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MOS管功率損耗竟然還可以這么測(cè)
來源:新能源汽車網(wǎng)
時(shí)間:2023-04-18 17:01:59
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MOS管功率損耗竟然還可以這么測(cè)MOSFET/IGBT的開關(guān)損耗測(cè)試是電源調(diào)試中非常關(guān)鍵的環(huán)節(jié),但很多工程師對(duì)開關(guān)損耗的測(cè)量還停留在人工計(jì)算的感性認(rèn)知上,PFC MOSFET的開關(guān)
MOSFET/IGBT的開關(guān)損耗測(cè)試是電源調(diào)試中非常關(guān)鍵的環(huán)節(jié),但很多工程師對(duì)開關(guān)損耗的測(cè)量還停留在人工計(jì)算的感性認(rèn)知上,PFC MOSFET的開關(guān)損耗更是只能依據(jù)口口相傳的經(jīng)驗(yàn)反復(fù)摸索,那么該如何量化評(píng)估呢?
1.1 功率損耗的原理圖和實(shí)測(cè)圖
一般來說,開關(guān)管工作的功率損耗原理圖如圖 1所示,主要的能量損耗體現(xiàn)在“導(dǎo)通過程”和“關(guān)閉過程”,小部分能量體現(xiàn)在“導(dǎo)通狀態(tài)”,而關(guān)閉狀態(tài)的損耗很小幾乎為0,可以忽略不計(jì)。
圖 1開關(guān)管工作的功率損耗原理圖
實(shí)際的測(cè)量波形圖一般如圖 2所示。
圖 2開關(guān)管實(shí)際功率損耗測(cè)試
1.2 MOSFET和PFC MOSFET的測(cè)試區(qū)別
對(duì)于普通MOS管來說,不同周期的電壓和電流波形幾乎完全相同,因此整體功率損耗只需要任意測(cè)量一個(gè)周期即可。但對(duì)于PFC MOS管來說,不同周期的電壓和電流波形都不相同,因此功率損耗的準(zhǔn)確評(píng)估依賴較長(zhǎng)時(shí)間(一般大于10ms),較高采樣率(推薦1G采樣率)的波形捕獲,此時(shí)需要的存儲(chǔ)深度推薦在10M以上,并且要求所有原始數(shù)據(jù)(不能抽樣)都要參與功率損耗計(jì)算,實(shí)測(cè)截圖如圖 3所示。
圖 3 PFC MOSFET功率損耗實(shí)測(cè)截圖
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