流隨所加電壓變化的特征曲線，用于確定飽和電流與飽和電壓。 　　[IEV 394-38-32] 　　2.2.81 　　布拉格-戈瑞空腔Bragg-Gray cavity 　　在固體介質內含有氣體的理想空腔，它小到不足以干擾初級和次級輻射在介質內的分布。 　　[IEV 394-38-33] 　　2.2.82 　　電離徑跡ionization track 　　電離粒子路徑的-部分，在徑跡室、核乳膠等處可見。 　　[IEV 394 38-51] 　　2.3閃爍探測器 　　2.3.1 　　閃爍scintillation 　　由分子退激引起的、持續(xù)時間約幾微秒或更短的閃光。 　　[IEV 394-38-01] 　　2.3.2 　　閃爍持續(xù)時間scintillation duration 　　閃爍從發(fā)射10％光子的瞬間到發(fā)射90％光子的瞬間之間的時間間隔。 　　[IEV 394-38-02] 　　2.3.3 　　閃爍上升時間scintillation rise time 　　閃爍體受單次激發(fā)后，發(fā)射光的強度從其最大值的lo％上升到90％所需的時間。 　　[IEV 394-38-03] 　　2.3.4 　　閃爍下降時間scintillation fail time 　　閃爍體受單次激發(fā)后，發(fā)射光的強度從其最大值的90％下降到10％所需的時間。 　　[IEV 394-38-04] 　　2.3.5 　　閃爍衰減時間scintillation decay time 　　閃爍體受單次激發(fā)后，發(fā)射光的強度下降到其最大值的1/e所需的時間。 　　[IEV 394-38 05] 　　2.3.6 　　閃爍光衰減長度light attenuation length of scintillation 　　閃爍光子在閃爍體內經自吸收后衰減為原發(fā)光強度的1/e時光子在閃爍體中所通過的路程，表征閃爍體對自身發(fā)光的透過能力。 　　它與閃爍體的材料、工藝有關，且與測量時的光收集條件有關。按實際條件測得的數值稱為技術光衰減長度。 　　2.3.7 　　閃爍物質scintillating material 　　在電離輻射作用下，能以閃爍方式發(fā)出光輻射的物質。 　　[IEV 394-30-01] 　　2.3.8 　　激活劑activator 　　用于提高閃爍物質發(fā)光效率的雜質或移位原子。 　　[IEV 394-30-02] 　　2.3.9 　　移波劑wavelength shifter 　　與閃爍物質共同使用，用來吸收光子并發(fā)射波長更長的光子的熒光化合物。 　　注：使用移波劑的目的是使光電倍增管或其他光電器件更有效地利用光子。 　　[IEV 394-30-03] 　　2.3.10 　　閃爍體scintillator 　　用-定數量的閃爍物質做成適當形狀的閃爍探測元件。 　　[IEV 394 30-lO] 　　2.3.11 　　(閃爍體的)光學反射層optical reflector(of a scintillator) 　　在閃爍體(光導)表面上.為使閃爍體(光導)中向四周發(fā)射的光有效地反射到出射方向上的包層。 　　2.3.12 　　(閃爍體的)光學窗optical window(of a scintillator) 　　閃爍體中能讓光輻射透出的部分。 　　2.3.13 　　(閃爍體的)發(fā)射光譜emission spectrum(of a scintillator) 　　閃爍體發(fā)射的光子數隨光子的波長或能量變化的分布曲線。 　　[IEV 394 38-063 　　2.3.14 　　(閃爍體的)吸收光譜absorption spectrum(of a scintillator) 　　閃爍體的光吸收系數隨光子的能量或波長而變化的曲線。 　　2.3.15 　　(閃爍體的)發(fā)射帶emission band(of a scintillator) 　　發(fā)射光譜中與光子發(fā)射概率最大時的能量(波長)相對應的那一部分。 　　2.3.16 　　(閃爍體的)吸收帶absorption band(of a scintillator) 　　吸收光譜中與光子吸收概率最大時的能量(波長)相對應的那一部分。 　　2.3.17 　　(閃爍體的)光子發(fā)射曲線photon emission curve(of a scintillator) 　　表示閃爍體單次激發(fā)所發(fā)射光的強度隨時間變化的曲線。 　　[IEV 394-38-07] 　　2.3.18 　　(閃爍體的)能量轉換效率energy conversion efficiency(of a scintillator) 　　閃爍體發(fā)射光子的總能量與其吸收的人射能量之比。 　　[IEV 394-38-08] 　　2.3.19 　　(閃爍體的)光輸出light output(of a scintillator) 　　閃爍體發(fā)射光子的總數與該閃爍體吸收的入射輻射能量之比。 　　2.3.22 　　光電二極管photodiode 　　在兩個半導體間的PN結附近或半導體與金屬間的結附近，通過吸收光輻射而產生光電流的光電探測器。 　　[IEV 394-30-18] 　　2.3.23 　　倍增極dynode 　　打拿級dynode 　　與其他電極的位置和工作情況有關的次級發(fā)射電極，它使得離開其表面的次級電子數超過入射到其表面的初級電子數。 　　[IEv 394 30-14] 　　2.3.24 　　電子倍增器electron multiplier 　　在真空中，加有遞增電壓的-組倍增極，通過級聯(lián)過程來放大電子電流。 　　[IEV 394 -30-11] 　　2.3.25 　　光電倍增管photomultiplier tube；multiplier phototube 　　由光陰極、電子倍增器和陽極組成、用于把光信號轉換為電信號的真空器件。 　　[IFV 394-30-12] 　　2.3.26 　　無窗光電倍增管windowless photomultiplier tube：windowless multiplier phototube 　　在光源和作為光陰極的靶之間沒有插入其他物質的光電倍增管。 　　注：無窗光電倍增管的-種特殊應用是探測短波長的紫外輻射。 　　[IEV 394-30-13] 　　2.3.27 　　光導light guide 　　用于光的無明顯損失傳輸的光學器件。 　　注：可以將光導置于閃爍體和光電倍增管之間。 　　[IEV 394-30-15] 　　2.3.28 　　(光電倍增管中的)渡越時間transit time(in a photomultiplier tube) 　　從-個具有限定通量和持續(xù)時間無窮小的光脈沖到達光陰極開始，到陽極輸出電流脈沖達到某一指定值(例如幅度峰值或峰值的-半)時的時間間隔。 　　[IEV 394-38-12] 　　2.3.29 　　(光電倍增管中的)渡越時聞分散transit timejitter(in a photomultiplier tube) 　　相對于各個光脈沖的渡越時間的變化，這些光脈沖應具有限定通量和持續(xù)時間無窮小.而且每個光脈沖所產生的光電子數不能超過-個。 　　2.3.30 　　(光電倍增管的)響應脈沖寬度response pulse duration(of a photomultiplier tube) 　　當光陰極接受-個具有限定通量和持續(xù)時間無窮小的光脈沖而產生大量光電子時，在輸出電流脈沖曲線上與其半高寬相對應的持續(xù)時間。 　　2.3.31 　　(光電倍增管的)暗電流dark current(of uphotomultiplier tube) 　　在光陰極無光照條件下流過光電倍增管陽極回路的電流。 　　[IEV 394-38-14] 　　2.3.32 　　(光電倍增管的)增益gain(of a photomultiplier tube) 　　在規(guī)定的電極電壓下，陽極輸出電流與光陰極發(fā)射電流之比。 　　[IEV 394-38-15] 　　2.3.33 　　(光電倍增管的)收集效率collection efficiency(of a photomultiplier tube) 　　到達第-個倍增極的可測量的電子數與光陰極發(fā)射的電子數之比。 　　[IEV 394-38-16] 　　2.3.34 　　光陰極靈敏度photecathode sensitivity 　　在規(guī)定的光照條件下.光陰極的光電發(fā)射電流與入射光通量之比。 　　[IEV 394-38-11] 　　2.3.35 　　(光電倍增管的)光靈敏度light sensitivity(of a photomultiplier tube) 　　光電倍增管的陰極電流除以給定波長的入射光通量之比。 　　[IEV 394-38-623 　　2.3.36 　　(光電倍增管的)光譜靈敏度spectral sensitivity(of a photomultiplier tube) 　　作為波長函數的光靈敏度。 　　[IEV 394 38-63] 　　2.3.37 　　(光電倍增管的)光靈敏度的不均習性light sensitivity nonuniformity(of a photomultiplier tube) 　　在光陰極表面上光靈敏度的變化。 　　[IEV 394-38-64] 　　2.3.38 　　(光陰極的)量子轉換效率conversion quantum efficiency(of a photocathode) 　　光陰極發(fā)射的電子數與給定能量的入射光子數之比。 　　[IEV 394-38-09] 　　2.3.39 　　(光陰極的)光譜響應曲線spectral response curve(of a photocathode) 　　量子轉化效率隨入射輻射波長變化的曲線。 　　[IEV 394-38-10] 　　2.3.40 　　光耦合材料optical coupled material 　　為使閃爍體所發(fā)的光有效地傳輸到光電倍增管的光陰極上，在閃爍體光學窗與光電倍增管窗(閃爍體光學窗與光導及光導與光電倍增管窗)問所加的物質。 　　2.3.41 　　閃爍探測器scintillation detector 　　由閃爍體構成的核輻射探測器，該閃爍體通常直接或通過光導與光敏器件光耦合。 　　注：閃爍體由閃爍物質組成，電離粒子在閃爍物質中沿其路徑產生光輻射猝發(fā)。 　　[IEV 394-27-01] 　　2.3.42 　　空氣等效閃爍探測器air-equivalent scintillation detector 　　由有效原子序數等于或近似等于空氣的材料構成的輻射閃爍探測器。 　　[IEV 394-27-02] 　　2.3.43 　　組織等效閃爍探測器tissue equivalent scintillation detector 　　由有效原子序數近似于軟組織的材料構成的輻射閃爍探測器。 　　注：有些塑料閃爍體與組織近似等效。 　　[IEV 394-27-03] 　　2.3.44 　　閃爍組合件scinteblock：scintillation integrated block 　　將被測的電離輻射能轉化為光電信號的核輻射探測器部件。通常由閃爍體、光耦合材料、光敏器件(如光電倍增管)等連成-體，在某些情況下，還包含分壓器和前置放大器等，并裝在同-外殼內。 　　2.3.45 　　閃爍室scintillation chamber 。 　　室的內壁覆蓋-薄層閃爍物質的探測元件。 　　2.3.46 　　氣體正比閃爍探測器gas proportional scintillation detector 　　利用氣體電離特性的閃爍探測器。其光輸出正比于入射粒子在閃爍氣體中損耗的能量。 　　2.3.47 　　全吸收峰探測器效率total absorption detector efficiency 　　對于給定的光子能量.在全吸收峰內探測到的光子數與同-時間間隔內入射到探測器上的光子數之比。 　　注：全吸收蜂探測器效率等于峰總比與探測器效率之積。 　　[IEV 394-38-19] 　　2.3.48 　　全吸收峰探測效率total absorption detection efficiency 　　在規(guī)定的幾何條件下，對于給定的探測裝置和光子能量，每單位時間在全吸收峰內探測到的光子數與-個輻射源的發(fā)射率之比。 　　注：全吸收峰探測效率等于蜂總比與探測效率之積。 　　[IEV 394 38-20] 　　2.4半導體探測器 　　2.4.1 　　半導體semiconductor 　　在正常情況下，總電導率在導體與絕緣體之間的物質，總電導率由兩種符號的電荷載流子形成，電荷載流子密度可以用外部手段加以改變。 　　注：。半導體”一詞通常適用于電荷載流子是電子或空穴的情況。 　　[IEV 394-28-33] 　　2.4.2 　　本征半導體intrinsic semiconductor 　　近似純凈和理想的半導體，在熱平衡條件下其導電的電子和空穴密度基本相等。 　　[IEV 394-28-34] 　　2.4.3 　　補償半導體compensated semiconductor 　　半導體中-種給定類型的雜質對載流子密度的影響能部分或全部抵消另-類型雜質影響的半導體。 　　[IEV 394-28-35] 　　2.4.4 　　非本征半導體extrinsic semiconductor 　　電荷載流子密度取決于雜質或其他缺陷的半導體。 　　[IEV 394-28-36] 　　2.4.5 　　N型半導體N·type semiconductor 　　導電電子密度超過空穴密度的非本征半導體。 　　[IEV 394-28-37] 　　2.4.6 　　P型半導體P-type semiconductor 　　空穴密度超過導電電子密度的非本征半導體。 　　[IEV 394-28-38] 　　2.4.7 　　半導體探測器semiconductor detector 　　利用在半導體電荷載流子耗盡區(qū)中電子-空穴對的產生和運動來探測和測量輻射的半導體器件。 　　注：見2-4-1“半導體”。 　　[IEV 394-28-01] 　　2.4.8 　　面壘探測器surface barrier detector 　　由表面反型層形成電荷載流子耗盡區(qū)(勢壘)的半導體探測器。 　　[IEV 394-28-02] 　　2.4.9 　　擴散結探測器diffused junction detector 　　用施主(N)型或受主(P)型雜質擴散的方法產生結的半導體探測器。 　　[IEV 394-28-03] 　　2.4.10 　　注入結探測器implanted junction detector 　　用施主(N)型或受主(P)型雜質注入的方法產生結的半導體探測器。 　　注；例如離子注入探測器。 　　[IEV 394-28-04] 　　2.4.11 　　補償型半導體探測器compensated semiconductor detector 　　在P型區(qū)與N型區(qū)之間存在施主(N)和受主(P)幾乎彼此平衡的區(qū)域(補償型半導體)的半導體探測器。 　　[IEV 394-28-05] 　　2.4.12 　　鋰漂移半導體探測器lithium drifted semiconductor detector 　　在外加電場和高溫的作用下.使鋰(N型)離子在P型晶體中移動以平衡(補償)束縛雜質，從而獲得補償區(qū)的補償型半導體探測器。 　　[IEV 394-28-06] 　　2.4.13 　　內放大半導體探測器amplifying semiconductor detector 　　由類似雪崩的次級過程產生電荷倍增的半導體探測器。 　　[IEV 394-28-07] 　　2.4.14 　　透射式半導體探測器transmission semiconductor detector 　　包括入射窗和出射窗在內，其厚度薄到足以允許粒子完全穿過的半導體探測器。 　　[IEv 394-28-08] 　　2.4.15 　　dE/dx半導體探測器differential dE/dx semiconductor detector 　　其靈敏體積厚度遠小于入射粒子射程，且入射和出射的死層厚度又小于探測器靈敏體積厚度的全耗盡層半導體探測器。 　　[IEV 394 28 09] 　　2.4.16 　　全耗盡半導體探測器totally depleted semiconductor detector 　　耗盡層厚度與半導體材料厚度實質上相等的半導體探測器。 　　[IEV 394-28-10] 　　2.4.17 　　涂硼半導體探測器boron coated semiconductor detector 　　表面涂有硼-10、用于探測熱中子的半導體探測器。 　　注：電離是由中子在涂層內的核反應所產生的帶電粒子引起的。 　　[IEV 394-28-11] 　　2.4.18 　　涂鋰半導體探測器lithium coated semiconductor detector 　　表面涂有鋰6、用于探測熱中子的半導體探測器。 　　注：電離是由中子在涂層內的核反應所產生的帶電粒子引起的。 　　[IEV 394-28-12] 　　2.4.19 　　裂變半導體探測器fission semiconductor detector 　　表面涂有裂變物質、用于探測熱中子的半導體探測器。 　　注：電離主要是由中子與裂變物質進行核反應所產生的裂變碎片引起的。 　　[IEV 394-28-13] 　　2.4.20 　　晶體導電型探測器crystal conduction detector 　　由晶體結構均勻的半導體做成的電離探測器。 　　2.4.21 　　高純半導體探測器high-purity semiconductor detector 　　采用高純度(例如電阻率高)半導體材料的半導體探測器。 　　[IEv 394-28-14] 　　2.4.22 　　輻照補償半導體探測器radiation compensated semiconductor detector 　　經過預先對半導體材料大劑量輻照，其電子結構是由輻射損傷摻雜造成的補償型半導體探測器。 　　[IEV 394-28-15] 　　2.4.23 　　化臺物半導體探測器chemical compound semiconductor detector 　　用化合物半導體做成的探測器。-般是用平均原子序數高、禁帶寬度大、凈雜質濃度低的化合物半導體材料(例如碘化汞、碲化鎘、碲鋅鎘、砷化鎵等)做成的.用于室溫探測γ射線。 　　2.4.24 　　(中于探測器的)轉換體converter(for neutron detectors) 　　涂敷在中子探測器的內壁或滲入探測器的靈敏體積內以提高探測效率的包含輕原子(例如氫)的物質。 　　[IEV 394-28-16] 　　2.4.25 　　多結型半導體探測器multijunction semiconductor detector 　　采用幾個PN結組合的半導體探測器。 　　[IEV 394-28-17] 　　2.4.26 　　平板(或平面)型半導體探測器planar semiconductor detector 　　其靈敏體積為平板型的半導體探測器。 　　[IEV 394-28-18] 　　2.4.27 　　同軸型半導體探測器coaxial semiconductor detector 　　其靈敏體積對稱環(huán)繞中心軸的半導體探測器。 　　FIEV 394-28-19] 　　2.4.28 　　普通電極鍺同軸半導體探測器conventional。electrode germanium coaxial semiconductor detector 　　用P型高純鍺為材料，外電極為N+接觸，內電極為P接觸.正偏壓加在外電極上的同軸半導體探測器。 　　2.4.29 　　反電極鍺同軸半導體探測器reverse-electrode germanium coaxial semiconductor detector 　　用N型高純鍺為材料，外電極為P+接觸，內電極為N接觸，正偏壓加在內電極上的同軸半導體探測器。 　　2.4.30 　　保護環(huán)半導體探測器guard·ring semiconductor detector 　　為了降低表面電流和噪聲，有-個圍繞探測器靈敏面的輔助PN結的半導體探測器。 　　[IEV 394-28-20] 　　2.4.31 　　鑲嵌半導體探測器mosaic semiconductor detector 　　為了增加靈敏面積，用鑲嵌式結構將幾個獨立的探測器并聯(lián)的半導體探測器。 　　[IEV 394 28-21] 　　2.4.32 　　位置靈敏半導體探測器position-sensitive semiconductor detector 　　對入射到探測器表面的電離輻射離子，能給出其-維或二維位置的半導體探測器。 　　[IEV 394-28-22] 　　2.4.33 　　(半導體探測器的)死層dead layer(of a semiconductor detector) 　　半導體探測器中的-個層，粒子在該層內損失的能量的大部分對形成的信號無貢獻。 　　2.4.34 　　結junction 　　半導體的不同電性能區(qū)域之間的過渡層，或者是不同類型半導體之間的過渡層.其特性由阻止電荷載流子從-個區(qū)域流到另-個區(qū)域的勢壘來表征。 　　[IEV 394-28-23] 　　2.4.35 　　(反向偏置PN結的)擊穿breakdown(of reverse biased PN junction) 　　當反向電壓增加時，由高電阻狀態(tài)向明顯低的電阻狀態(tài)的躍變。 　　[IEV 394-28-27] 　　2.4.36 　　(結的)雪崩擊穿avalanche breakdown(of ajunction) 　　在強電場作用下，-些載流子獲得足夠的能量而產生新的空穴電子對，使半導體中載流子累積倍增所引起的擊穿。 　　注：雪崩擊穿也稱場致碰撞電離。 　　[IEV 394-28-28] 　　2.4.37 　　雪崩電壓avalanche voltage 　　發(fā)生雪崩擊穿時所加的反向電壓。 　　[IEV 394-28-29] 　　2.4.38 　　(半導體探測器的)耗盡層depletion layer(of a semiconductor detector) 　　構成半導體探測器靈敏體積的-層。 　　注：光子或粒子在這-區(qū)域損失的絕大部分能量都可能對形成的信號做出貢獻。 　　[IEV 394-28-30] 　　2.4.39 　　(半導體探測器的)全耗盡電壓total depletion voltage(of a semiconductor detector) 　　使耗盡層基本上擴散到半導體整個厚度時所加的反向電壓。 　　[IEV 394-28-31] 　　2.4.40 　　(半導體探測器的)電荷收集時間charge collection time(of a semiconductor detector) 　　當電離粒子通過半導體探測器后，由電流積分收集的電荷從其最終值的10％增加到90％所需的時間。 　　[IEV 394-28-32] 　　2.4.41 　　(半導體探測器的)反型層inversion layer(of a semiconductor detector) 　　對給定的導電類型半導體，其反型的表面層即反型層。 　　2.4.42 　　(半導體探測器的)偏壓bias(of a semiconductor detector) 　　探測器兩電極間所施加的反向工作電壓。此電壓在探測器靈敏體積內形成-定的電場強度，進而使射線所產生的電荷被收集到兩電極處而形成電信號。 　　2.4.43 　　(半導體探測器的)伏安特性volt-ampere characteristic(of a semiconductor detector) 　　半導體探測器的正、反向電壓-電流特性。 　　2.4.44 　　(半導體探測器的)結電容junction capacitance(of a semiconductor detector) 　　半導體探測器PN結勢壘層的電荷增量與加在結上的電壓增量之比。 　　2.4.45 　　(半導體探測器的)噪聲noise(of a semiconductor detector) 　　無輻照時.在半導體探測器輸出端測到的無規(guī)則的信號，它與所加偏壓的大小有關。 　　2.4.46 　　面勢接觸surface barrier contact 　　金屬半導體接觸或金屬-絕緣體半導體接觸的-種結構，其整流特性決定于接觸界面上和絕緣體中捕獲的電荷。 　　[IEV 394130-17] 　　2.5其他探測器 　　2.5.1 　　徑跡探測器track detector 　　利用輻射在其內部產生的徑跡以獲得與輻射有關信息的核輻射探測器。 　　2.5.2 　　蝕刻徑跡探測器etched track detector 　　重帶電粒子經過構成核輻射探測器材料時，造成材料的局部損傷，其表面經腐蝕后，使損傷的局部顯示出來，由此可測量粒子引起的徑跡數目的探測器。使用某種轉換材料后，該探測器也可用于探測中子。 　　2.5.3 　　徑跡室track chamber 　　輻射在其中產生可見粒子徑跡的探測器。 　　[IEV 394-26-01] 　　2.5.4 　　氣泡室bubble chamber 　　在過熱液體中、沿電離粒子的路徑液體沸騰時形成氣泡的徑跡室。 　　[IEV 394-26-02] 　　2.5.5 　　云室cloud chamber 　　含有過飽和蒸汽、沿電離粒子路徑產生的離子作為凝結中心的徑跡室。 　　FIEV 394-26-03] 　　2.5.6 　　擴散室diffusion chamber 　　由于室壁間的溫差引起飽和蒸汽連續(xù)擴散而產生過飽和蒸汽的云室。 　　[IEV 394-26-04] 　　2.5.7 　　威爾遜云室Wilson cloud chamber 　　由于快速膨脹，在短時間內產生過飽和蒸汽的云室。 　　[IEV 394-t26-05] 　　2.5.8 　　火花探測器spark detector 　　當強電離粒子通過時，能在電極間產生火花的核輻射探測器。例如：火花室、羅森布拉姆探測器。 　　2.5.9 　　熱釋光探測器thermoluminescent detector 　　使用熱釋光介質的核輻射探測器。當其受熱激發(fā)時能發(fā)光，發(fā)光量是探測器在電離輻射照射過程中貯存的能量的函數。 　　[IEV 394-27-04] 　　2.5.10 　　光致發(fā)光探測器photoluminescent detector 　　用光致發(fā)光材料做成的核輻射探測器，當它受電離輻射照射后，再接受某-波長光輻射時能發(fā)出另-波長的光輻射(通常在可見光譜區(qū)內)，光的強度是電離輻射過程中貯存在探測器中能量的函數。 　　2.5.11 　　切連科夫探測器Cerenkov detector 　　使用能產生切連科夫效應的介質、用于探測相對論粒子的核輻射探測器。 　　注：介質直接或通過光導與光敏器件進行光耦合。 　　[IEV 394-29-17] 　　2.5.12 　　(徑跡室的)敏感時間sensitive time(of a track chamber) 　　在某些徑跡室(例如威爾遜云室或氣泡室)內允許處于電離徑跡形成狀態(tài)的持續(xù)時間。 　　[IEV 394-38-52] 　　3通用核儀器及其特性和試驗 　　3.1通用核儀器 　　3.1.1 　　核儀器nuclear instrumentation 　　用于測量電離輻射量和控制涉及電離輻射的設備或過程的儀器或設備。 　　[IEV 394-21-01] 　　3.1.2 　　(核儀器)系統(tǒng)system(of nuclear instrumentation) 　　為了完成-個確定的目標利用核測量方法組合起來的設備、裝置、部件或連接單元。 　　3.1.3 　　(核儀器的)裝置assembly(of nuclear instrumentation) 　　為實現-個確定的總的功能而連接起來的-套核儀器。 　　注1：裝置可以是不同的可移動的部分、部件或分離的儀器的組合.它們都具有局部的功能。 　　注2：用于功能和目的測量的裝置是測量裝置。 　　3.1.4 　　測量通道m(xù)easuring channel 　　由-個或多個探測器和有關的電子線路組成、用于產生相關信息的裝置。 　　[IEV 394-21-12] 　　3.1.5 　　部件sub-assembly 　　由基本功能單元組成的裝置中，起局部功能作用的部分。 　　注：例如在脈沖計數裝置中，探測器和定標器部分就是部件。 　　3.1.6 　　功能單元function unit 　　執(zhí)行-個或-個以上基本功能的部件或部件組合。 　　注：例如在“定標器”中，“成形單元”、“脈沖幅度甄別單元”、“定標單元”都是功能單元。 　　[IEV 394-21-02] 　　3.1.7 　　插件module 　　通常具有前面板并能單獨或多個-起插入機箱的插拔式單元。例如NIM插件。 　　[IEV 394-21-06] 　　3.1.8 　　核儀器插件(NIM)nuclear instrumentation module(NIM) 　　在科學和工業(yè)領域中使用的-種標準化插件式核儀器系統(tǒng)中的部件。 　　[IEV 394-21-05] 　　3.1.9 　　NIM機箱NIM bin 　　設計用于容納核儀器插件的機箱。 　　[IEV 394-21-04] 　　3.1.10 　　計算機自動測量和控制插件(CAMAC)computer automated measurement and control(CAMAC) 　　在科學和工業(yè)應用中使用的-種標準化插件式儀器和數字接口系統(tǒng)。 　　[IEV 394-21-07] 　　3.1.11 　　CAMAC機箱控制器CAMAC crate-controller 　　安裝在控制站中或者安裝在-個或多個CAMAC機箱標準站中的功能單元，它控制數據通路運行。 　　注1：標準站是CAMAC機箱中插入單元的安裝位置，它提供通向數據通路的路徑。 　　灃2：控制站是CAMAC機箱中容納該機箱控制器的-個安裝位置.它提供通向所有站編碼和“中斷信號(LAM)”線的路徑。 　　[IEV 394-21-08] 　　3.1.12 　　并行(cAMAC)機箱控制器parallel(CAMAC)crate controller 　　用作機箱通道和并行分支干線之間信息連接的-種機箱控制器。 　　3.1.13 　　串行(CAMAC)機箱控制器serial(CAMAC)crate controller 　　用作機箱通道和串行分支干線之問信息連接的-種機箱控制器。 　　3.1.14 　　總線bus 　　計算機或數字儀表的元器件之間的電氣連接，通過總線信息可以從任-信息源傳輸至任一目的地。 　　[IEV 394-21-09] 　　3.1.15 　　快總線fastbus 　　-種標準化模塊式的數據高速采集和控制系統(tǒng)。該系統(tǒng)具有大量的地址域且可能按單機箱系統(tǒng)或多機箱系統(tǒng)配置，在多機箱系統(tǒng)中機箱能夠與多個處理器-起自動運行，也可以為實現數據傳輸、控制和整個系統(tǒng)尋址信息提供路徑。 　　[IEV 394-21-10] 　　3.1.16 　　輻射測量儀radiation meter 　　用于測量電離輻射的儀器。 　　[IEv 394-22-01] 　　3.1.17 　　輻射監(jiān)測儀radiation monitor 　　用于測量電離輻射水平并能發(fā)出報警信號的裝置。 　　注：輻射監(jiān)測儀也可以提供定量信息。 　　[IEV 394-22-03] 　　3.1.18 　　輻射指示儀radiation indicator 　　借助于可視或可聽信號，對與電離輻射有關的量提供粗略估計的-種裝置。 　　3.1.19 　　(輻射測量儀的)探頭probe(of a radiation meter) 　　-種可能帶有前置放大器及某些功能單元的核輻射探測器。其構造使它能在難接近的或遠離與其相連接儀器的位置上工作。 　　3.1.20 　　輻射報警系統(tǒng)radiation alarm system；radiation warning apparatus 　　當超過預置的輻射水平時能提供視覺或聽覺信號的儀器。 　　注：輻射報警系統(tǒng)可以由監(jiān)測系統(tǒng)觸發(fā)。 　　[IEV 394-22-04] 　　3.1.21 　　報警整定值alarm set point 　　觸發(fā)報警的設定值。 　　注：例如，該值可能是輻射劑量和(或)劑量率。 　　[IEV 394-39-47] 　　3.1.22 　　輻射探測裝置radietion detection assembly 　　用于對入射電離輻射產生響應信號的裝置。 　　注1；這-信號攜帶與輻射物理特性有關的信息。 　　注2：在同-單元中可以包括-個或多個部件。 　　[IEV 394-21-11] 　　3.1.23 　　放大器amplifier 　　依靠從外部能源吸收能量將輸入量值放大的-種裝置。 　　例如：前置放大器、電荷靈敏放大器、脈沖放大器、直流放大器、電壓放大器、線性放大器、對數放大器、偏置放大器、差分放大器。 　　注：在核儀器中，放大器的輸出量可以不同于輸入量，但是又以-種特定的方式依賴于輸入量。 　　3.1.24 　　前置放大器preamplifier 　　位于核輻射探測器與主放大器或其他電部件之間，其輸入端直接與探測器輸出端相連的電子放大器。 　　3.1.25 　　電荷靈敏前置放大器charge-sensitive preamplifier 　　其輸出信號正比于輸入電荷，而與輸入電容無關的前置放大器。 　　3.1.26 　　弱電流前置放大器weak current preamplifier 　　其輸出信號正比于輸入的弱電流并具有足夠放大倍數和快速響應的前置放大器。 　　3.1.27 　　主放大器main amplifier 　　譜(儀)放大器spectrum amplifier 　　用于幅度譜測量的線脈沖放大器。它通常具有脈沖成形、抗堆積、基線恢復等功能，并有足夠好的穩(wěn)定性和合適的譜響應寬度。 　　注：主放大器又稱成形放大器。 　　3.1.28 　　偏置放大器biased amplifier 　　對所有在閾值幅度以下的輸入產生(幾乎是)零輸出的放大器。 　　注：對于幅度超過偏置闞直至規(guī)定的最大值的輸入信號部分，偏置放大器具有恒定增益。 　　[IEV 394-23-16] 　　3.1.29 　　(輻射)分析器(radiation)analyzer 　　分析來自-個或幾個核輻射探測器的輸出信號與給定參數或量(例如：能量、時間等)的關系的輻射測量裝置。 　　例如：脈沖幅度分析器，飛行時間分析器.多參數分析器。 　　3.1.30 　　單道分析器single channel analyzer 　　只有當輸入信號的幅值落在其設置的上、下閾值之間時才產生-個輸出邏輯脈沖的裝置。 　　[IEV 394-23-11] 　　3.1.31 　　多道幅度分析器multichannel amplitude analyzer 　　多于-道的分析器，通常包含有足夠多的道數。它按照輸出信號的-個或多個特性(幅度、時間等)對信號進行分類計數，從而測定其分布函數。 　　3.1.32 　　模擬-數字變換器(ADC)analogue-to-digital converter(ADC) 　　提供表征模擬量輸入信號的數字式輸出信號的裝置或部件。 　　3.1.33 　　數字-模擬變換器(DAC)digital-to-analogue converter(DAC) 　　提供表征數字式輸入信號的模擬量輸出信號的裝置或部件。 　　3.1.34 　　幅度-時間變換器amplitude-to-time converter 　　用輸出信號的時間來表征輸入信號的幅度的裝置：或輸出-個信號.其持續(xù)時間正比于輸入信號的幅度；或輸出兩個信號。其中-個信號相對于另-個信號延遲的時間間隔正比于輸入信號的幅度。 　　[IEv 394-23-07] 　　3.1.35 　　時間-幅度變換器time-to-amplitude converter 　　用輸出信號的幅度來表征輸入信號的時間的裝置：輸出信號的幅度正比于兩個輸入信號的時間間隔，或正比于-個輸入信號的持續(xù)時間。 　　[IEV 394-23-08] 　　3.1.36 　　時間-數字變換器time-to-digital converter 　　用輸出的數字信號來表征輸入信號的時間的裝置：該數字代表兩個輸入脈沖(例如啟動脈沖和停止脈沖)之間的時間間隔，或代表-個輸人信號的持續(xù)時間。 　　[IEV 394-23-09] 　　3.1.37 　　(輻射)譜spectrum(of a radiation) 　　(能)譜spectrum 　　通常指某-特定輻射量的數值隨能量的分布.例如粒子發(fā)射率與其能量的關系。 　　3.1.38 　　輻射譜儀radiation spectrometer 　　由-個或多個核輻射探測器和與其連接的分析器組成、用于確定電離輻射能譜的輻射測量設備。 　　[IEV 394-22-05] 　　3.1.39 　　放射性色層分析儀radiochromatograph 　　繪制混合物中不同成分的(放射性)活度特性曲線的測量裝置?；旌衔镉梅派湫院怂貥擞?，并且分別放置在氣體或液體載體中或沉積在固體材料上。 　　3.1.40 　　穆斯堡爾譜儀M6ssbauer spectrometer 　　利用穆斯堡爾效應測量物質超精細結構等特性的譜儀。它通常由穆斯堡爾源、吸收樣品、電磁振動部件、輻射探測部件及有關電子儀器組成。 　　3.1.41 　　反康普頓Y譜儀anti-Compoton gamma ray spectrometer 　　能降低7譜中康普頓效應產生的連續(xù)分布成分的輻射譜儀。 　　3.1.42 　　反沖質子(能)譜儀recoil proton spectrometer 　　通過測量反沖質子的能量分布測定快中子能譜的輻射譜儀。這些反沖質子是由快中子在含氫探測器中的彈性散射產生的。 　　3.1.43 　　飛行時間中子(能)譜儀time-of-flight neutron spectrometer 　　通過測量中子飛行時間測定中子束能譜的輻射譜儀。 　　3.1.44 　　(放射性)活度計(radio)activity meter 　　用于測量放射源活度并配備指示或記錄儀器的裝置。 　　3.1.45 　　(放射性)電荷測量儀(radioactive)charge meter 　　采用核輻射探測器輸出電流積分的方法，測量由電離所產生并收集在加速器靶上的電荷的裝置。 　　3.1.46 　　計數裝置counting assembly 　　用于電脈沖計數的裝置。 　　注：定標器是計數裝置的-種類型。 　　3.1.47 　　可逆定標器reversible scaler 　　輸入端每進入-個脈沖，根據控制要求，可使其存數加-或減-的計數器。 　　3.1.48 　　靜電計electrometer 　　測量少量電荷或弱電流的儀器。 　　[IEV 394-23-02] 　　3.1.49 　　率表 ratemeter 　　連續(xù)指示平均計數率的儀器。 　　注：率表包括： 　　——模擬率表； 　　——線性率表； 　　——對數率表； 　　——差分線性率表； 　　——數字率表。 　　[IEV 394-23-03] 　　3.1.50 　　模擬率表analogue ratemeter 　　能提供模擬輸出信號的率表。 　　3.1.51 　　線性率表linear ratemeter 　　輸出指示正比于計數率的率表。 　　3.1.52 　　對數率表logarithimic ratemeter 　　輸出指示正比于計數率對數的率表。 　　3.1.53 　　差分線性率表difference linear ratemeter 　　輸出指示正比于兩計數率差分的率表。 　　3.1.54 　　數字率表digital ratemeter 　　能提供數字輸出信號的率表。 　　3.1.55 　　穩(wěn)譜器spectrum stabilizer 　　通過對譜儀中某些部件(如探測器、高壓電源、放大器、分析器等)的漂移進行補償來減少譜畸變的功能單元。 　　[IEV 394-23-04] 　　3.1.56 　　甄別器discriminator 　　只有當輸入信號超過-個預定閾值時才產生-個輸出邏輯脈沖的功能單元。 　　[IEV 394-23-10] 　　3.1.57 　　符合電路coincidence circuit 　　只有在規(guī)定的時間間隔內在規(guī)定的幾個輸入端按預定的組合出現信號時，才產生-個輸出信號的功能單元。 　　[IEV 394-23-13] 　　3.1.58 　　反符合電路anticoincidence circuit 　　在特定的持續(xù)時間間隔內，在-個或幾個指定的輸入端有輸入脈沖，而另外-個或幾個指定的輸入 　　端沒有輸入脈沖時才有輸出信號的功能單元。 　　3.1.59 　　(脈沖)選擇器(pulse)selector 　　每當輸入脈沖的某-規(guī)定特性處于規(guī)定的限值之內時就產生輸出信號的功能單元。 　　注：例如： 　　——脈沖高度選擇器； 　　——時間選擇器。 　　[IEv 394-23-14] 　　3.1.60 　　脈沖成形器pulse shaper 　　對應輸入信號輸出具有規(guī)定形狀特征脈沖的功能單元。 　　[IEV 394-23-15] 　　3.1.61 　　延時器(延時電路)delayer(delay circuit) 　　一種將輸入信號延遲一段時間傳送的功能單元。 　　3.1.62 　　線性門linear gate 　　一種在其關閉時截斷信號通路，開啟時使輸入信號線性通過的功能單元。 　　3.2主要特性 　　3.2.1 　　脈沖符合pulse coincidence 　　在預定的時間間隔內，符合電路輸入端的兩個或更多的探測通道中都有脈沖到達。 　　[IEv 394-39-15] 　　3.2.2 　　真符合true coincidence 　　來源于單-事件的脈沖的符合。 　　[IEV 394-39-16] 　　3.2.3 　　偶然符合random coincidence 　　假符合false coincidence 　　在符合分辨時間內，由來自非關聯(lián)事件的脈沖偶然到達符合電路的輸人端形成的-種符合。 　　[IEV 394-39-17] 　　3.2.4 　　符合分辨時間coincidence resolving time 　　在認為脈沖是符合的情況下，在符合選擇器規(guī)定的兩個或更多的輸入端中的每一輸入端上，脈沖出現的最大時間間隔。 　　[IEV 394-39-18] 　　3.2.5 　　反符合anticoincidence 　　在規(guī)定的輸入端、在規(guī)定的時間間隔內，產生-個事件或-個脈沖用于阻止電路或儀器提供與之相對應的-個或多個輸出信號。 　　[IEV 394-39-19] 　　3.2.6 　　計數count 　　輻射計數裝置對單-事件的響應。 　　[IEV 394-39-01] 　　3.2.7 　　假計數spurious count 　　除被測輻射外其他任何因素引起的計數。 　　[IEV 394-39-02] 　　3.2.8 　　計數率count rate；counting rate 　　單位時間的計數。 　　[IEV 394-39-03] 　　3.2.9 　　允許計數率admissible count rate 　　與某-給定的時間分布有關的輸入脈沖的計數率.相對于此值.被測得的計數率偏離約定真值不超過規(guī)定的一個百分比。 　　[IEV 394-39-46] 　　3.2.10 　　脈沖率pulse rate 　　單位時間的脈沖數。 　　[IEV 394-39-52] 　　3.2.11 　　(粒子的)飛行時間time-of-flight(of a particle) 　　粒子在兩個給定點之間運動所用的時間。 　　[IEV 394-39-04] 　　3.2.12 　　(帶電粒子的)遷移率mobility(of a charged particle) 　　在規(guī)定的介質中，帶電粒子沿電場方向的速度除以該電場場強的商。 　　[IEV 394-39-os] 　　3.2.13 　　(定標器的)定標因子scaling factor(of a scaler) 　　為了產生輸出脈沖，在定標器的輸入端所需的脈沖數。 　　[IEV 394-39-06] 　　3.2.14 　　(測量裝置的)靈敏度sensitivity(of a measuring assembly) 　　對于-個給定的被測量值，觀測量的變化與相應的被測量的變化之比。 　　注：對于某些測量系統(tǒng)，術語靈敏度可能具有另外的含義，例如最低(小)可探測限。 　　[IEV 394-39-07] 　　3.2.15 　　(測量裝置的)本底水平background level(of a measuring assembly) 　　源于被測輻射之外的信號。 　　注：本底可歸因于： 　　a) 探測器內、外非測量所關注的源輻射產生的對測量有影響的信號。 　　b) 由于該測量系統(tǒng)的電子電路及其電源的缺陷導致的信號。 　　[IEV 394-39-08] 　　3.2.16 　　固有本底水平intrinsic background level 　　測量裝置在屏蔽環(huán)境自然輻射情況下的本底水平。 　　注：固有本底水平-般是由結構材料的放射性活度、各種不同的固有的原因引起的，它還取決于儀器的設計和工作狀態(tài)。 　　3.2.17 　　(計數裝置的)計數損失count loss(of counting assembly) 　　由于分辨時問或諸如脈沖堆積或死時間等現象引起的計數率的損失，進而導致產生誤差。 　　[IEV 394-39-13] 　　3.2.18 　　相對計數損失fraction count loss 　　計數損失與測到的計數之比。 　　3.2.19 　　(計數裝置的)堆積pileup(in a counting assembly) 　　由于第-個脈沖與后續(xù)脈沖之間的間隔時闖太短，因而不容許放大器去正確響應后續(xù)脈沖而發(fā)生的現象。 　　注：堆積可能導致分辨力降低。 　　[IEV 394-39-14] 　　3.2.20 　　分辨時間resolving time 　　相繼出現且仍然可以分辨的兩個脈沖之間應經歷的最小時間間隔。 　　[IEV 394-39-21] 　　3.2.21 　　分辨時間校正resolving time correction 　　死時間校正dead time correction 　　考慮到由于分辨時間或死時間而損失的脈沖數，對實際觀測到的脈沖數進行的校正。 　　[IEV 394-39-22] 　　3.2.22 　　(測量裝置的)響應時間response time(of a measuring assembly) 　　從被測量發(fā)生階躍變化到輸出信號第-次達到其最終值的某-給定百分數(通常取90％)時所經歷的時間。 　　[IEV 394 39-09] 　　3.2.23 　　(測量裝置的)上升時問rise time(of a measuring assembly) 　　對于一個階躍響應，輸出信號達到其最終值與初始穩(wěn)態(tài)值之差所規(guī)定的一個很小百分值時與其第一次達到同一差值所規(guī)定的一個很大百分值時所持續(xù)的時間間隔。 　　注：通常規(guī)定值是5％到95％或10％到90％。 　　[IEV 394-39-11] 　　3。2.24 　　(測量裝置的)下降時間fail time(of a measuring assembly) 　　除另行規(guī)定外，指輸出量的幅度從90％下降到lo％所持續(xù)的時間間隔。 　　[IEV 394-39-36] 　　3.2.25 　　(測量裝置的)建立時間setting time(of a measuring assembly) 　　從一個輸入變量發(fā)生階躍變化到輸出變量的偏離不超過其最終值與初始穩(wěn)態(tài)值之差的某一規(guī)定誤差(例如5％)所經歷的時間。 　　注1：通常的允差值是±2％和土5％。 　　注2：對于非線性特性，宜規(guī)定輸入變量的幅度和位置。 　　[IEV 394-39-10] 　　3.2.26 　　(輻射譜儀的)能量分辨力energy resolution(of a radiation spectrometer) 　　輻射譜儀能分辨的兩個粒子能量之間的最小差值。 　　注：通常情況下能量分辨率用-個因子表示。該因子是在單能粒子分布曲線峰的半高寬(能量)除以峰位的能量。 　　[IEV 394-39-12] 　　3.2.27 　　半高寬(FWHM)full width at half maximum(FWHM) 　　在單峰構成的分布曲線上，峰值-半處曲線上兩點的橫坐標間的距離。 　　注：如果曲線包含幾個峰，則每個峰都有-個半高寬。另外，由此術語還可以擴展定義I/10高度(FWO.1M)，1/50高度(FWO 02M)等。 　　3.2.28 　　(對脈沖的)響應閾response threshold(to pulses) 　　使給定的電路對脈沖響應，執(zhí)行其功能所需該脈沖的最小幅度。 　　[IEV 394-39-20] 　　3.2.29 　　間歇時間paralysis time 　　通常為了使分辨時間的校正更精確，用間歇電路強加到分辨時間上的-個恒定的預定值。 　　3.2.30 　　恢復時間recovery time 　　當-個后續(xù)脈沖幅度達到其之前脈沖最大幅度的某-確定的百分數時，放大器做出響應所經歷的 　　最小時間間隔。 　　[IEV 394-39-23] 　　滯后時間latency time 　　粒子到達探測器與探測器電路被觸發(fā)之間的時間間隔。 　　[IEV 394-39-24] 　　3.2.32 　　復原時間 restoration time 　　設備輸出飽和后恢復其性能特性所需的時間。 　　[IEV 394-39-40] 　　3.2.33 　　過零游動cross-over walk 　　由于脈沖幅度變化引起的雙向脈沖過零時間的變化。 　　3.2.34 　　(線性)變換增益(1inear)conversion gain 　　放大器在線性動態(tài)范圍內輸出物理量除以輸入物理量所得的商。 　　3.2.35 　　等效噪聲電荷equivalent noise charge 　　在前置放大器中，在能量上折合到輸入的輸出噪聲電荷量。 　　3.2.36 　　極零相消pole-zero cancellation 　　在單極性脈沖的RC脈沖成形網絡中為防止上沖或下沖而采用的電路技術。 　　[IEV 394-39-30] 　　3.2.37 　　數字偏置digital offset 　　為了移動模擬基線從數字-模擬變換器的輸入信號中減去或加上的數字。 　　3.2.38 　　活時間live time 　　探測裝置對輸入信號靈敏的那段時間。 　　[IEV 394-39-31] 　　3.2.39 　　死時間dead time 　　裝置對相繼輸入脈沖不響應的那段時間。 　　3.2.40 　　實時間real time 　　裝置完成一次任務(例如多道分析器獲取脈沖幅度分布數據)所經歷的實際時間。 　　3.2.41 　　(測量裝置的)微分非線性differential nonlinearity(of measuring assembly) 　　(1)輸出和輸入關系曲線的斜率對參考直線的斜率的最大偏差，以百分數表示。 　　(2) 在多道分析器中單個道寬均勻性的漲落.以百分數表示。 　　3.2.42 　　(測量裝置的)積分非線性integral nonlinearity(of measuring assembly) 　　(1)線性響應的偏差除以最大額定的輸出脈沖幅度，以百分數表示。 　　(2)道數與脈沖幅度之間線性關系的偏差除以多道脈沖幅度分析器的最大道數，以百分數表示。 　　3.2.43 　　模擬偏置analog offset 　　為了改變模擬-數字變換器的輸入信號的量值，從輸入信號中減去的模擬量，-般使其對應零道址。 　　3.2.44 　　峰康比peak-to-Compton ratio 　　在單能7輻射的脈沖高度譜上，全能吸收峰的峰位道計數與康普頓連續(xù)譜的康普頓端的道計數之比。 　　[IEV 394 39 32] 　　3.2.45 　　峰總比peak-to-total ratio 　　在單能Y輻射的脈沖幅度譜上，全能吸收峰內包含的計數與整個譜包含的計數之比。 　　[IEv 394-38-25] 　　3.2.46 　　光電峰photoelectric peak 　　由核輻射探測器中的光電效應產生的那部分能譜響應曲線。 　　注：通常，與光電峰最大強度相對應的能量是唯-可測量的近似于全吸收峰的能量。 　　[IEv 394-38-56] 　　3.2.47 　　全吸收峰total absorption peak 　　在核輻射探測器中，能譜響應曲線對應光子能量全吸收的那部分。 　　注：全吸收峰代表所有相互作用過程所產生的光子能量全被吸收，即： 　　a)光電吸收； 　　b)康普頓效應； 　　c)電子對生成。 　　[IEV 394-38-57] 　　3.2.48 　　康普頓剝離Compton stripping 　　在-個給定的能量窗，剝離因高能光子康普頓散射而導致的對計數率的貢獻。 　　[IEV 394-39-49] 　　3.2.49 　　逃逸峰escape peak 　　在7輻射譜上，以下情況產生的峰： 　　a) 由于探測器中產生電子對，及-個或兩個511keV的湮滅光子從探測器敏感部分逃逸； 　　b) 由于探測器中的光電效應，及作為光電效應結果而發(fā)射的x射線光子從探測器敏感部分逃逸(X射線逃逸峰)。 　　[IEV 394-39-26] 　　3.2.50 　　(線性放大器)輸入等效噪聲equivalent noise referred to input(of a linear amplifier) 　　輸入端的噪聲值，它能在輸出端產生與實際噪聲源所產生的相同的噪聲值。 　　[IEV 394-39-27] 　　3.2.51 　　成形(限幅)時間clipping time 　　a)具有RC微分器的脈沖成形電路的時間常數。 　　b)脈沖成形電路中的脈沖寬度。 　　[IEV 394-39-28] 　　注：成形時間決定脈沖的幅度。 　　3.2.52 　　預熱時間warm-up time 　　從測量儀表加電時開始到該儀表滿足所有規(guī)定的性能要求時為止所經歷的時間。 　　注：通常由制造商規(guī)定。 　　[IEV 394-39-35] 　　3.2.53 　　(模-數變換器的)變換時間conversion time(of an analogue-to-digital converter) 　　從觸發(fā)模數變換器的時刻開始到輸出數據可用的時刻為止之間的時間間隔。 　　[IEV 394 39 39] 　　3.2.54 　　校準曲線calibration calve 　　用解析、圖形或表格的形式表示系統(tǒng)響應與被測變量標準值的函數關系。 　　[IEV 394-39-41] 　　3.2.55 　　額定范圍rated range 　　指定給儀器的被測、觀察、提供或設定的量值的范圍。 　　[IEV 394-39-42] 　　3.2.56 　　額定使用范圍rated range of use 　　影響量的數值范圍，在此范圍內滿足相關工作誤差的要求。 　　[IEV 394-39-43] 　　3.2.57 　　隨機波動random variation 　　在規(guī)定的時間間隔內，當所有整定值和其他的量都保持恒定，而被測量也應在測量范圍之內且保持恒定時，輸出信號的波動。 　　[IEV 394-39-48] 　　3.2.58 　　統(tǒng)計漲落statistical fluctuation 　　輻射不穩(wěn)定性radiometric instability 　　輻射嗓聲radiometric noise 　　只由輻射源發(fā)射及其被探的隨機特性引起的輸出信號變化。當探測器處于輻照狀態(tài)時，其值規(guī) 　　定為輸出信號(不包含各種漂移)平均值的士2-。 　　注1：輻射噪聲的定義不包古電噪聲，但測量它時，卻不能析出電噪聲。 　　注2：當探測器處于最強輻照狀態(tài)時的輻射噪聲為全輻射噪聲。 　　3.2.59 　　信號飽和signal saturation 　　輸出信號對輸入值的增加不再響應的狀態(tài)。 　　[IEV 394-39-50] 　　3.2.60 　　死區(qū)dead band；dead zone 　　量值的有限范圍，在此范圍之內輸入變量的變化不能引起輸出變量的任何可測的變化。 　　注：當這種特性是有意造成時，有時可稱之為中性區(qū)。 　　[IEV 394-39-51] 　　3.2.63 　　(輻射測量裝置的)分辨力resolution(of a radiation measuring assembly) 　　能有意義地區(qū)分顯示裝置指示的最小差值。 　　注1：對于數字顯示裝置來說，就是顯示最低位有效數字改變-位所引起指示值的變化。 　　注2：分辨力概念同樣適用于記錄裝置。 　　[IEV 394 40-23] 　　3.2.64 　　甄別器曲線discriminator curve 　　計數率作為甄別器甄別電壓函數的關系曲線。 　　注：這條曲線用于確定甄別閾。 　　[IEV 394-38-53] 　　3.2.65 　　最小可探測(測量)活度(MDA)minimum detectable(measurable)activity(MDA) 　　在規(guī)定的本底噪聲存在的情況下能給出輻射量的-個計數，該計數不是只由本底噪聲產生的概率為95％。 　　[IEV 394-40-25] 　　3.2.66 　　最小可探測(測量)濃度(MDC)minimum detectable(measurable)concentration(MDC) 　　在規(guī)定的本底噪聲存在的情況下能給出放射性濃度的-個計數，該計數不是只由本底噪聲產生的概率為95％。 　　[IEV 394-40-26] 　　3.3電源 　　3.3.1 　　交流源電壓AC power input voltage 　　向電裝置源提供能量的輸入端交流電壓。 　　3.3.2 　　輸出效應output effect 　　在其他影響量保持不變時，由于-個或幾個影響量的穩(wěn)態(tài)值在規(guī)定范圍內變化，而引起穩(wěn)定輸出量的變化。 　　3.3.3 　　交流源電壓效應AC power input voltage effect 　　由于交流源電壓在規(guī)定范圍內變化而引起穩(wěn)定輸出量的變化。 　　3.3.4 　　負載效應load effect 　　由于負載電流在規(guī)定范圍內變動，而引起穩(wěn)定輸出量的變化。 　　3.3.5 　　交流源電壓及負載組合效應combinatory effect of AC power input voltage and load 　　由于交流源電壓及負載在各自的額定使用范圍內同時發(fā)生變化，而引起穩(wěn)定輸出量的變化。 　　3.3.6 　　溫度效應temperature effect 　　環(huán)境溫度每變化1℃時.電源穩(wěn)定輸出量的最大變化。 　　3.3.7 　　(電源)穩(wěn)定性stability(of power supply) 　　在所有影響量保持不變時.電源在規(guī)定的預熱時間之后的-段指定時間內，其穩(wěn)定輸出量的最大變化。 　　3.3.8 　　紋波和噪聲ripple and noise 　　疊加在電源直流輸出電壓上的殘余交流分量，其周期波動稱為紋波，隨機波動稱為噪聲。 　　3.3.9 　　瞬態(tài)效應transient effect 　　任何影響量發(fā)生階躍變化之后，電源穩(wěn)定輸出量的響應特性。 　　3.3.10 　　交流源電壓瞬態(tài)效應transient effect for AC power input voltage 　　其他影響量保持不變，交流源電壓在其額定值的上、下限躍變后電源穩(wěn)定輸出量的特性。 　　3.3.11 　　負載瞬態(tài)效應transient effect for load 　　其他影響量保持不變，負載在空-滿載狀態(tài)躍變后，電源穩(wěn)定輸出量的特性。 　　3.3.12 　　通、斷瞬態(tài)效應transient effect for turn-on，turn-off 　　其他影響量保持不變，源電壓在通-斷狀態(tài)躍變后，電源穩(wěn)定輸出量的特性。 　　3.3.13 　　效率efficiency 　　電源的直流總輸出功率除以輸入有功功率。 　　3.3.14 　　浪涌電流surge current 　　接通電源時，電源裝置輸入電流的最大瞬時值。 　　3.3.15 　　過流保護over-current protection 　　為使電源不被過大電流(包括短路電流)損壞的保護裝置和(或)連接的設備。 　　3.3.16 　　過壓保護over-voltage protection 　　為使電源不被過高電壓損壞的保護裝置和(或)連接的設備。 　　3.3.17 　　過溫(熱)保護over-temperature(heat)protection 　　為使電源不被過高溫度損壞的保護裝置和(或)連接的設備。 　　3.3.18 　　優(yōu)先電源(PPS)preferred power supply(PPS) 　　核電站在事故和事故后工況下，從輸電系統(tǒng)優(yōu)先給安全級電力系統(tǒng)供電的電源。 　　-般情況下它由廠外電源供電。 　　3.3.19 　　備用電源stand-by power supply 　　當優(yōu)先電源不能使用時，用于供應電力的電源。 　　3.3.20 　　浮空電源floating power supply 　　與其他電源沒有公用電路的電源。 　　3.3.21 　　不間斷電源(UPS)uninterruptible power supply(UPS) 　　安全重要的儀表和控制電源safety important instrumentation and control power supply 　　不間斷電源由整流裝置、逆變裝置、蓄電池組和電源開關等組成，用以向安全重要儀表和控制系統(tǒng)等負載連續(xù)供電。 　　3.3.22 　　負載分布圖load profile 　　表示在規(guī)定的時序中施加負載的大小和持續(xù)時間(包括各個負載的瞬態(tài)和穩(wěn)態(tài)特性)的圖。 　　3.3.23 　　帶廠用電運行house load operation 　　核電廠只向本廠自用電負荷供電的運行模式。 　　[IEV 393-18-59] 　　3.4試驗和測量誤差 　　3.4.1 　　試驗test 　　根據規(guī)定的程序，對給定的產品、過程或服務的-種或多種特性進行測定的技術操作。 　　注：進行試驗就是對某-物項施加-組環(huán)境條件和運行條件和(或)要求，以便測量該物項的性能或特性，或將其進行歸類。例如： 　　a)原型試驗(驗證設計)； 　　b) 型式試驗(驗證最終設計和制造工藝)； 　　c) 制造廠接受試驗(驗證單個部件)； 　　d) 驗收檢查(驗證已經收到的產品是否符合訂貨方的要求)； 　　e)現場接收試驗(驗證產品在系統(tǒng)中的工作)； 　　f) 監(jiān)督試驗(驗證產品仍能工作)； 　　g)維護或恢復使用試驗。 　　[IEV 394-40-01] 　　3.4.2 　　型式試驗type test 　　對代表產品的-個或多個物項進行的符合性試驗。 　　[IEV 394-40-02] 　　3.4.3 　　驗收試驗acceptance test 　　向顧客證明產品符合其某些規(guī)范要求，按合同規(guī)定進行的試驗。 　　[IEV 394-10-05] 　　3.4.4 　　常規(guī)試驗conventional test 　　在參考條件或標準試驗條件下對每個產品均進行的符合性試驗。 　　3.4.5 　　例行試驗routine test 　　在常規(guī)試驗后，為驗證產品對影響量的適應性以抽樣方式進行的試驗。 　　3.4.6 　　試運行試驗commissioning test 　　在現場對產品進行的，用以證明其正確安裝且能正確運行的試驗。 　　[IEV 394-40-04] 　　3.4.7 　　壽命試驗life test 　　為確定某個部件或裝置在規(guī)定條件下可能具有的壽命所進行的試驗。 　　[IEV 394-40-06] 　　3.4.8 　　定期試驗periodic test 　　為保證裝置或設備的性能保持在規(guī)定的限值內，定期在裝置或設備上所進行的試驗，以便確定在需要時進行調整。 　　[IEV 394-40-07] 　　3.4.9 　　維護試驗maintenance test 　　特定維護后所要求進行的試驗。 　　[IEV 394-40-08] 　　3.4.10 　　全功能試驗full function test 　　全功能試驗包括過程變量的擾動、敏感元件探測到的信號處理、邏輯輸出和相應部件的觸發(fā)。 　　3.4.11 　　量的約定真值conventionally true value of a quantity 　　賦予一個特定量的值，按該值用于某-給定目的時具有的不確定度，有時按慣例可以接受。 　　注：“量的約定真值”有時稱為給定值、最佳估算值、約定值或參考值。 　　[IEV 394-40-10] 　　3.4.12 　　測量誤差error of measurement 　　測量結果與其真值的差值。 　　注1：因為不可能確定-個真值，實際上采用約定真值。 　　注2：當必須區(qū)分“誤差”和“相對誤差”時，有時前者就稱為測量的絕對誤差。這不應與誤差的絕對值相混淆，誤差的絕對值是誤差的模數。 　　[IEV 394-40-13] 　　3.4.13 　　指示值的相對變化relative variation of indication 　　指示值變化除以標準試驗條件下指示值所得的商。 　　3.4.14 　　相對誤差relative error 　　測量誤差與被測量真值的商。 　　注：因為不可能確定-個真值.實際上采用約定真值。 　　[IEV 394-40-11] 　　3.4.15 　　固有誤差intrinsic error 　　在參考條件下確定的測量儀器的誤差。 　　[IEV 394-40-12] 　　3.4.16 　　誤差極限limit of error 　　設備在試驗方法指定的條件下工作時，制造商對-個被測量或提供的量所指定的誤差最大值。 　　3.4.19 　　參考點reference point 　　在設備上作出的標記，以此標記定位儀表進行校準。 　　注：從此點測量到輻射源的距離。 　　[IEV 394-40-15] 　　3.4.20 　　有效測量范圍effective range of measurement 　　標稱范圍的兩個限值之差的絕對值。 　　注：在某些領域，最大值與最小值之差被稱為范圍。 　　[IEV 394-40-16] 　　3.4.21 　　動態(tài)范圍dynamic range 　　最大可測量指示信號量與最小可測量指示信號量的商。 　　注：在某些情況下，動態(tài)范圍可用上述相應值的-個區(qū)間表示。 　　[IEV 394-40-17] 　　3.4.22 　　影響量influence quantity 　　不是被測量卻能影響測量結果的量。 　　[IEV 394-40-27] 　　3.4.23 　　參考條件reference conditions 　　為校準測量儀表或比對測量結果而規(guī)定的條件。 　　注：-般情況下參考條件包括影響測量儀表的影響量的參考僮或參考范圍。 　　3.4.24 　　試驗條件test conditions 　　為檢查設備的性能而選擇的條件。 　　[IEV 394-40-29] 　　3.4.25 　　標準試驗條件standardization test conditions 　　為驗證設備性能而選擇的具有確定范圍的參考條件。 　　3.4.26 　　環(huán)境條件 environmental conditions 　　作為正常運行工況或假設始發(fā)事件后果預期的物理環(huán)境，例如環(huán)境溫度、壓力、輻射、濕度、化學煙霧等。 　　[IEV 393-18-39] 　　3.4.27 　　(設備的)運行條件operational conditions(of equipment) 　　在影響量的范圍內設備按規(guī)定要求運行的條件。 　　[IEV 393-18-34] 　　3.4.28 　　線性誤差linearity error 　　代表輸出量與輸人量函數關系的曲線對-條直線的偏離。 　　[IEV 394 40-31] 　　注：線性誤差也稱為非線性。 　　3.4.29 　　(輻射測量裝置的)穩(wěn)定性stability(of u radiation measuring assembly) 　　在指定的不變條件下，輻射測量裝置在規(guī)定的時間間隔內性能保持穩(wěn)定的能力。 　　洼：通常給出的穩(wěn)定性是指時間間隔內單位時間的指示變化除以指示值所得的百分數。 　　[IEV 394-40-24] 　　注：穩(wěn)定性通常用不穩(wěn)定性表示。 　　3.4.30 　　漂移drift 　　在指定的不變條件下.輻射測量裝置在規(guī)定的時間間隔內工作點或輸出信號平均值的變化。 　　注：漂移分為短期漂移(小于或等于1d)和長期漂移(1d到1a)。 　　3.4.31 　　系統(tǒng)誤差systematic error 　　在可重復的條件下，同-被測量無窮多次測量值的平均值與該被測量約定真值的差值。 　　LIEV 394-40-32] 　　3.4.32 　　隨機誤差random error 　　在可重復的條件下，同-被測量的-次測量值與無窮多次測量值的平均值的差值。 　　注1：隨機誤差等于測量誤差減去系統(tǒng)誤差。 　　注2：因為只能作有限次數的測量，所以只能測出隨機誤差的估算值。 　　[IEV 394-40-33] 　　3.4.33 　　(測量儀表的)偏移bias(of a measuring instrument) 　　測量儀表顯示的系統(tǒng)誤差。 　　注：測量儀表的偏移通常用適當次數的測量指示誤差的平均值來估算。 　　[IEV 394-40-34] 　　3.4.34 　　測量的準確度accuracy of measurement 　　測量結果與其約定真值之問的-致程度。 　　注1：“準確度”是-個定性概念。 　　注2：術語“精確度”不能用作“準確度”。 　　[IEV 394-40-35] 　　3.4.35 　　準確度等級accuracy class 　　測量裝置按準確度或最大固有誤差確定的級別。 　　3.4.36 　　測量的不確定度uncertainty of measurement 　　與測量結果有關的、標志被測量的值可能合理分布的分散程度的參數。 　　注：例如.不確定度可能是-個標準偏差(或其給定倍數)，或是具有給定置信度的區(qū)間半寬。 　　[IEV 394-40-36] 　　3.4.37 　　(測量儀表的)重復性repeatability(of a measuring instrument) 　　在同樣的測量條件下，測量儀表對同-被測物理量通過重復測量給出最類似指示的能力。 　　[IEV 394-40-37] 　　3.4.38 　　(測量結果的)重復性repeatability(of results of measurements) 　　在同樣的測量條件下，對同-被測物理量連續(xù)測量結果的-致程度。 　　[IEV 394-40-38] 　　3.4.39 　　(測量結果的)再現性reproducibility(of results of measurements) 　　在變化的測量條件下，對同-被測物理量多次測量結果的-致程度。 　　[IEv 394-40-39] 　　3.4.40 　　驗證verification 　　確定-個產品或服務的質量或性能是否如所說明的、所預期的或所要求的過程。例如，對-個開發(fā)過程而言，驗證便是保證該開發(fā)過程中的-個特定階段滿足前-個階段對其要求的過程。 　　3.4.41 　　確認validation 　　確定被定型的儀表和控制系統(tǒng)(硬件和軟件)符合其功能、性能和接口要求的過程。 　　[IEV 394-40-42] 　　3.4.42 　　校準 calibration 　　在規(guī)定的條件下，確定測量儀表或測量系統(tǒng)的指示值、或實物量具或參考物質所表示的值與相應標準規(guī)定值之間關系的一組操作。 　　[IEV 394-40-43] 　　3.4.43 　　校準檢查calibration check 　　為保證儀表、部件或系統(tǒng)的響應準確度是可接受所進行的檢查。 　　[IEV 394-40-44] 　　3.4.44 　　可溯源性traceability 　　輻射量的測量值相對其適當參考量值的連續(xù)鏈。 　　注1：參考量通常是-個國家標準。 　　注2：這個概念常用形容詞“可追溯的”表示。 　　注3：比較連續(xù)鏈可稱為可追溯性鏈。 　　[IEV 394-40-45] 　　3.4.45 　　置信度confidence level 　　-個統(tǒng)計估算量的真值落人其估算值預先設定區(qū)間內的概率，通常用百分數表示。 　　[IEV 393-18-31] 　　3.5質量鑒定 　　3.5.1 　　設備質量鑒定equipment qualification 　　保證設備按指令運行時能依照其所屬系統(tǒng)的技術規(guī)格書、性能和安全要求的證據的產生和保存。 　　注：對于特定設備、工況或使用條件需要更多的具體要求。 　　[IEV 393-18-38] 　　3.5.2 　　(設備的)設計壽命design life(of equipment) 　　保證設備具有規(guī)定性能特性的最短持續(xù)時間。 　　[IEV 393-18-32] 　　3.5.3 　　(設備的)合格壽命qualified life(of equipment) 　　驗證設備具有規(guī)定性能特性的最短持續(xù)時間。 　　注：在某-個特定部件安裝壽命內該組件的合格壽命可能改變。 　　[IEV 393-18-33] 　　3.5.4 　　(設備的)安裝壽命installed life(of equipment) 　　設備從安裝到永久拆除不再運行之間的時間間隔，在此時間間隔內按照規(guī)定的運行條件設備可完全滿足所有設計要求。 　　注：設備可能有40年的安裝壽命.但是它的-些部件要定期更換，那么這些部件的安裝壽命將短于40年。 　　[IEv 393-18-35] 　　3.5.5 　　使命時間mission time 　　設備應執(zhí)行其規(guī)定功能的-段時間。 　　3.5.6 　　時程time history 　　地震運動的時間記錄或為置于地面的結構的-個特定樓層或某個標高處在時間坐標上的地震反應。 　　3.5.7 　　質量鑒定試驗qualification test 　　為了證明設計的充分性，同時證明設備在正常狀態(tài)、運行條件下和預計運行事件下均能滿足廠方和用戶商定的技術要求，在該設備有代表性的樣本上進行的試驗。 　　3.5.8 　　(設備的)鑒定裕度qualification margin(of equipment) 　　設備型式試驗條件與其相應最嚴格的運行條件之間的差額。 　　注：鑒定裕度考慮了設備制造時的偏差和明確滿足工作性能時的合理誤差。 　　[IEV 393-18-36] 　　3.5.9 　　S1地震(運行安全地震)s1 earthquake(OBE) 　　在核電廠被鑒定設備的運行壽期內可能影響到該廠址的地震。對這類地震，設備應設計成連續(xù)運行而無需修改。 　　注：s1地震是在核電廠運行壽期內，可合理預期的在廠區(qū)內可能遭受-次的最大地面運動。 　　3.5.10 　　s2地震(極限安全地震)s2 earthquake(SSE) 　　可能發(fā)生的最大地震。某些構筑物、系統(tǒng)和部件設計成在它作用下仍能保持其功能。這些構筑物、系統(tǒng)和部件對保證被鑒定的整個系統(tǒng)的正確功能、完整性和安全性是必不可少的。 　　注：S2地震是在廠區(qū)內可能發(fā)生的最大地震。 　　3.5.11 　　抗震鑒定試驗seismic qualification 　　證明設備和(或)設施有能力承受規(guī)定地震應力的活動。 　　[IEV 394-40-09] 　　3.5.12 　　反應譜response spectrum 　　表示-組振子最大反應的曲線。每個振子都是單自由度的而且阻尼是固定的。當振子承受在支座處輸入的振動時，其最大反應為其自振頻率的函數。 　　3.5.13 　　要求反應譜(RRS)required response spectrum(RRS) 　　設備的抗震要求應滿足的由用戶給出的作為驗證試驗技術條件的反應譜。 　　3.5.14 　　試驗反應譜(TRS)test response spectrum(TRS) 　　從振動臺的實際運動通過分析技術或譜分析設備得到的反應譜。 　　3.5.15 　　標準譜試驗standard spectrum testing 　　在設備安裝處地震譜不超過試驗譜的情況下，可以用-個適宜的標準譜對設備進行的試驗。 　　3.5.16 　　功率譜密度(PSD)power spectrum density(PSD) 　　某-波形的單位頻率內加速度平方的平均值。功率譜密度用單位頻率內的加速度平方(g2/△f)與頻率(f)的關系曲線表示。 　　3.5.17 　　阻尼damping 　　使自由振動衰減的各種摩擦和其他阻礙作用。 　　3.5.18 　　正弦拍波sine beat 　　由-個較低頻率正弦波調幅的較高頻率的連續(xù)正弦波。 　　3.5.19 　　零周期加速度zero period acceleration(ZPA) 　　反應譜的高頻未放大部分的加速度水平。它等于導出該反應譜所相應的時程曲線的最大峰值加速度。 　　3.5.20 　　易損度fragility level 　　以輸入頻率的函數表示的某-設備能承受并仍能執(zhí)行其所要求安全功能的輸入激勵的最高水平。 　　易損度可用反應譜表示，它是從確定易損度的試驗中得到的試驗反應譜。 　　4核設施儀表和控制 　　4.1通用術語 　　4.1.1 　　[核]反應堆儀表[nuclear]reactor instrumentation 　　監(jiān)測和控制反應堆所需的電氣設備和電子設備或儀表，包括安全重要的所有控制和儀表系統(tǒng)。 　　[IEV 394-33-01] 　　4.1.2 　　運行限值和條件operation limits and conditions 　　經國家核安全監(jiān)管部門批準的.為核電廠的安全運行列舉的參數限值、設備的功能和性能及人員執(zhí) 　　行任務的水平等-整套規(guī)定。 　　4.1.3 　　單-故障single failure 　　導致某個部件不能執(zhí)行其預定安全功能的-種故障，以及由此引起的各種繼發(fā)故障。 　　[HAF 103(2004)] 　　4.1.4 　　單-故障準則single failure criteria 　　要求系統(tǒng)或設備組合在其任何部位發(fā)生可信的單-隨機故障時仍能執(zhí)行其正常功能的設計準則。 　　4.1.5 　　實體分隔physical separation 　　實體隔離physical separation 　　由幾何分隔(距離、方位)、適當的屏障或兩者結合形成的隔離。 　　[HAF 102(2004)] 　　4.1.6 　　功能隔離function separation 　　防止-個線路或-個系統(tǒng)的運行模式或故障影響到另-個線路或系統(tǒng)。 　　rHAF 102(2004)] 　　4.1.7 　　電氣隔離electrical separation 　　部件、設備、通道或系統(tǒng)之間不存在電回路的-種隔離。 　　4.1.8 　　獨立設備independent equipment 　　獨立的兼有下列兩個特性的設備： 　　a) 執(zhí)行其所需功能的能力不受其他設備運行或故障的影響； 　　b) 執(zhí)行其功能的能力不受要求它起作用的假設始發(fā)事件的后果的影響。 　　4.1.9 　　多樣性diversity 　　為執(zhí)行某-確定功能設置兩個或多個多重部件或系統(tǒng)，這些不同部件或系統(tǒng)具有不同屬性，從而減少了共因故障的可能性。 　　FHAF 102(2004)] 　　4.1.10 　　冗余redundancy 　　多重性redundancy 　　除本身外，設置另外-個或多個(相同的或不同的)構筑物、系統(tǒng)和部件，以便其中-個能執(zhí)行所要求的功能，不管任何其他的是處于運行狀態(tài)還是故障狀態(tài)。 　　[IAEA No.NS-G-1.3：2002] 　　4.1.11 　　冗余組redundancy group 　　能重復其他組的基本功能的設備組合。不管具有同種功能的其他組狀態(tài)如何，它都能獨立完成所要求的功能。 　　4.1.12 　　冗余設備redundant equipment 　　功能相同的兩個或兩個以上的設備。其中任何-個都可以完成要求的功能而與其他設備是否處于正常狀態(tài)無關。 　　4.1.13 　　共因故障common cause failure 　　由特定的單-事件或起因導致兩個或多個構筑物、系統(tǒng)或部件失效的故障。 　　[HAF 102(2004)] 　　4.1.14 　　安全故障safe failure 　　在反應堆運行異常時能增加相應安全動作概率的安全系統(tǒng)內的故障。 　　4.1.15 　　非安全故障unsafe failure 　　安全系統(tǒng)內的故障，這種故障在反應堆運行異常時可能減少保護系統(tǒng)觸發(fā)相應安全動作的概率。 　　4.1.16 　　故障安全fail-safe 　　系統(tǒng)中任何部件發(fā)生故障時能使該系統(tǒng)趨于增加安全動作的-種設計原則。 　　4.1.17 　　故障容限fault tolerance 　　當存在限定數量的硬件或軟件故障時，該系統(tǒng)能保證連續(xù)正確地執(zhí)行其功能的固有能力。 　　[IEV 394-33-13] 　　4.1.18 　　輔助控制點/室(核安全領域) supplementary control point(in nuclear safety) 　　獨立于主控室完成安全功能的設施。 　　[IEV 393-18-28] 　　4.1.19 　　保護接地protective earthing 　　電氣和電力設備的金屬外殼，由于絕緣損壞可能帶電，為防止這種電壓危及人身安全而進行的接地。 　　4.1，20 　　周期計period meter 　　與-個或多個探測器相連接、用于指示反應堆時間常數(反應堆周期)的電子裝置。 　　注：周期計可以按時間常數單位、倍增時間或每分鐘功率增加lo倍等進行刻度。 　　[IEV 394-33-04] 　　4.1.21 　　倍增時間doubling time 　　倍周期doubling time 　　在中子注量率按指數規(guī)律上升的時候，中子注量率增長1倍所需要的時間。 　　4.1.22 　　源區(qū)段source range 　　為有效測量中子注量率.反應堆在需要附加中子源的非常低功率下運行的范圍。 　　[IEV 393-17-44] 　　4.1.23 　　中間區(qū)段time constant range 　　反應堆的-個功率水平范圍，在此范圍內反應堆控制主要依據時間常量(反應堆周期)測量而不是根據反應堆功率測量。 　　注：在核電廠技術中，這-概念常稱為“時間常數區(qū)段”或“對數區(qū)段”。 　　[IEV 393- 7-48] 　　4.1.24 　　功率區(qū)段power range 　　反應堆的-個功率水平范圍，在此范圍內反應堆控制主要依據溫度或中子注量率測量而不是時間常量測量。 　　[-IEV 393-17-47] 　　4.1.25 　　操作監(jiān)測operational monitoring 　　與-定操作有關的特殊監(jiān)測。 　　4.1.26 　　旁通bypass 　　旁路bypass 　　有意地但是暫時地使-個線路或系統(tǒng)停止起作用的-種裝置，例如使繼電器的接點短路。 　　[1AEA No.NS-G-1.3：2002] 　　4.1.27 　　運行旁通operational bypass 　　在核動力廠特定運行模式期間某些不需要的保護動作的旁路。 　　[IAEA No.NS-G 1.3：2002] 　　4.1.28 　　維修旁通(安全系統(tǒng)的)maintenance bypass(for safety system) 　　安全系統(tǒng)設備在維護、試驗和修理期間的旁路。 　　[IAEA No.NS G-1.3：2002] 　　4.1.29 　　序列train；division 　　某-給定系統(tǒng)或設備組的名稱，它們與其他冗余設備組在實體、電氣和功能上保持獨立。 　　4.1.30 　　通道channel；train 　　系統(tǒng)內相互連接的幾個部件發(fā)出單-輸出信號的配置，在單-輸出信號與來自其他通道(例如監(jiān)測 　　通道或安全驅動通道)的信號結合在-起的地方，通道就告終止。 　　[1AEA No.NS-G-1.3：2002] 　　4.1.31 　　(反應堆)電氣貫穿件electric penetration assembly(of reactor) 　　由帶絕緣的導體、導體密封件和開孔密封件構成的組件，它為導體穿過安全殼結構的單個開孔提供通道，同時在安全殼結構的內外側之間提供壓力邊界。 　　[IEV 394-35-09] 　　4.1.32 　　反應性溫度系數reactivity temperature coefficient 　　在反應堆中特定的部件和位置上，反應性變化與反應堆溫度增量的比值。 　　[IEV 393-15-44] 　　4.1.33 　　(反應堆)物理功率physical power(for reactor) 　　反應堆技術中用于表示反應堆中子產額(每秒的中子數)的約定值。 　　[IEV 393-15-64] 　　4.1.34 　　緊急停堆scram 　　為防止危險狀態(tài)發(fā)生或將危險狀態(tài)發(fā)生的概率減至最小而盡可能快地關閉反應堆的動作。 　　[IEV 393-17-43] 　　4.1.35 　　(反應堆)事故(保護)停堆trip(for reactor) 　　核反應堆快速降功率直至關閉反應堆的動作。 　　[IEV 393-18-29] 　　4.1.36 　　誤停堆spurious shutdown 　　與反應堆異常工況無關的意外事件引起的停堆。 　　[IEV 393-18-30] 　　4.2測量系統(tǒng) 　　4.2.1 　　監(jiān)測monitoring 　　連續(xù)或定期地測量輻射或其他參數來確定某個系統(tǒng)的狀態(tài)。 　　[IEV 393-18-40] 　　4.2.2 　　被擾動的中子注量率perturbed neutron fluence rate 　　中子探測器置于測量位置時該處空間的平均中子注量率。其數值為探測器輸出除以它的靈敏度，實際上近似于探測器全表面的平均中子注量率。 　　沒有設置中子探測器時該點的平均中子注量率，稱為未被擾動的中子注量率。 　　4.2.3 　　反應堆噪聲reactor noise 　　反應堆中由核過程的隨機性或由機械、流體動力過程的無規(guī)則漲落引起的中子注量率漲落和由此產生的功率波動。 　　4.2.4 　　(反應堆)噪聲診斷系統(tǒng)noise diagnostic system(of reactor) 　　通過監(jiān)測和分析反應堆穩(wěn)態(tài)運行期間參數漲落(如中子注量漲落、冷卻劑壓力波動及機械振動)，以早期探測過程異常或反應堆堆芯部件潛在缺陷的系統(tǒng)。 　　[IEV 394-35-12] 　　4.2.5 　　冷卻劑泄漏測量裝置coolant leakage measuring assembly 　　確定冷卻劑從反應堆冷卻劑系統(tǒng)流失所用的測量裝置。 　　4.2.6 　　可查數據auditable data 　　以易于理解和查找的方式記錄和整理成文件的技術信息，據此信息可以單獨核查、推論或作出結論。 　　4.2.7 　　離線off-line 　　計算機系統(tǒng)的-種運行方式，在此方式下.正在運行的程序的輸人數據與核電廠當前狀態(tài)無關。 　　4.2.8 　　在線on-line 　　計算機系統(tǒng)的-種運行方式，在此方式下，正在運行的程序的輸人數據是從工藝設備自動獲取的，能代表這些設備的當前狀態(tài)。在計算機系統(tǒng)在線運行時，通常有-種輸出功能可用。 　　4.2.9 　　安全參數顯示系統(tǒng)(SPDS)safety parameter display system(SPDS) 　　用于顯示與反應堆關鍵安全功能有關的主要參數的系統(tǒng)。 　　注：這些安全參數尤其涉及到反應性控制、反應堆冷卻劑系統(tǒng)的完整性、堆芯冷卻、從反應堆主系統(tǒng)排出熱量以及放射性控制。 　　4.2.10 　　熱功率測量裝置thermal power measuring assembly 　　包括測量冷卻劑溫度和流率的子設備，并與計算機相連接、用于測定反應堆熱功率的裝置。 　　[IEV 394-35-03] 　　4.2.11 　　燃料通道活度比較器fuel channel activity comparator 　　以預先測得的燃料通道或通道組的裂變產物濃度作為基準濃度.將每-個燃料通道或通道組的裂變產物濃度與該基準濃度進行自動比較的測量裝置。 　　[IEV 394-33-07] 　　4.2.12 　　基于活化的功率測量裝置power measuring assembly based on activation 　　通過測量某種合適材料的活化程度來確定反應堆熱功率的測量裝置。 　　[iFv 394-33-03] 　　4.2.13 　　裂變產物中毒預測儀fission products poisoning predictor 　　根據裂變產物中毒情況來確定反應堆反應性變化的儀器，例如氙中毒預測儀。 　　4.2.14 　　熱交換器泄漏監(jiān)測儀heat exchanger leak monitor 　　通過監(jiān)測二次回路中冷卻劑放射性來探測-次冷卻劑回路和二次冷卻劑回路之間泄漏的儀器。 　　4.2.15 　　重水含量儀heavy water content monitor 　　用于連續(xù)或間斷測量反應堆中重水與輕水混合物中重水含量的儀器。 　　[IEv 394-35-08] 　　4.2.16 　　冷卻劑總活度監(jiān)測儀coolant gross activi姆monitor 　　用于測量反應堆冷卻劑活度，并在活度超過預定值時發(fā)出報警的儀器。 　　[IEV 394-35-05] 　　4.2.17 　　中子監(jiān)測的坎貝爾系統(tǒng)Campbell system for neutron monitoring 　　根據中子注量率與裂變室產生的信號漲落方差成正比的原理，利用裂變室產生的信號漲落測量核反應堆內中子注量率的裝置。 　　4.2.18 　　堆芯中子注量率測量(測繪)系統(tǒng)in-core neutron fluence rate mapping system 　　用于測量并繪制反應堆堆芯中子注量率分布的裝置。 　　[IEV 394-35-04] 　　注：典型測量系統(tǒng)使用小型移動式裂變室或自給能探測器(或者利用安裝在堆芯的適當的金屬絲或金屬片)，測其不同點的感生活度分布；典型測量系統(tǒng)還包括氣球系統(tǒng)。 　　4.2.19 　　流氣式中子注量率測量裝置gas-flow neutron fluence rate measuring assembly 　　用于測量反應堆內中子注量率的設備，由一個裂變材料靶和-個探測器組成，在靶上產生的裂變產物由惰性氣體流帶到反應堆外的探測器。 　　[IEV 394-35-02] 　　4.2.20 　　堆芯溫度測量系統(tǒng)in-core temperature measuring system 　　利用堆芯測溫傳感器測量反應堆-次冷卻劑、燃料和堆內構件溫度的系統(tǒng)。 　　注：該系統(tǒng)為反應堆正常運行提供必需的信息，它可以是一個獨立的系統(tǒng)，或是整個堆芯監(jiān)測系統(tǒng)的一部分。 　　[IEV 394-35-11] 　　4.2.21 　　堆芯測溫傳感器in-core temperature measuring sensor 　　用于提供反應堆堆芯或主包殼內預定點的溫度測量信號的一種固定式或可移動的器件。 　　注：示例： 　　——鎧裝熱電偶； 　　——接點絕緣型熱電偶； 　　——接點非絕緣型熱電偶； 　　——同軸熱電偶； 　　——電阻溫度計。 　　[IEv 394-35-10] 　　4.2.22 　　破損燃料元件監(jiān)測儀failed fuel element monitor 　　對將燃料元件與反應堆冷卻劑隔開的燃料元件密封包殼上可能出現的破損進行探測和定位的設備。 　　注j：有時，探測和定位分成兩個獨立的系統(tǒng)。 　　注2：在核安全術語中，“包殼”被認為是-道屏障。 　　[IEV 394-33-06] 　　4.2.23 　　靜電收集型破損燃料元件監(jiān)測儀electrostatic collector failed fuel element monitor 　　通過測量在負電極上收集到的氣態(tài)裂變產物放射性活度來監(jiān)測破損燃料元件的監(jiān)測儀。 　　注：例如，銣和銫。 　　[IEV 394-33-08] 　　4.2.24 　　切連科夫效應破損燃料元件監(jiān)測儀Cerenkov effect failed fuel element monitor 　　利用水中裂變放射性核素的口輻射產生的切連科夫效應來監(jiān)測破損燃料元件的監(jiān)測儀。 　　[IEV 394-33-09] 　　4.2.25 　　裂變產物分離型破損燃料元件監(jiān)測儀fission product separator failed fuel element monitor 　　通過測量從反應堆冷卻劑中分離出的-種或幾種裂變產物的放射性活度來確定破損燃料元件的監(jiān)測儀。 　　[IEV 394 33-10] 　　4.2.26 　　緩發(fā)中于型破損元件監(jiān)測儀delayed neutron failed element monitor 　　基于探測冷卻劑中某些裂變產物產生的緩發(fā)中子來監(jiān)測破損燃料元件的監(jiān)測儀。 　　[JEV 394 33-11] 　　4.2.27 　　破損燃料元件指示器failed fuel element indicator 　　快速顯示燃料元件破損情況的裝置.包括置于主冷卻劑環(huán)路中的測量裂變產物活度的探測器。 　　[IEV 394 33-12] 　　4.2.28 　　(控制室)顯示器displays(in control room) 　　用于顯示所監(jiān)測的核電廠工況和狀態(tài)信息的裝置。 　　注：顯示的信息包括過程狀態(tài)、設備狀態(tài)等。 　　[IEV 394-33-21] 　　4.2.29 　　(反應堆)振蕩器(reactor)oscillator 　　通過樣品的振蕩使反應性發(fā)生周期變化的一種裝置。用于測定反應堆的特性或樣品的核截面。 　　4.2.30 　　包殼溫度計算機cladding temperature computer 　　根據反應堆的功率和在堆芯內某些點測得的溫度來計算包殼最熱部分溫度的計算機。 　　[IEV 394-35-01] 　　4.3控制系統(tǒng) 　　4.3.1 　　反應堆控制nuclear reactor control 　　通過調節(jié)反應性來獲得反應堆內反應速率的變化以保持所要求的運行狀態(tài)。 　　[IEV 393-17-33] 　　注：反應堆控制的方法有許多種，例如，反射層控制、構形控制、慢化劑控制、硼濃度控制、燃料控制、吸收控制、液體毒物控制等。 　　4.3.2 　　(反應堆)傳遞函數transfer function(of reactor) 　　給定的反應堆參數(例如功率)對反應性變化給出響應的數學表達式。 　　[IEV 394-35-06] 　　4.3.3 　　(反應堆)傳遞函數儀transfer function meter(of reactor) 　　測定傳遞函數的裝置。 　　[IEV 394-35-07] 　　4.3.5 　　負反應性negative reactivity 　　反應堆在某-狀態(tài)下由特定的裝置或物理現象引起的反應性增量的減少。 　　注：例如控制棒(裝置)或溫度變化(現象)引起的負反應性。 　　[IEV 393-15-43] 　　4.3.6 　　反應性儀reactivity meter 　　與-個或多個探測器相連接、用于指示反應堆反應性的電子裝置。 　　[IEV 394-33-05] 　　4.3.7 　　尼奎斯特準則Nyquist criterion 　　在系統(tǒng)傳遞函數分析中判斷反饋控制系統(tǒng)穩(wěn)定性程度的-種準則。 　　4.3.8 　　聯(lián)鎖限值interlock limit 　　運行參數的一種限制值，到該值時，自動閉鎖某些動作。例如禁止控制棒進一步抽出。 　　4.3.9 　　(反應堆)失控(reactor)runaway 　　因異常事件導致反應堆功率或反應性的連續(xù)增加，使反應堆偏離正常狀態(tài)并達到預定的整定值。不能由正?？刂葡到y(tǒng)控制，但反應堆緊急停堆系統(tǒng)能使其安全終止的情況。 　　4.3.10 　　自調節(jié)self-regulation 　　由于反應性功率系數的作用.使反應堆在-定條件下維持恒定功率運行的-種固有傾向。 　　4.3.11 　　反應堆控制系統(tǒng)reactor control system 　　控制反應堆用的設備、部件和器件的組合。 　　4.3.12 　　反應堆功率自動調節(jié)裝置reactor power automatic control assembly 　　反應堆功率自動調節(jié)系統(tǒng)reactor power automatic control system 　　用于自動調節(jié)表征反應堆功率的量(例如中子注量率或其他希望調節(jié)的量)，并在要求的條件下自動改變這個量的數值的裝置。 　　4.3.13 　　輔助操作控制系統(tǒng)auxiliary operating control system 　　控制室外(例如就地控制室和就地停堆系統(tǒng))的操作系統(tǒng)。 　　[IEV 394-33-20] 　　4.3.14 　　補償組件shim member shim element 　　用以補償反應堆內反應性和中子注量密度分布的長期變化的控制部件。 　　[IEV 394-35-15] 　　4.3.15 　　(反應堆)控制組件驅動機構control member drive mechanism(of reactor) 　　用于移動控制組件的裝置。 　　ElEV 394-35-18] 　　4.3.16 　　控制組件control member 　　反應堆內本身能影響反應性且用于反應堆控制的可移動部分。 　　[IEV 394-35-19] 　　4.3.17 　　反射層控制reflector control 　　通過調節(jié)反射層的性質、位置或數量來改變反應性的方式來控制反應堆。 　　[IEV 393-17-38] 　　4.3.18 　　微調控制fine control 　　為了校正小的反應性變化而進行的細微調整。 　　[IEV 393-17-41] 　　4.3.19 　　誤動[作]spurious action 　　系統(tǒng)運行時.由不可信故障或人因差錯而引起系統(tǒng)動作的行為。 　　4.3.20 　　拒動[作]rejection action 　　系統(tǒng)運行時，由可信故障或人為指令需要系統(tǒng)動作而系統(tǒng)不動作的行為。 　　4.4安全系統(tǒng) 　　4.4.1 　　固有安全intrinsic safety；inherent safety 　　-個特定故障所引起的響應能提高系統(tǒng)、設備或組件的安全性的特性。 　　[IEV 393-18-43] 　　4.4.2 　　安全級(IE級)class IE 　　反應堆或核電廠電氣設備和系統(tǒng)的-個安全級別。它們是完成反應堆緊急停堆、安全殼隔離、堆芯冷卻以及從安全殼和反應堆排出熱量所必需的，或者是防止放射性物質向環(huán)境大量排放所必需的。 　　4.4.3 　　安全系統(tǒng)safety system 　　安全上重要的系統(tǒng)，用于保證反應堆的安全停堆、從堆芯排出余熱或限制預計運行事件和設計基準事故的后果。 　　[HAF 102(2004)] 　　注：安全系統(tǒng)包括保護系統(tǒng)、安全執(zhí)行系統(tǒng)和安全系統(tǒng)支持設施(見圖1)。 　　4.4.4 　　安全重要物項items important to safety(IIS) 　　屬于某-安全組合的-部分和(或)其失效或故障可能導致對廠區(qū)人員或公眾的輻射照射的物項。 　　[HAF 102(2004)] 　　注：安全重要物項見圖1。 　　4.4.5 　　(反應堆)安全組合safety group(of reactor) 　　為完成特定的假設始發(fā)事件所需的全部操作所設計的設備的組合，用于保證不超過預期運行事件和設計基準事故的設計基準中規(guī)定的限值。 　　[IAEA No.NS-G-1.3：2002] 　　4.4.6 　　安全任務safety task 　　顯示-特定假設始發(fā)事件的-個或幾個變量的測量，信號的處理，為防止超過設計基準規(guī)定的限值而需要的安全動作的觸發(fā)和完成，以及安全系統(tǒng)輔助設施的某些服務的觸發(fā)和完成。 　　[IAEA No.NS-G-1.3：2002] 　　4.4.7 　　安全動作safety action 　　安全驅動系統(tǒng)采取的單-動作。 　　[IAEA No.NS-G-1.3：2002] 　　4.4.8 　　安全功能safety function 　　為安全而應達到的特定目的。 　　[HAF 102(2004)] 　　4.4.9 　　(反應堆)保護系統(tǒng)protection system(of reactor) 　　監(jiān)測反應堆的運行，并根據接收到的異常工況信號，自動動觸發(fā)動作以防止發(fā)生不安全或潛在的不安全工況的系統(tǒng)。 　　[HAF 102(2004)] 　　4.4.10 　　保護任務protective task 　　為保證完成慕一個給定假設始發(fā)事件所要求的安全任務所需要產生的最少的那些保護動作。 　　[IAEA No.NS-G-1.3：2002] 　　4.4.11 　　保護動作(核安全領域)protective action(in nuclear safety) 　　使某個特定的安全驅動裝置動作的保護系統(tǒng)的動作。 　　[IAEA No.NS-G 1.3：2002] 　　4.4.12 　　保護功能protection function 　　執(zhí)行保護動作的功能。 　　注：保護功能例子包括電廠參數的監(jiān)測，在電廠參數達到設計基準中規(guī)定的且與電廠特定工況有關的限值時，觸發(fā)信號處理、完成保護動作。 　　[IEV 393 18 24] 　　4.4.13 　　整定值setpoint 　　根據安全分析預先確定的值，當被監(jiān)測的變量達到此值時，具有雙穩(wěn)態(tài)的裝置改變狀態(tài)。 　　4.4.14 　　安全限值safety limit 　　對運行參數規(guī)定的限值，核電廠在此限值之內運行是安全的。 　　[HAF 102(2004)] 　　4.4.15 　　安全系統(tǒng)整定值safety system setpoint 　　為防止出現超過安全限值的狀態(tài)，在發(fā)生預計運行事件和事故工況時啟動有關自動保護裝置的觸發(fā)點。 　　[HAF 102(2004)] 　　4.4.16 　　保護動作整定值trip level 　　反應堆安全系統(tǒng)中變量的設定值，當被監(jiān)測的變量達到此值時.保護系統(tǒng)觸發(fā)安全驅動器動作。 　　4.4.17 　　安全監(jiān)測裝置safety monitor；safety monitoring assembly 　　跟蹤反應堆特性變化的設備，包括向安全邏輯裝置輸出-個或多個邏輯信號的數據處理子設備。 　　4.4.18 　　安全邏輯裝置safety logic assembly 　　與-個或多個安全監(jiān)測裝置相連，用來完成預定的邏輯功能并向-個或多個安全驅動器輸出指令信號的裝置。 　　4.4.19 　　動態(tài)邏輯信號dynamic logic signal 　　周期變化的電壓或電流信號，其頻率與所要求的系統(tǒng)響應時間相-致。不同的邏輯狀態(tài)與周期變化的-個或多個量(例如脈沖或交變信號的幅度、斜率、重復速率.或者脈沖編碼)的不同數值有關。其中-種邏輯狀態(tài)可對應該信號無周期變化狀態(tài)。 　　4.4.20 　　動態(tài)邏輯裝置dynamic logic equipment 　　使用動態(tài)邏輯信號的系統(tǒng)或系統(tǒng)部件。 　　4.4.21 　　觸發(fā)trip 　　跳閘(脫扣)trigger 　　具有雙穩(wěn)態(tài)的裝置從-種狀態(tài)向另-種狀態(tài)的轉換。例如安全監(jiān)測裝置雙態(tài)輸出信號(報警、反插、安全停堆等)從常態(tài)變成異常狀態(tài)。也指反應堆緊急停堆。 　　4.4.22 　　觸發(fā)裕度trip margin 　　某-變量的測量值與其相關的觸發(fā)值之間的差。 　　4.4.23 　　報警alarm 　　當儀表的讀數超過-個整定值或超出整定范圍時，在報警盤和其他顯示器上觸發(fā)聽覺或視覺信號，以便為現場人員提供關于設備或事件的信息。 　　[IEV 393-18-03] 　　4.4.24 　　停役outage 　　反應堆或核電廠按照計劃停止運行，進行換料、檢修、試驗或改進等工作而不能使用的狀態(tài)。 　　4.4.25 　　報警系統(tǒng)alarm system 　　當出現異常情況時(例如某個系統(tǒng)或過程偏離)用于提醒操縱員可能需要采取校正動作的系統(tǒng)。 　　LIEV 394-34-20] 　　4.4.26 　　(反應堆)警告系統(tǒng)warning system(of reactor) 　　報警系統(tǒng)的一部分，它對異常但不會立即產生嚴重后果的情況(即使是暫時的)提供視覺聽覺信號。 　　4.4.27 　　安全報警系統(tǒng)safety alarm system 　　保護系統(tǒng)中由所有安全報警組成的那部分。 　　注：安全報警警告操縱員采取必要的保護動作。 　　[IEV 394-34-13] 　　4.4.28 　　聲響報警系統(tǒng)audible warning system 　　對需要采取安全動作的事故狀態(tài)，如需要(人員)撤離安全殼或其他構筑物時。提供聲響報警的系統(tǒng)。 　　[IEV 394-34-15] 　　4.4.29 　　安全驅動系統(tǒng)safety actuation system 　　安全執(zhí)行系統(tǒng)safety actuation system 　　當受到保護系統(tǒng)觸發(fā)時，完成要求的安全動作所需設備的集合。 　　rIAEA No.NS-G-1.3：2002] 　　4.4.30 　　聯(lián)鎖功能 interlock function 　　作為儀表和控制系統(tǒng)的-部分，能防止非安全的運行工況、保護人員及防止危險所執(zhí)行的功能。 　　[IEV 394-34-18] 　　4.4.31 　　安全重要的聯(lián)鎖系統(tǒng)interlock system important for safety 　　電氣儀表和控制系統(tǒng)的-部分，除非滿足所有規(guī)定的條件，否則它將阻止某些可能影響反應堆安全的操作。 　　[IEV 394-34 12] 　　4.4.32 　　執(zhí)行裝置actuated equipment 　　執(zhí)行設備 actuated equipment 　　用以完成-個或幾個安全任務的原動機和被驅動設備的組合體。 　　rIAEA No.NS-G-1.3：2002] 　　4.4.33 　　驅動設備actuation [IEVice 　　驅動裝置；驅動器actuation [IEVice 　　直接控制執(zhí)行設備動力的部件。例如控制配電和用電的斷路器和繼電器，以及控制液體或氣體的先導閥。 　　[IAEA No.NS-G-1.3：2002] 　　4.4.34 　　自動降功率系統(tǒng)automatic power cutback(runback)system 　　這個系統(tǒng)按規(guī)定的控制棒運行速度自動地控制反應性的減少，以編程方式將反應堆的功率降到預定的水平。 　　4.4.35 　　反應堆安全釋放裝置reactor safety fuse 　　這是-種系統(tǒng)內的裝置，它對反應堆內過高的溫度或中子注量率做出反應，使核反應速率降到安全水平。為便于操作.這個裝置可以是能動的或者非能動的。 　　4.4.36 　　可編程操作的安全裝置programmed action safety assembly 　　按編程方式控制反應堆功率有限制下降的安全設備。 　　4.4.37 　　反應堆緊急停堆系統(tǒng)reactor trip system；emergency shutdown(safety)system 　　安全系統(tǒng)的-部分，通過不可逆轉的動作迅速減少堆芯中子注量率使反應堆停堆的設備組合。 　　4.4.38 　　安全系統(tǒng)支持設施safety system support features 　　安全系統(tǒng)輔助設施safety system auxiliary features 　　為保護系統(tǒng)和安全驅動系統(tǒng)的需要而提供諸如冷卻、潤滑和能源等服務的設備集合。 　　[IAEA No.NS-G-1.3：2002] 　　4.4.39 　　專設安全設施engineered safety features 　　為限制或緩解反應堆事故后果而專門設置的安全系統(tǒng)，包括安全殼隔離系統(tǒng)、應急堆芯冷卻系統(tǒng)、安全殼噴淋系統(tǒng)和安全殼氫氣控制系統(tǒng)等。 　　4.4.40 　　應急響應設施emergency response facility 　　為緩解事故后果和對異常運行工況作出響應而設置的設施，例如技術支持(援)中心、運行支持(援)中心、應急操作設施等。 　　4.4.41 　　安全有關儀表和控制系統(tǒng)safety-related instrumentation and control systems 　　不作為安全系統(tǒng)組成部分的安全重要儀表和控制系統(tǒng)。 　　[IAEA No.NS-G-1.3：2002] 　　4.4.42 　　安全組件safety member；safety element 　　單獨或與其他組件-起為反應堆緊急停堆提供負反應性的控制組件。 　　[IEV 394-34-02] 　　4.4.43 　　緊急停堆棒emergency shutdown rod 　　執(zhí)行緊急停堆動作的棒狀安全組件。 　　注：緊急停堆棒也稱為安全棒。 　　5輻射防護儀器 　　5.1 注量(率)、空氣比釋動能(率)、劑量當量(率)的測量儀和監(jiān)測儀 　　5.1.1 　　輻射防護儀器radiation protection instrumentation 　　為了輻射防護目的.用于探測和(或)測量電離輻射和放射性活度的電氣和電子系統(tǒng)。 　　[IEV 394-31-01] 　　5.1.2 　　粒子注量率儀particle fluence ratemeter 　　測量粒子注量率的裝置。 　　[IEV 394-31-05] 　　5.1.3 　　粒子注量率監(jiān)測儀particle fluence rate monitor 　　用于測量粒子注量率.且當粒子注量率超過預定值或測定值超出規(guī)定限值時能給出可視和/或可聽報警的輻射監(jiān)測儀。 　　[IEV 394-31-06] 　　5.1.4 　　粒子注量率指示儀particle fluence rate indicator 　　給出粒子注量率估計值的輻射指示儀。 　　[IEV 394-31-07] 　　5.1.5 　　空氣比釋動能(率)儀air kerma(rate)meter 　　用于測量空氣比釋動能(率)的輻射儀。 　　5.1.6 　　(輻射)照射量計(radiation)exposure meter 　　測量x或γ輻射的照射量的輻射儀。 　　5.1.7 　　劑量計dosimeter(dosemeter) 　　用于測量吸收劑量或劑量當量的輻射儀。 　　注1：從廣義上講，用于測量其他有關輻射的量(例如照射量、注量等)的儀表也使用這條術語，但不推薦用此法。 　　注2：這種裝置可要求分開的讀數器，以讀出吸收劑量或劑量當量。 　　[IEV 394-22-08] 　　5.1.8 　　吸收劑量率儀(absorbed)dosi-ratemeter 　　用于測量電離輻射造成的吸收劑量率的輻射儀。 　　注：例如：空氣吸收劑量率儀. 　　[IEV 394-31-08] 　　5.1.9 　　劑量當量(率)儀和(或)監(jiān)測儀dosi-equivalent(rate)meter and/or monitor 　　用于測量或評估劑量當量(率)的輻射儀和(或)監(jiān)測儀。 　　注；例如：個人劑量當量(率)儀和(或)監(jiān)測儀、定向劑量當量(率)儀和(或)監(jiān)測儀、周圍劑量當量(率)儀和(或)監(jiān) 　　測儀。 　　5.1.10 　　中子劑量當量率儀neutron dosi-equivalent ratemeter 　　用來測量中子劑量當量率的輻射儀。它包括-個或多個核輻射探測器以及與其相連接的部件或基本功能單元，儀器的探頭通常是用含氫物質(如石蠟、聚乙烯等)和中子吸收介質包圍的慢中子探測器。 　　5.1.11 　　個人劑量計personal dosimeter(dosemeter) 　　用于測量佩戴者個人所接受的劑量當量的劑量計。 　　注1：例如.膠片劑量計，筆型劑量計、熱釋光劑量計。 　　注2：個人劑量計可以直接或間接讀數。 　　[IEV 394-31-11] 　　5.1.12 　　劑量計充電器dosimeter(dosemeter)charger 　　為劑量計能工作做準備的充電裝置。 　　[IEV 394-31-12] 　　5.1.13 　　劑量計讀數器dosimeter(dosemeter)reader 　　讀出劑量計的儀表。 　　[IEV 394-31-13] 　　5.1.14 　　劑量計充電讀數器dosimeter(dosemeter)charger reader 　　為劑量計充電并瀆出它所貯存的信息的儀器。 　　注：某些劑量計正常工作可能僅需要充電或僅需要讀數。 　　5.1.15 　　熱釋光劑量計讀數器reader for thermoluminescent dosimeter(dosemeter) 　　在劑量計加熱到選定的溫度范圍期間，通過測量熱釋光探測器所發(fā)射的光來讀出熱釋光劑量計的儀器。 　　[IEV 394-31-04] 　　5.1.16 　　熱釋光劑量計thermoluminescent dosimeter(dosemeter) 　　由一個或多個熱釋光探測器組成的無源裝置，其安裝在一個合適的支撐物中以便佩戴在身上或放在環(huán)境中，其目的用于評估它所在位置或及其附近的相應劑量當量。 　　[IEV 394-31-02] 　　5.1.17 　　熱釋光劑量測量系統(tǒng)thermoluminescent dosimetry system 　　由熱釋光劑量計、讀數器和輔助設備組成的系統(tǒng)。 　　[IEV 394-31-03] 　　5.1.18 　　光致熒光劑量計photoluminescent dosimeter(dosemeter) 　　使用光致熒光探測器來測量劑量的劑量計。 　　[IEV 394-31-14] 　　5.1.19 　　光致熒光劑量計讀數器reader for photoluminescent dosimeter(dosemeter) 　　通過測量光致熒光劑量計在接受某種波長的輻射時所發(fā)出的光讀出劑量的儀器。 　　[IEV 394 31-15] 　　5.1.20 　　電子式劑量計electronic dosimeter(dosemeter) 　　供個人配帶的劑量計，當x或γ輻射劑量當量率或累積劑量當量超過預定值時報警，或直接顯示劑量當量率、累積劑量當量。 　　5.1.21 　　膠片劑量計film dosimeter；photographic dosimeter(dosemeter) 　　用受輻照后顯影的照相膠片作為核輻射探測器的劑量計。 　　注：顯影后膠片變黑的程度就是吸收劑量的指示。 　　[IEV 394-31-16] 　　5.1.22 　　反照中子劑量計albedo neutron dosimeter(dosemeter) 　　測量人體受輻照后被人體反射的中子注量份額的中子劑量計。 　　注：這個份額可以用于估計佩戴者的劑量當量。 　　[IEV 394-31-17] 　　5.1.23 　　劑量率監(jiān)測儀dose rate monitor 　　具有劑量率儀和(或)劑量率報警裝置功能的儀表。 　　[IEV 394-31-18] 　　5.1.24 　　劑量率報警裝置dose rate warning assembly 　　輻射劑量率超過某-規(guī)定值時發(fā)出可視和(或)可聽報警的裝置。 　　[IEV 394-31-19] 　　5.1.25 　　環(huán)境劑量儀environmental dosimeter(dosemeter) 　　用于測量環(huán)境輻射的劑量儀。 　　[IEv 394-31-20] 　　5.1.26 　　全身計數器whole body counter 　　用于測量人體中放射性核素的設備及其連接的組件，它包含-個或多個對環(huán)境電離輻射重屏蔽的核輻射探測器。 　　注：有時，這種設備包括γ能譜分析儀。 　　[IEv 394-32-17] 　　5.2污染和活度測量儀器 　　5.2.1 　　放射性碘測量儀和(或)監(jiān)測儀radioactive iodine meter/monitor 　　用于放射性碘的輻射測量儀和(或)監(jiān)測儀。 　　[IEV 394-32-11] 　　5.2.2 　　放射性表面污染測量儀radioactive surface contamination meter 　　通過測量物體表面放射性發(fā)射率來確定物體表面放射性污染程度的輻射儀。 　　[IEV 394-32-01] 　　5.2.3 　　放射性表面污染監(jiān)測儀radioactive surface contamination monitor 　　通過測量和檢查物體表面放射性發(fā)射率來確定物體放射性污染程度的輻射監(jiān)測儀，并且該輻射監(jiān)測儀在物體表面放射性發(fā)射率超過預定值時能給出報警。 　　注：示例： 　　——洗衣房污染監(jiān)測儀； 　　——地面污染監(jiān)測儀。 　　[IEV 394-32-02] 　　5.2.4 　　放射性表面污染指示儀radioactive surface contamination indicator 　　用于估計由于被檢查的物體的污染而引起的，在給定時間間隔內放射性表面發(fā)射的輻射指示儀。 　　5.2.5 　　放射性空氣污染測量儀radioactive air contamination meter 　　用于測量在給定的時間問隔內空氣中的塵埃、微粒、懸浮顆粒物、氣溶膠、蒸汽或氣體放射性體積活度的輻射儀表。 　　[IEV 394-32-04] 　　5.2.6 　　放射性空氣污染監(jiān)測儀radioactive air contamination monitor 　　用于測量和檢查在給定時問間隔內空氣中塵埃、微粒、懸浮顆粒物、氣溶膠、蒸汽或氣體的放射性體積活度的輻射儀表，并且該輻射儀表在放射性體積活度超過預定值時能發(fā)出報警。 　　注：示例： 　　——碘監(jiān)測儀； 　　——氚監(jiān)測儀。 　　[IEV 394-32-05] 　　5.2.7 　　放射性空氣污染指示儀radioactive air contamination indicator 　　用于探測由空氣中的放射性塵埃、微粒、懸浮顆粒物、氣溶膠、蒸汽或氣體造成污染的輻射指示儀。 　　[IEV 394-32 063 　　5.2.8 　　p-Y門框式監(jiān)測儀beta-gamma door-way monitor 　　用排列在門通道周圍的探測器來測量通過該門通道的人體或物體的污染或攜帶所造成的β或γ發(fā)射率的輻射監(jiān)測儀。 　　[IEV 394 32-03] 　　5.2.9 　　人體表面外部污染監(jiān)測儀external contamination monitor on the surface of the body 　　用于測量在給定的時間問隔內人體放射性表面發(fā)射的輻射監(jiān)測儀。 　　5.2.10 　　取樣監(jiān)測儀sampling monitor 　　具有取樣器的輻射監(jiān)測儀。在預定的時間間隔內取樣，當樣品的放射性發(fā)射率高于預定值時.取樣器自動關閉。 　　5.2.11 　　空氣取樣器air sampler 　　在預定的時間間隔內，將通過過濾器或吸附(取樣)器的已知體積的空氣中所含有的放射性污染物收集在過濾器或吸附(取樣)器上的-種裝置。 　　注：示例： 　　——連續(xù)移動過濾器型} 　　——間斷移動型； 　　——固定過濾器型； 　　——濾筒型。 　　[IEV 394-32-07] 　　5.2.12 　　氣載塵埃或微粒監(jiān)測儀airborne dust or particulates monitor 　　用于測量懸浮于空氣中的塵埃、微粒或懸浮顆粒物體積活度的輻射監(jiān)測儀。 　　[IEV 394-32-08] 　　5.2.13 　　手或腳放射性污染報蕾裝置hand or foot radioactive contamination warning assembly 　　當手或腳上的放射性發(fā)射率超過某個預定值時，給出報警信號的裝置。 　　5.2.14 　　手、腳、衣服放射性污染監(jiān)測儀hand-foot-clothing radioactive contamination monitor 　　在給定的時間間隔內測量手、腳或衣服上的放射性發(fā)射率的輻射監(jiān)測儀。 　　5.2.15 　　α潛能測量儀total(potential)alpha energy meter(detector)；potential alpha energy meter/monitor 　　用于測量通常在空氣中由氡222和氡-220短壽命的衰變產物(子體)所釋放的α粒子總能量的輻射測量儀或監(jiān)測儀。 　　注1：氡220有時稱釷射氣。 　　注2：有時也叫α潛能監(jiān)測儀。 　　[IEV 394-32-09] 　　5.2.16 　　放射性氣溶膠測量儀radioactive aerosol meter 　　用于測量在給定時間間隔內氣溶膠體積活度的放射性空氣污染測量儀。 　　[IEV 394-32-10] 　　5.2.17 　　放射性氣溶膠監(jiān)測儀radioactive aerosol monitor 　　用于連續(xù)測量環(huán)境空氣中在給定的時間間隔內氣溶膠的放射性發(fā)射的輻射監(jiān)測儀。 　　5.2.18 　　液體放射性活度和(或)監(jiān)測儀liquid radioactivity meter/monitor 　　用于測量在給定時間間隔內液體放射性體積活度的輻射測量儀和(或)監(jiān)測儀。 　　[IEV 394-32-12] 　　5.2.19 　　蒸發(fā)樣品液體放射性活度計和(或)監(jiān)測儀evaporated sample liquid activity meter/monitor 　　按照預定的程序測量液體樣品蒸發(fā)后的殘渣來測量該液體的放射性體積活度的測量儀或監(jiān)測儀。 　　[IEV 394-32-13] 　　5.2.20 　　氣體放射性活度計gas radioactivity meter 　　用于測量在給定時間間隔內氣體放射性的輻射儀。 　　[IEV 394-32-14] 　　5.2.21 　　氡含量測量儀和(或)監(jiān)測儀radon content meter/monitor 　　用于測量空氣中氡及其子體濃度的輻射儀和(或)監(jiān)測儀。 　　[IEV 394-32-15] 　　5.2.22 　　組織放射性活度探測器tissue activity detector 　　組織放射性活度計tissue radioactivity meter 　　用合適的探頭測定組織內部固定位置的放射性核素的裝置。 　　[IEV 394-32-16] 　　5.2.23 　　全身內部污染測量儀whole-body internal contamination meter 　　通過使用對環(huán)境電離輻射進行重屏蔽的一個或多個核輻射探測器，以及與其相連接的裝置和部件來測量人體放出總γ輻射的設備。 　　5.2.24 　　全身γ譜分析器whole-body gamma spectrum analyzer 　　包括全身內部污染測囂儀、幅度分析器和數據處理設備的測量系統(tǒng)。用于鑒定人體內存在的放射性核素并分別測定它們的活度。 　　5.2.25 　　放射性生物測量儀radio-bioassay meter 　　通過對人體內或人體排泄物或排出物中所測量的放射性物質總量或濃度的分析來評估人體內放射性物質總量的裝置。 　　[IEV 394-32-18] 　　66GB/T 4960.6-2008 　　5.2.26 　　氣態(tài)排出流監(jiān)測儀gas effluent monitor 　　用于連續(xù)監(jiān)測氣體排放系統(tǒng)中氣態(tài)排出流放射性活度的輻射監(jiān)測儀。 　　5.2.27 　　液態(tài)排出流監(jiān)測儀liquid effluent monitor 　　用于監(jiān)測排放到環(huán)境中的液體排出流的放射性活度的輻射監(jiān)測儀。 　　[IEV 394-32-22] 　　5.2.28 　　工藝流監(jiān)測儀process stream monitor 　　用于監(jiān)測工藝流屏障完整性，并可發(fā)出信息使操作人員及時了解屏障出現的任何異?；蚱茡p的輻射監(jiān)測儀。 　　5.2.29 　　臨界事故監(jiān)測儀criticality accident monitor 　　用于測量與可能發(fā)生的臨界事故有關的輻射監(jiān)測儀。 　　注：示例： 　　——由倍增因子表示輻射； 　　——輻射水平。 　　[IEV 394-32-19] 　　5.2.30 　　事故監(jiān)測儀accident monitor 　　用于事故和事故后條件下測量核設施輻射水平的輻射監(jiān)測儀。 　　[IEV 394-32-20] 　　5.2.31 　　事故惰性氣體排出流監(jiān)測儀noble gas effluent monitor for accident conditions 　　用于事故和事故后條件下連續(xù)測量排放到環(huán)境中的惰性氣體排出流的總體積活度的輻射監(jiān)測儀。 　　[IEV 394-32-21] 　　5.2.32 　　核設施環(huán)境監(jiān)測車environmental radioactivity monitoring vehicle of nuclear features 　　監(jiān)測環(huán)境放射性的車載移動監(jiān)測站。它主要用于核設施正常和事故條件下。流動監(jiān)測其周圍環(huán)境輻射水平和環(huán)境介質放射性核素活度。 　　6核輻射應用儀器 　　6.1勘探、采礦儀器 　　6.1.1 　　γ輻射儀γ radiation meter 　　基于定量測量7輻射場強度的輻射儀。 　　注：測量某-張角內7輻射場強度的稱為γ定向輻射儀。 　　6.1.2 　　γ能譜儀γ radiation spectrometer 　　基于定量測量7輻射能譜的輻射儀。 　　6.1.3 　　勘探用γ輻射儀或能譜儀-γ radiation meter or spectrometer for prospects 　　用于地面勘探放射性礦床的7輻射儀或能譜儀。 　　注：勘探用7能譜儀通常由一個或多個核輻射探測器和與其連接的分析器組成，可分為便攜式7能譜儀、車載γ能譜測量系統(tǒng)和航空γ能譜測量系統(tǒng)；而γ能譜儀或7能譜測量系統(tǒng)又可分為多道能譜儀和4道能譜儀(總道、鈾道、釷道和鉀道)。 　　6.1.4 　　航測γ(閃爍)輻射儀aerial survey γ(scintillation)radiation meter 　　安裝在飛機上對地下放射性礦床進行大面積快速普查的勘探用γ輻射儀。 　　6.1.5 　　航測γ(閃爍)能譜儀aerial survey γ(scintillation)spectrometer 　　安裝在飛機上對地下放射性礦床進行大規(guī)?？焖倌茏V測量的勘探用γ能譜儀。 　　6.1.6 　　勘探用測氡儀radon measuring instruments for prospect 　　測量地表淺層的氡及其子體的濃度以探查放射性礦床的輻射儀。 　　6.1.7 　　音響輻射勘探指示儀audio-radiation prospecting indicator 　　用音響指示提供電離粒子注量率的可攜式輻射勘探儀。 　　6.1.8 　　鍍勘探儀beryllium prospecting meter 　　用于鈹礦勘探的輻射勘探儀。它的工作原理通常是利用由γ輻射源與鈹的(γ、n)核反應產生的中子經慢化后被計數。 　　6.1.9 　　輻射鉆孔測井儀radiation bore-hole logging meter 　　用于測量鉆孔中的輻射與深度關系的輻射勘探儀，它包括探頭，計數裝置和必要的機械設備。 　　注：所測量的輻射可以是地下天然的，也可以是由7或中子源感生的。 　　6.1.10 　　中子測井儀neutron well logging meter 　　利用中子和井孔周圍巖石物質原子核的相互作用.測量巖層結構的輻射測井儀。根據不同的用途又分為中子中子測井儀和中于T測井儀。 　　6.1.11 　　Y能譜測井儀gamma radiation spectrum well logging meter 　　在鉆孔中測量井孔周圍巖石物質的7輻射能譜以定量測定孔中礦層鈾、釷含量的輻射測井儀。 　　6.1.12 　　x射線熒光測井儀bore-hole apparatus for x-ray fluorescence analysis 　　測量-定能量的γ或x射線照射井壁巖石表面所產生的x射線熒光.以確定巖石中有用元素的成分及其含量的儀器。 　　6.1.13 　　n杯alpha-cup 　　埋在地下能透過氣體的杯子，其內有對α粒子靈敏的探測器，用于探測氡及其子體的放射性活度。 　　6.1.14 　　活性炭氯氣杯charcoal radon cup 　　埋在地下能透過氣體的杯子，其內裝有活性炭用于收集氡及其子體。 　　6.1.15 　　礦石含量儀ore content meter 　　用于測定在礦石中特定金屬(如鈾、釷等)含量的裝置。 　　例如：鈾含量儀、釷含量儀。 　　6.1.16 　　礦石分選設備ore sorting equipment 　　利用天然的或感生的放射性活度剔出貧礦并按相關的元素含量對礦石進行分類的設備。 　　6.1.17 　　運載容器放射性活度計container load activity meter 　　包括探測器及與其相連接的電子學部件，用于測量或記錄運載容器(如箕斗、卡車、礦車等)放射性活度的活度計。 　　6.1.18 　　運載容器分選礦山設備container sorting mine-head equipment 　　包括運載容器放射性活度儀以及與其相連接的自動分選裝置的設備。 　　6.2 利用電離輻射源的測量儀器和系統(tǒng) 　　6.2.1 　　輻射量測計radiation gauge 　　由電離輻射源、輻射儀表和必要的機械部件組成的測量裝置，用于工業(yè)上無損檢測。 　　[IEV 394-37-01] 　　6.2.2 　　輻射型集裝箱檢查系統(tǒng)cargo/vehicle radiographic inspection system 　　帶有x或7輻射源和輻射探測器等裝置及設施，利用輻射成像原理獲得集裝貨物及車輛等被檢物透射圖像的檢查系統(tǒng)。 　　6.2.3 　　x輻射檢查系統(tǒng)X-ray inspection system 　　利用產生x射線的設備作為輻射源的檢查系統(tǒng)。 　　6.2.4 　　γ輻射檢查系統(tǒng)gamma radioactive sources inspection system 　　利用密封γ放射源作為輻射源的檢查系統(tǒng)。 　　6.2.5 　　無損檢測用電子直線加速器electron linac for non-destructive 　　能將電子槍產生的電于在直線加速管內加速到高能，并打到靶上產生x射線用于物品無損檢測的裝置。 　　6.2.6 　　自屏蔽電子束消毒滅菌裝置self-shielding electran beam sterilizing facility 　　利用具有足夠功率(能量和強度)的電子束對照射物或吸收體進行消毒滅菌、并有自屏蔽能力(泄漏劑量在無需額外屏蔽的情況下減小到規(guī)定劑量限值以下)的裝置。 　　6.2.7 　　透射式測量系統(tǒng)transmission measurement system 　　利用穿透被測物質的電離輻射進行測量的儀表系統(tǒng)。輻射源和探測器分別放置在被測物質相對的兩側。 　　6.2.8 　　反散射式測量系統(tǒng)back-scatter measurement system 　　利用測量被測物質以及與被測物質貼近的基體(襯底)物質反散射的電離輻射進行測量的儀表系統(tǒng)。輻射源和探測器放置在被測物質的同一側。 　　6.2.9 　　厚度計(電離輻射)thickness gauge(ionizing radiation) 　　帶有電離輻射源，并設計成可以利用電離輻射非破壞性測量材料的厚度或單位面積質量的測量裝置。 　　6.2.10 　　透射式厚度計transmission thickness meter 　　利用穿透被測材料的電離輻射進行測量的厚度計。 　　6.2.11 　　反散射式厚度計back-scatter thickness meter 　　利用被測材料和任何與被測材料緊挨著的基體(襯底)材料的反散射電離輻射進行測量的厚度計。 　　6.2.12 　　x射線熒光厚度計X-ray fluorescence thickness mter 　　利用在被測材料和與被測材料緊挨著的基體材料(或支撐材料)中x射線所激發(fā)的熒光x射線譜進行測量的厚度計。 　　6.2.13 　　密度計(電離輻射)density gauge(ionizing radiation) 　　帶有電離輻射源，并設計成可以利用電離輻射衰減或反散射的變化，測量均勻物質或多種物質混合物的平均密度的測量裝置。 　　6.2.14 　　透射式密度計transmission density meter 　　利用穿透被測物質的電離輻射進行測量的密度計。 　　6.2.15 　　反散射密度計back-scatter density meter 　　利用被測材料反散射的輻射確定物質密度的密度計。 　　6.2.16 　　物位計(電離輻射)level gauge(ionizing radiation) 　　帶有電離輻射源，并設計成可測量物質表面或界面位置的測量裝置。 　　6.2.17 　　物料檢測儀material presence gauge 　　由電離輻射源和探測器組成.用于確定輻射源和探測器之間的路徑上是否存在物料的測量裝置。 　　注：物料檢測儀也稱通斷式物位計。 　　[IEV 394-37-11] 　　6.2.18 　　隨動式物位計level following gauge 　　由物料檢測儀和相連接的機械裝置組成的.能使輻射源和探測裝置跟蹤物位的物位測量裝置。 　　[IEV 394-37-12] 　　6.2.19 　　直射式物位計direct exposition level meter 　　輻射源和探測器安裝在被測物質的同-側，源與探測器之間的距離隨容器內物位的變化而變化，通過測量源直接照射到探測器的電離輻射測量物位的裝置。 　　6.2.20 　　含量儀content meter 　　帶有電離輻射源，用于測量物體中規(guī)定的元素或物質的數量的測量裝置。 　　6.2.21 　　x射線熒光含量儀X-ray fluorescence content meter 　　通過測量x射線激發(fā)的x熒光確定液體或固體樣品中-種元素或幾種元素含量的含量儀。 　　6.2.22 　　碳氫比值儀carbon to hydrogen ratio meter 　　帶有D輻射源的測量裝置，通過測量穿過已知密度的碳氫化合物樣品的輻射來確定該樣品中碳氫的比值。 　　[IEv 394-37-13] 　　6.2.23 　　濕度儀moisture meter 　　水分儀moisture meter 　　帶有快中子源，根據被水分子中氫核慢化的中子計數確定材料中水含量的含量儀。 　　6.2.24 　　γ射線探傷機apparatus for gamma radiography 　　包含-個源容器及其附件，能使密封放射源發(fā)射的γ射線用于工業(yè)射線照相的設備。 　　6.2.25 　　γ輻射煤灰分測量儀γ radiation coal ash monitor 　　根據γ射線與煤相互作用以及煤灰分(雜質)含量對γ射線減弱不同的原理，進行煤灰分含量測量的儀器。 　　6.2.26 　　核子秤 nuclear scale 　　帶有7輻射源和輻射測量儀表，通過測量被材料吸收后的7輻射對散裝固體材料的質量進行連續(xù)自動累計的計量器具。該裝置由累計指示器和秤體兩部分組成。 　　6.3醫(yī)用核儀器 　　6.3.1 　　液體閃爍放射性活度計liquid scintillator activity meter 　　液體閃爍放射性計數器liquid scintillator activity counter 　　把放射性樣品與液體閃爍體混合以測定該樣品放射性活度的計數器。 　　6.3.2 　　γ放射免疫計數器gamma radioimmunoassay counter 　　用于γ放射免疫測量，通常由-個或多個Nal(TI)閃爍探頭、基本功能單元和數據系統(tǒng)組成的儀器。 　　6.3.3 　　放射性核素發(fā)生器radionuclide generator 　　含有由一種母體和一種子體放射性核素構成的放射性核素混合物的裝置，通常帶有輻射屏蔽，用簡單方法可將子體由混合物中萃取出來。 　　6.3.4 　　放射性核素掃描器radionuclide scanner 　　使用一個或多個輻射探測器組件，用于閃爍成像的設備。設備中探頭相對于物體運動，根據探測器在放射圖像中相應的位置信號形成圖像。 　　6.3.5 　　γ(閃爍)掃描儀gamma(scintillation)scanner 　　臨床核醫(yī)學中以放射性藥物為示蹤劑，用小型閃爍探頭自體外掃描檢查臟器或組織內的放射性分布，獲得二維圖像的核儀器。 　　6.3.6 　　閃爍成像scintigraphy 　　記錄放射性核素在人體內分布的技術。 　　6.3.7 　　伽馬(閃爍)照相機gamma(scintillation)camera 　　臨床核醫(yī)學中以放射性藥物為示蹤劑，用大型閃爍探頭自體外對臟器或組織照相，進行靜態(tài)及動態(tài)的顯像檢查和功能測定的設備。 　　6.3.8 　　伽馬照相機全身成像系統(tǒng)gamma cslnera based wholebody imaging system 　　使用一個或兩個探頭的-種閃爍成像設備，由其探頭與目的物的彼此相對運動以及有關放射性圖像的輸出信息形成圖像。 　　6.3.9 　　劑量面積乘積儀dose area product meter 　　使用電離室對診斷醫(yī)學放射學檢查用x射線機射束中的劑量面積乘積或劑量面積乘積率進行測量的設備。 　　一臺劑量面積乘積儀包含下列部件： 　　——電離室； 　　——測量裝置； 　　——穩(wěn)定性檢驗裝置。 　　6.3.10 　　腎功能儀kidney function meter 　　利用注入人體的放射性同位素(如鄰碘馬尿酸)診斷腎功能的核儀器。 　　6.3.11 　　甲狀腺功能儀thyroid function meter 　　利用注入人體的碘放射性同位素測定甲狀腺功能的核儀器。 　　6.3.12 　　骨礦物測量儀bone mineral meter 　　帶有放射源，利用測量骨骼對射線的吸收情況，診斷骨骼中礦物含量的儀器。 　　6.3.13 　　計算機斷層成像裝置(cT) computerized tomography(CT) 　　一種用輻射源及其射線投影重建人體斷層圖像的設備。它利用人體或物體不同部位對射線吸收程度的不同而獲得斷層圖像。按照所使用的輻射源的種類和使用方法又分為透射型(XCT)、發(fā)射型(ECT)。ECT又分為PECT(正電子發(fā)射)和SPECT(單光子發(fā)射型)。 　　6.3.14 　　質譜儀mass spectrometer 　　基于荷質比，按照物質中各種成分的相對質量豐度來分析物質的設備。 　　[IEV 394 22-06] 　　6.3.15 　　γ刀γ-ray knife 　　立體定向放射外科治療設備的-種。將合理排布的多個γ放射源發(fā)射的γ射線準確地會聚到病灶部位，在病灶中心形成大劑量聚集，達到手術切除腫瘤的效果。 　　6.3.16 　　X刀X-ray knife 　　一種用于放射性治療的設備，采用三維立體定位，x射線能夠準確地按照腫瘤的生長形狀照射，使腫瘤組織與正常組織之間形成整齊的邊緣，像用手術刀切除的-樣。 　　6.3.17 　　中子刀neutron knife 　　用發(fā)射中予來殺滅癌細胞以代替手術刀進行手術的設備。中子刀用多支中子束圍繞病灶旋轉，對準病灶發(fā)射中子殺滅癌細胞。