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如何減緩LED的劣化情況,延遲電池使用壽命

來源:新能源汽車網(wǎng)
時(shí)間:2019-02-14 20:29:50
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如何減緩LED的劣化情況,延遲電池使用壽命 逐漸褪色,這是大多數(shù)LED失效的原因,主要是由于半導(dǎo)體芯片中的微裂紋。在復(fù)雜的晶片制造過程中引入了這些缺陷。稱為螺紋位錯(cuò),這些微裂紋隨著

 

逐漸褪色,這是大多數(shù)LED失效的原因,主要是由于半導(dǎo)體芯片中的微裂紋。在復(fù)雜的晶片制造過程中引入了這些缺陷。稱為螺紋位錯(cuò),這些微裂紋隨著時(shí)間的推移而倍增 - 當(dāng)LED暴露在高溫時(shí)更快 - 增加了芯片電荷載體可以重新組合而不產(chǎn)生光的位置數(shù)量。但是,這種所謂的“非輻射復(fù)合”的增加并不是導(dǎo)致LED失效的唯一機(jī)制。穿線位錯(cuò)也為泄漏電流創(chuàng)造了路徑,從而搶奪了更有價(jià)值的電荷載體的LED。隨著缺陷的增加,情況會隨著時(shí)間的推移而變得更糟,導(dǎo)致電源尖峰或靜電放電(ESD)事件導(dǎo)致的故障風(fēng)險(xiǎn)增加。

本文介紹了泄漏電流發(fā)生的原因,并建議在LED工作壽命期間可以采取哪些措施來減緩劣化過程,這樣芯片可以延長這些固態(tài)光源的使用壽命。

泄漏電流的危險(xiǎn)

在運(yùn)行的LED中,電荷載流子 - 電子和空穴 - 遷移到器件的p-n結(jié),很可能它們會重新組合。重組(有時(shí))在光譜的可見部分釋放光。 (之前引用的TechZone文章詳細(xì)描述了電致發(fā)光背后的物理特性,即LED發(fā)光背后的現(xiàn)象。)

電致發(fā)光的物理學(xué)受量子力學(xué)的支配,量子力學(xué)允許電子和空穴做一些奇怪的事情。一個(gè)特殊的怪癖是“隧穿”,其中電子可以越過屏障(例如,跨越p-n結(jié)的能隙),根據(jù)經(jīng)典物理學(xué),它將需要比電子擁有的更多能量。這有點(diǎn)像在一個(gè)陡峭的山坡上滾動一個(gè)球,而不是看到它從山上滾回來,觀察球穿過山洞并出現(xiàn)在另一邊。

在運(yùn)行中的LED中,一些隧道活動表現(xiàn)為反向偏置電流(“漏電流”),允許電荷載體“逆流”。

泄漏電流,顧名思義,是這不是一件好事,因?yàn)闃?gòu)成它的電荷載體對電致發(fā)光沒有貢獻(xiàn)。不可能欺騙物理定律,因此LED制造商已經(jīng)接受他們的器件將遭受一些漏電流和功效的輕微降低。然而,在主要制造商的新設(shè)備中,效果通??梢院雎圆挥?jì)。

盡管如此,所有設(shè)備都不一樣; LED的初始泄漏電流取決于制造過程的質(zhì)量。更糟糕的是,它并不是一成不變的。 LED所處的工作條件(特別是溫度)決定了泄漏電流在運(yùn)行期間的增加速度以及它可能在多長時(shí)間內(nèi)開始引起問題。

消失的電荷載體

事實(shí)證明,穿透位錯(cuò)(由晶圓制造過程中有源LED與其基板之間的不匹配產(chǎn)生的應(yīng)變引起的垂直微裂紋(圖1)是隧道掘進(jìn)概率增加的地方。 

如何減緩LED的劣化情況,延遲電池使用壽命

圖1:LED半導(dǎo)體芯片中的線程錯(cuò)位。(圖片提供)北卡羅來納州立大學(xué)。)

例如,一組研究人員已經(jīng)確定,樣品LED中的穿透位錯(cuò)密度從1.7 x 10增加 7 至2 x 10 每平方厘米(普通LED材料的典型數(shù)字,如沉積在藍(lán)寶石上的氮化銦鎵(InGaN)), LED漏電流呈指數(shù)增長。其他科學(xué)家確定漏電流增加218倍,因?yàn)榇┩肝诲e(cuò)密度從1.5 x增加10 7 至2 x 10 /cm²(圖2)。

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圖2:隨著缺陷密度的增加,漏電流迅速增加。

雖然對LED亮度的影響不是那么顯著,但仍然很重要。兩組均注意到該穿透位錯(cuò)范圍內(nèi)的光度降低了22%。 (請注意,光輸出的減少僅僅是由于泄漏電流造成的,并且由于更多的非輻射復(fù)合位點(diǎn)而不包括更高密度下的額外損耗。)研究人員解釋了光度降低的主要原因并不像預(yù)期的那樣糟糕,因?yàn)殡m然漏電流在穿透位錯(cuò)時(shí)更糟,但是電荷載體確實(shí)表現(xiàn)出偏向于遷移到晶體中富含銦的“阱”,遠(yuǎn)離位錯(cuò),在這些位置它們可以愉快地重新組合并發(fā)射光子。該效應(yīng)部分地抵消了微裂紋下的電荷載流子的損失。

新材料有望承諾

歐司朗,Cree和首爾半導(dǎo)體等優(yōu)質(zhì)供應(yīng)商目前關(guān)注的重點(diǎn)是增強(qiáng)制造技術(shù),旨在限制新晶圓中的螺紋位錯(cuò)數(shù)量。這不是一件容易的事,因?yàn)橛性碙ED半導(dǎo)體InGaN和典型的襯底材料具有不良匹配的晶體結(jié)構(gòu)。

仔細(xì)選擇供應(yīng)商可以在高亮度LED的初始亮度和壽命方面產(chǎn)生很大的不同。例如,一些供應(yīng)商已轉(zhuǎn)向碳化硅(SiC),因?yàn)樗兄Z通過降低制造過程中的穿線缺陷密度來提高LED質(zhì)量(再次參見“了解高亮度LED褪色的原因”)。例如,最近,Cree推出了一系列高亮度LED,XLamp XB-D系列,基于SiC技術(shù)。歐司朗將該材料用于TOPLED系列中的部分產(chǎn)品。

其他開發(fā)包括完全分配SiC襯底和從塊狀I(lǐng)nGaN制造有源LED。因?yàn)閮煞N不同材料之間沒有晶格失配,所以穿透位錯(cuò)密度顯著降低。缺點(diǎn)是晶圓目前的成本約為使用傳統(tǒng)材料制造的晶圓的四倍,因此制造商不愿意將它們用于價(jià)格敏感的主流照明市場。

當(dāng)新的LED只是挑戰(zhàn)的一部分時(shí),小心選擇LED。設(shè)計(jì)工程師使用LED的方式會影響螺旋位錯(cuò)隨時(shí)間的增加,從而可能增加泄漏電流并加速設(shè)備的最終消亡。

研究反向偏置

正如名稱所示,LED是一種二極管形式。這些器件具有有趣的電壓電流關(guān)系(圖3)。在正常操作中,施加足夠幅度(》 Vd)的恒定正向電壓(通常使LED與電阻器串聯(lián)),使得器件在其導(dǎo)電區(qū)域中操作。重要的是要小心控制正向電壓,因?yàn)槌^導(dǎo)通電壓,小的波動會引起正向電流,光強(qiáng)度和功耗的顯著變化。

如何減緩LED的劣化情況,延遲電池使用壽命

圖3:二極管電壓與電流特性。

圖4顯示了商業(yè)高亮度LED的正向電壓與正向電流的細(xì)節(jié),在這種情況下為60 lm/W Seoul Semiconductor器件。從圖中可以看出,導(dǎo)通開始于2.5 V左右。制造商建議使用3.6 V的典型正向電壓工作。

如何減緩LED的劣化情況,延遲電池使用壽命

圖4:商用高亮度LED的正向電壓與正向電流。 (由首爾半導(dǎo)體公司提供。)

就本文而言,主要關(guān)注領(lǐng)域是反向偏置條件下發(fā)生的情況。 (注意,與右側(cè)相比,圖3左側(cè)的刻度被放大,這就是原點(diǎn)周圍線路跳躍的原因。)最初,反向偏置電壓的大幅變化對反向影響不大偏置電流;在臨界電壓(稱為擊穿電壓或Vbr)下,電壓的進(jìn)一步微小變化會導(dǎo)致反向偏置電流急劇升高。然而,與正向偏置導(dǎo)通區(qū)域不同,擊穿區(qū)域中的操作將是短暫的,因?yàn)槠骷⒈粨p壞并且很快可能會災(zāi)難性地失效。

許多制造商沒有在數(shù)據(jù)表中指定擊穿電壓,因?yàn)樵谡J褂弥?,他們并不期望LED在反向偏置條件下工作。然而,有一些例外,特別是Cree。例如,對于其XLamp ML-B系列,該公司指出最大反向電壓為5 V.但是,LED制造商測試他們的新器件以確定漏電流和擊穿電壓。具有前者的高值和后者的低值的器件被廢棄,使得在所提供的器件中,LED反向偏置的容差盡可能寬。然而,事情會隨著時(shí)間的推移而發(fā)生變化,因?yàn)榧词乖贚ED正常運(yùn)行期間,螺紋位錯(cuò)也會成倍增加(如果芯片過熱則會急劇升級)。正如我們所看到的,更多的穿透位錯(cuò)會增加漏電流和非輻射復(fù)合。最終,光度下降到一個(gè)點(diǎn),當(dāng)新的和“故障”發(fā)生時(shí),它低于設(shè)備輸出的70%(參見TechZone文章“確定LED額定壽命:棘手的挑戰(zhàn)”)。

雖然褪色是導(dǎo)致LED失效的最常見原因,但并不是芯片遭受過多螺紋位錯(cuò)的唯一方法就會死亡。隨著時(shí)間的推移,新缺陷的出現(xiàn)改變了芯片的物理特性,與新器件相比,導(dǎo)致?lián)舸╇妷航档?。與漏電流的增加相結(jié)合,這具有降低安全操作和由于暴露于高反向電壓而導(dǎo)致的災(zāi)難性故障之間的閾值的效果。

泄漏電流很少發(fā)生在正常工作時(shí)超過反向偏置擊穿電壓的點(diǎn),但是弱電器件會受到電源電壓尖峰的反向偏置或靜電放電(ESD),可以被推到邊緣過早消亡。 

總結(jié)與建議

現(xiàn)代LED令人印象深刻設(shè)備,但他們有一個(gè)致命的跟腱。制造過程中產(chǎn)生的不可避免的微小結(jié)構(gòu)缺陷為電荷載體提供了通路,而不會影響光輸出。這些缺陷會隨著時(shí)間的推移而增加,進(jìn)一步降低光度,在最壞的情況下會導(dǎo)致過早失效。

LED制造商正在嘗試替代制造技術(shù)和材料,有些已經(jīng)發(fā)布了新產(chǎn)品中穿線位錯(cuò)較少的產(chǎn)品,但建議工程師在設(shè)計(jì)中加入足夠的預(yù)防措施,以限制缺陷的不可避免的影響。

首先,工程師從一家信譽(yù)良好的經(jīng)銷商那里購買產(chǎn)品是一個(gè)好主意。其次,LED應(yīng)在供應(yīng)商推薦的正向電壓下使用來自Fairchild Semiconductor和Diodes,Inc。等制造商的高質(zhì)量LED驅(qū)動電源工作。第三,工程師應(yīng)保護(hù)芯片免受機(jī)械應(yīng)力和ESD事件的影響。第四,工程師了解LED應(yīng)該充分冷卻應(yīng)該不足為奇。