表現(xiàn)優(yōu)異！晶科能源N型TOPCon組件在PVEL測(cè)試結(jié)果出爐

　　根據(jù)PVEL產(chǎn)品認(rèn)證計(jì)劃（PQP）的組件可靠性測(cè)試結(jié)果，晶科能源的N型TOPCon雙面雙玻組件（產(chǎn)品型號(hào)JKM555N-72HL4-BDV）在各項(xiàng)測(cè)試中表現(xiàn)不俗，尤其是在DH2000——+BO恢復(fù)后組件功率衰減極低，獲得了“最佳表現(xiàn)組件”的稱號(hào)。

　　根據(jù)PVEL對(duì)數(shù)百種不同品牌組件進(jìn)行的DH2000測(cè)試結(jié)果顯示，不同技術(shù)（包括PERC、TOPCon、HJT和CdTe）的平均衰減率為1.2%至1.7%，而晶科能源的N型TOPCon雙面組件的平均衰減率僅為0.55%，在所有測(cè)試組件中最低。

　　PVEL的濕熱（DH）測(cè)試模擬了典型的高溫高濕環(huán)境下濕氣的長(zhǎng)期滲透對(duì)組件電池及封裝材料的性能影響，當(dāng)?shù)唾|(zhì)量的組件或不合格的層壓工藝導(dǎo)致封裝材料失效時(shí)，濕氣會(huì)滲入組件并腐蝕內(nèi)部材料，可能導(dǎo)致產(chǎn)品性能失效和使用安全問題。

　　DH2000是一種可靠性測(cè)試，將組件放置在85°C高溫和85%濕度的環(huán)境箱中，持續(xù)測(cè)試2000小時(shí)。該測(cè)試的持續(xù)時(shí)間是IEC認(rèn)證所要求的兩倍，目的是為了驗(yàn)證高溫和高濕條件下光伏組件電池及封裝材料的可靠性。

圖1 PQP測(cè)試前，工廠的目視、性能和光衰測(cè)試工序

圖2PQP測(cè)試結(jié)果

圖3 PQP測(cè)試分析表

　　關(guān)于PVEL

　　作為全球領(lǐng)先的獨(dú)立實(shí)驗(yàn)室，PVEL通過(guò)其產(chǎn)品認(rèn)證計(jì)劃（PQP）對(duì)光伏制造商的光伏組件進(jìn)行測(cè)試，并根據(jù)測(cè)試結(jié)果發(fā)布光伏組件可靠性評(píng)分卡。

　　PVEL對(duì)過(guò)去18個(gè)月內(nèi)工廠生產(chǎn)的組件進(jìn)行了嚴(yán)格審查，并對(duì)組件的性能進(jìn)行了測(cè)試。PQP包括熱循環(huán)、濕熱、動(dòng)態(tài)機(jī)械載荷、PID和PAN等多個(gè)測(cè)試項(xiàng)目。