電池測試設(shè)備 --- 信號鏈篇

信號鏈

由于電池測試設(shè)備要求輸出電壓電流精度較高，特別是動力電池測試系統(tǒng)，這就需要我們弄清每一級信號調(diào)理環(huán)節(jié)。典型框圖如圖1所示，由于第一級信號放大倍數(shù)在50～100范圍，分流電阻壓降較小，微伏級別的電壓變化都會造成萬分位的誤差。

圖1 電壓環(huán)與電流環(huán)

第一級信號放大

輸入偏置電壓造成的的直流誤差在設(shè)備最后校準工序中可以消除掉，但是根據(jù)溫度，輸入輸出條件而變化的誤差卻很難通過線性校準消除掉，第一級主要影響因素有

1． 放大器的Input voltage offset drift

一般根據(jù)設(shè)備的溫升值，選取合適的取值范圍，通常應(yīng)用場景如表一所示

表1典型應(yīng)用環(huán)境

電流檢測采用儀表放大器INA821溫漂0．4 ＆micro；V／°C

可以得知最大電流時，分流電阻壓降60mV，溫漂帶來的INA821輸出漂移為0．4＊50＝20 ＆micro；V，此時誤差為0．0333％，實際電路板的溫升低于50℃，因此INA821在實際使用中也絕對占據(jù)較好的優(yōu)勢。同時也可以選型零溫漂器件如INA188。

2． 放大器的共模抑制比CMRR

在高精度的電池測試設(shè)備中通常使用具有良好噪聲環(huán)境高可靠性的高側(cè)電流檢測方法，由于共模電壓較高，需要使用共模抑制比較高的放大器。首先，共模抑制比可以表示為

Ad為共模增益，Acm為差模增益，共模抑制比帶來的誤差可以表示為

Vin＿cm輸入共模電壓，Vin＿d為輸入差模電壓，共模誤差似乎是一個可以被校準的誤差，當共模電壓不變時，這的確可以被軟件校準抵消掉，而由于實際的分容電池電壓是從0V增長到滿電4．2V，此時共模電壓隨著充放電時間而變化，那么共模誤差將會成為不可校準的誤差了，此時需要選用CMRR較高的器件。在增益100倍時，根據(jù)式（1）（2）給出幾種不同器件CMRR帶來的誤差

3． 其他因素

其他無源器件的選擇上如分流器等，也有采用溫度補償?shù)姆椒梢越档蜏仄瘞淼恼`差，這里不做贅述。

當然也有存在一些廠家通過實現(xiàn)多段擬合的方法盡量降低校準時的非線性誤差，但是由于批量生產(chǎn)時的一致性問題，這需要很大的工作量通過批量的數(shù)據(jù)校驗，找出具有普適性的溫漂多段校準折線，但是如果因為一致性的問題也容易導致出現(xiàn)過擬合誤差。

第二級補償器的設(shè)計

補償器中運算放大器這一級的增益10倍以內(nèi)，補償器的輸出電壓在1V以上，通常運放的噪聲以及溫漂都在微伏級別，造成的誤差也只是十萬分位的差值。由于電池測試設(shè)備所需要的輸出動態(tài)響應(yīng)不高，因此補償器參數(shù)的設(shè)計只需要保證良好的穩(wěn)態(tài)特性即—充足的相位裕度，較大補償器的直流增益。

電流指令給定與數(shù)據(jù)采集

小電流電池測試設(shè)備只需要一兩片ADC與DAC可以解決整機的電流指令的傳輸與信息的采集，采用如圖2所示的結(jié)構(gòu)，多MUX的方案可以實現(xiàn)主控板ADC或DAC與測試通道1128或者1256的用量。

圖2 MUX ＆ ADC采樣電路

由于前面提到系統(tǒng)軟件校準技術(shù)，因此誤差主要來源于ADC非線性誤差I(lǐng)NL，溫漂，以及考慮在小電流電池測試設(shè)備中，讀取系統(tǒng)中所有通道的電壓電流值的時間可以為秒的量級，因此需求的采樣率不需要很快，但是為了滿足千分之一的電流精度，需要bit位12bit以上的成本敏感型ADC，如

而大電流電池檢測設(shè)備中，目前市面上新出廠的設(shè)備可達0．02％，那么需要ADC精度較高，且每通道采樣率大于1kHz，提高系統(tǒng)的電壓電流值刷新率，允許雙極性差分輸入的ADC提供更寬的電流變化范圍，同時保證了從儀表放大器到ADC檢測所有信號鏈中的參考均為地。采樣速率低于100kHz時，delta－sigma的ADC較為常見使用建議采用ADS131M08

參考文獻

1．電池測試設(shè)備－參考設(shè)計及 產(chǎn)品

2．簡化電池測試設(shè)備中的電壓和電流測量

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